包邮 X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门 自然科学 物理学 理论物 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

简体网页||繁体网页

☆☆☆☆☆

郑振环，李强 著

图书标签:

• X射线衍射
• Rietveld精修
• GSAS
• 多晶衍射
• 结构分析
• 材料物理
• 固体物理
• 晶体学
• 自然科学
• 物理学

店铺： 布克专营店

出版社： 中国建材工业出版社

ISBN：9787516014561

商品编码：24370461238

包装：平装-胶订

开本：16

出版时间：2016-06-01

商品参数

X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
	定价	45.80
	出版社	中国建材工业出版社
	版次	1
	出版时间	2016年06月
	开本	16开
	作者	郑振环，李强
	装帧	平装-胶订
	页数
	字数
	ISBN编码	9787516014561
	重量	194

内容介绍
　　Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

目录

第1章　Rietveld法结构精修

　1.1　Rietveld法结构精修发展概况

　1.2　Rietveld法基本原理

　1.3　参数修正顺序与结果判据

　　1.3.1　 参数修正的顺序

　　1.3.2　 精修的数值判据

　　1.3.3　 精修的图示判断

　1.4　精修过程出现的问题和对策

　1.5　Rietveld法结构精修的应用

　　1.5.1　 修正晶体结构

　　1.5.2　 相变研究和点阵常数测定

　　1.5.3　 物相定量分析

　　1.5.4　 晶粒尺寸和微应变测定

 

第2章　EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍

　2.1　GSAS软件简介

　2.2　EXPGUI-GSAS软件的安装

　2.3　EXPGUI-GSAS软件界面介绍

　　2.3.1　 菜单栏

　　2.3.2　 选项卡界面

　　2.3.3　 EXPGUI帮助内容

 

第3章　EXPGUI-GSAS结构精修起步

　3.1　精修前的准备工作

　　3.1.1　 衍射数据的测定

　　3.1.2　 衍射数据的转换

　　3.1.3　 初始结构的获取

　3.2　EXPGUI精修简单示例

　　3.2.1　 生成EXP文件

　　3.2.2　 精修过程

　　3.2.3　 常见问题

　3.3　精修结果提取与绘图

　　3.3.1　 精修结果提取

　　3.3.2　 精修图谱绘图

 

