【現貨包郵】芯片驗證漫遊指南 從係統理論到UVM的驗證全視界 劉斌 路桑 芯片驗證工程師技術 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

簡體網頁||繁體網頁

☆☆☆☆☆

劉斌（路桑） 著

圖書標籤:

• 芯片驗證
• UVM
• 係統驗證
• FPGA驗證
• ASIC驗證
• 數字電路
• 劉斌
• 路桑
• 驗證工程師
• 電子工程

店鋪： 藍墨水圖書專營店

齣版社： 電子工業齣版社

ISBN：9787121339011

商品編碼：10019513775

齣版時間：2018-03-31

頁數：1

字數：1

                                 
               內容介紹        
    
    資深驗證專傢劉斌（路桑）嚮您全麵介紹芯片驗證，從驗證的理論，到SystemVerilog語言和UVM驗證方法學，再到高級驗證項目話題。這本綜閤性、實用性的驗證理論和編程方麵的圖書，針對芯片驗證領域不同級彆的驗證工程師，給齣由淺入深的技術指南：學習驗證理論來認識驗證流程和標準，學習SystemVerilog語言和UVM方法學來掌握目前主流的動態驗證技術，瞭解高級驗證話題在今後遇到相關問題時可以參考。
    
         作者介紹        
    
    劉斌（路桑）目前是Intel公司的資深驗證專傢。在Intel移動通信事業部主持驗證架構規劃和方法學研究，擔任過幾款億門級通信芯片的驗證經理角色。在工程領域之外，他在西安電子科技大學和西安交通大學客座講授芯片驗證課程。創辦的驗證技術訂閱號“路科驗證”，目前已有超過10000名的訂閱者。多次在設計驗證行業國際會議和展覽中發錶論文，並做瞭富有特色的演講。在西安交通大學取得微電子專業學士學位，在瑞典皇傢理工學院取得芯片設計專業碩士學位。
    

    

         目錄        

    
第1章  芯片驗證全視
    
  1.1  功能驗證簡介
    
  1.2  驗證的處境
    
    1.2.1  驗證語言的發展
    
    1.2.2  驗證麵臨的挑戰
    
  1.3  驗證能力的5個維度
    
    1.3.1  完備性
    
    1.3.2  復用性
    
    1.3.3  高效性
    
    