第4章　EXPGUI-GSAS提高练习

　4.1　仪器参数文件的建立

　　4.1.1　 基本知识

　　4.1.2　 操作过程

　4.2　物相（含非晶）定量分析

　　4.2.1　 基本原理

　　4.2.2　 衍射数据测试

　　4.2.3　 精修过程

　4.3　Le Bail法拟合以及约束的使用

　　4.3.1　 问题描述

　　4.3.2　 精修过程

探秘晶体结构：从理论到实践的X射线多晶衍射精修之旅 在浩瀚的科学星空中，材料科学和凝聚态物理无疑是闪耀的明星，它们深刻地影响着我们对物质世界的理解，并驱动着无数前沿技术的诞生。而X射线多晶衍射（XRD）技术，作为解析晶体材料微观结构的金标准，在这场探索之旅中扮演着至关重要的角色。它不仅是理解材料性能的基础，更是材料设计与优化的关键。然而，从原始的衍射图谱到精确的原子尺度结构信息，中间的转化过程并非一蹴而就，它需要严谨的理论指导和精湛的实验操作，更离不开强大而灵活的计算工具。 本书旨在带领您踏上一段系统而深入的X射线多晶衍射数据Rietveld精修之旅，特别侧重于GSAS（General Structure Analysis System）软件的应用。我们深知，对于初学者而言，Rietveld精修方法可能显得有些抽象和复杂，而GSAS软件本身也拥有庞大的功能体系，易于让人望而却步。因此，本书的设计初衷便是以一种清晰、循序渐进、理论与实践紧密结合的方式，帮助您掌握这一核心技能。我们希望通过本书，将抽象的理论转化为可操作的步骤，将复杂的软件功能转化为解决实际问题的工具，让您能够自信地运用X射线多晶衍射数据，揭示物质的奥秘。 Rietveld精修：从“看懂”到“说透”晶体结构 Rietveld精修方法，顾名思义，是一种通过拟合计算衍射图谱与实验测量衍射图谱来精确定量分析晶体结构参数的技术。它之所以强大，在于它并非仅仅从峰的位置和强度中提取信息，而是基于整个衍射谱的形状和轮廓，通过不断调整晶体结构模型中的各项参数，使得计算生成的衍射曲线与实验曲线达到最佳吻合。这个过程就好比一位经验丰富的侦探，通过观察现场所有的细微线索，最终重构出事件的真相，而非仅仅关注几个显眼的痕迹。 本书的第一部分将为您系统地梳理Rietveld精修的理论基础。我们将从X射线衍射的基本原理出发，深入探讨布拉格定律、衍射强度、晶格常数、晶体对称性等核心概念。您将理解为何晶体能够产生特征性的衍射图谱，以及这些图谱背后蕴含的丰富结构信息。随后，我们将详细讲解Rietveld精修方法的数学模型，包括如何描述衍射峰的形状、背景信号的校正、衍射强度的计算等。您将了解，Rietveld精修的核心是最小化实验数据与模型计算数据之间的差异，而这个过程需要一系列精密的数学算法来驱动。 但理论的学习离不开实践的检验。因此，本书将大量篇幅用于展示如何将这些理论知识应用于实际的Rietveld精修过程。我们将选取典型且具有代表性的晶体材料作为案例，从原始的XRD数据采集后的初步处理开始，逐步引导您完成数据的可视化、背景扣除、峰搜索与识别等基本操作。 GSAS软件：您的得力助手，从入门到精通 GSAS软件，作为Rietveld精修领域的“老牌劲旅”，以其强大的功能、高度的灵活性以及在科学界广泛的应用而闻名。它支持多种衍射技术，能够处理各种复杂的晶体结构问题，是无数科研工作者的首选工具。然而，对于初学者来说，GSAS庞大的菜单选项、众多的输入参数以及不同模块之间的协同工作，确实容易让人感到困惑。 本书正是为了解决这一难题而生。我们将GSAS软件的学习路径设计得清晰明了，从最基础的安装与界面介绍开始，一步步带您熟悉其核心功能模块。您将学习如何创建和编辑晶体结构模型，如何输入实验数据，以及如何设置精修参数。我们不会仅仅罗列软件的功能，而是将它们置于具体的精修任务中，让您在实践中理解每个选项的含义和作用。 您将学习到如何定义原子在晶胞中的位置、占位以及各向异性热振动参数。我们将详细讲解如何处理不同类型的晶体结构，包括简单立方、四方、六方、菱面体甚至更复杂的晶系。对于多相材料，您将掌握如何同时精修多个相的结构参数，以及如何定量计算各相的含量。 本书特别强调了GSAS软件在处理复杂衍射谱方面的能力。例如，您将学习如何处理由于晶粒细小、应变、织构等因素引起的衍射峰展宽和形状变化，并利用GSAS的相应功能进行建模和校正。对于一些特殊的衍射现象，如纳米晶材料的衍射特征、应变对衍射峰的影响等，我们也将提供相应的处理策略和GSAS应用技巧。 从数据到洞察：揭示晶体结构的精妙之处 Rietveld精修的最终目的，是通过优化模型参数，获得精确的晶体结构信息，并在此基础上深入理解材料的性能。本书将在GSAS软件操作的指导下，帮助您将精修得到的结构参数转化为有意义的科学结论。 您将学习如何解读精修报告，理解各项拟合优度指标（如Rwp, Rp, GoF）的意义，并学会判断精修结果的可靠性。我们将教会您如何从精修得到的原子坐标、占位、键长、键角、热振动参数等方面，深入分析材料的微观结构特征。例如，您将能够判断材料中是否存在固溶、有序-无序转变、晶格畸变等现象，并量化它们的程度。 本书还将探讨如何利用Rietveld精修结果，研究材料在不同条件下的结构演化。例如，您将学习如何通过精修不同温度、压力或气氛下的XRD数据，揭示材料的相变行为、热膨胀特性、应力应变响应等。这些信息对于理解材料的稳定性和设计新型功能材料至关重要。 超越基础，迎接挑战：高级应用与技巧 为了帮助您在Rietveld精修领域不断进步，本书的最后部分将触及一些更高级的应用和技巧。您将了解如何处理更为复杂的衍射谱，例如，包含非晶成分的材料、存在择优取向的样品、低维材料的衍射特征等。 我们将介绍如何利用GSAS软件进行晶体结构数据库的搜索与比对，如何从头解析晶体结构（ab initio structure solution），以及如何与其他结构分析软件进行协同工作。此外，您还将了解到如何进行衍射数据的不确定性评估，以及如何利用精修结果进行微观形貌和缺陷的表征。 本书旨在培养您独立解决实际问题的能力。我们提供的不仅仅是软件操作手册，更是一套科学的研究方法和思维模式。通过本书的学习，您将能够： 深刻理解X射线多晶衍射的原理及其在材料科学中的应用。 熟练掌握GSAS软件进行Rietveld精修的各项操作。 准确分析和解读Rietveld精修得到的晶体结构参数。 利用精修结果深入研究材料的微观结构与性能之间的关系。 为进一步探索更复杂的材料结构和衍射现象打下坚实基础。 无论您是物理学、化学、材料科学、地质学，还是相关工程领域的在读学生、科研人员，抑或是对晶体结构分析充满好奇的爱好者，本书都将是您在X射线多晶衍射数据Rietveld精修领域的理想入门读物和实用参考。让我们一同开启这段精彩的晶体结构探索之旅，用精确的科学方法，揭示物质世界隐藏的奥秘。

评分☆☆☆☆☆

最近对材料结构分析产生了浓厚的兴趣，尤其是多晶材料的微观结构信息，总觉得XRD是最直接、最有效的手段之一。在网上搜集资料时，Rietveld精修这个方法频繁出现，它似乎是理解和解析XRD图谱背后隐藏的晶体结构的关键。但相关的资料大多零散，而且门槛较高，对初学者不太友好。偶然间看到了这本书的书名——《包邮 X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》。这个书名非常有吸引力，不仅点出了核心技术（Rietveld精修），还点明了应用软件（GSAS），并且“入门”二字表明了它面向的读者群体。我最期待的是书中能够清晰地阐述Rietveld精修的理论基础，以及它如何通过拟合衍射峰来确定晶体结构参数。同时，对于GSAS软件，我希望它能从最基础的操作开始，比如如何建立一个模型，如何输入晶体结构信息，如何进行参数优化，以及如何解读精修得到的各种结果，比如晶格常数、原子位置、晶粒尺寸、微应变等等。

评分☆☆☆☆☆

这本书的封面设计倒是挺吸引人的，纯净的白色背景，加上一抹象征着科技的蓝色，书名“包邮 X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门”几个大字醒目地排列着，旁边点缀着一些抽象的衍射图谱线条，整体感觉既专业又不失现代感。我当时是被这个“包邮”两个字吸引了，心想，这个定价应该会很亲民吧。翻开目录，看到“X射线衍射”、“Rietveld精修”、“GSAS软件”这些字眼，虽然我不是这个领域的专业人士，但作为一名对材料科学和基础物理有一些兴趣的读者，总觉得学习一些实用的分析技术会很有帮助。这本书的定位是“自然科学 物理学 理论物”，听起来非常硬核，但“入门”两个字又给了一些信心，希望它能把复杂的理论讲得通俗易懂，让我这个门外汉也能窥探到其中的奥妙。我特别关注的是Rietveld精修这个部分，听名字就觉得很有技术含量，不知道这本书会如何讲解它的原理和应用。

评分☆☆☆☆☆

我是一名在读的研究生，平时做实验接触到XRD数据，但对于数据的精修和解读总是一知半解，尤其是Rietveld精修，一直觉得是理解晶体结构的重要手段，却苦于找不到合适的入门材料。市面上关于XRD的书籍不少，但很多要么过于理论化，要么侧重于实验操作，真正能系统讲解Rietveld精修并结合常用软件（比如GSAS）的还真不多。所以当我在书店看到这本《包邮 X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》时，就像看到了救星。它的书名直接点明了主题，并且“入门”两个字给了我很大的鼓励。我希望这本书能够详细地介绍Rietveld精修的基本原理，包括它的数学模型、参数的意义以及如何进行数据拟合。更重要的是，它应该提供详细的GSAS软件操作指南，从数据导入、模型建立、参数优化到结果分析，能够手把手地教我如何使用这个软件来处理我的XRD数据，最终得到有意义的晶体结构信息。

评分☆☆☆☆☆

我是一名在企业从事新材料研发的技术人员，日常工作中经常需要借助XRD来表征我们开发的新材料。虽然我们有专门的分析团队，但自己能够理解和掌握一些基础的数据分析方法，对于提升研发效率和指导实验方向非常重要。Rietveld精修是目前公认的解析多晶体结构信息最有效的手段之一，而GSAS软件又是广泛使用的精修工具。因此，当看到《包邮 X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》这本书时，我觉得它非常符合我的实际需求。我希望能在这本书中找到关于Rietveld精修的系统性讲解，特别是它在实际应用中可能遇到的各种问题和解决方案。同时，对于GSAS软件，我希望它能提供清晰、实用的操作指南，让我能够快速上手，并学会如何利用它来优化精修模型、评估精修结果的可靠性，甚至能够识别和处理一些常见的衍射峰异常现象。这本书的“包邮”以及“入门”的定位，让我觉得它非常务实，能够帮助我快速提升专业技能。

评分☆☆☆☆☆

作为一个对基础物理有着浓厚兴趣的爱好者，我对各种探测技术都抱有好奇心，其中X射线衍射（XRD）因其在材料科学、化学、地质学等领域的广泛应用而格外吸引我。然而，XRD数据分析的门道很深，尤其是Rietveld精修，总觉得它是一个高深莫测的领域。我希望这本《包邮 X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》能够成为我探索这个领域的敲门砖。我期待书中能够从最基本的X射线衍射原理讲起，逐步深入到Rietveld精修的理论框架，让我理解为什么这种方法能够如此精确地解析晶体结构。此外，书中提到的GSAS软件，我希望能够有详细的图文教程，指导我如何安装、配置以及使用它来处理XRD数据。我希望通过这本书的学习，能够让我独立地进行一些基础的Rietveld精修，理解精修报告中的各项参数，并能初步分析出样品的晶体结构信息，获得一种“知其然，也知其所以然”的满足感。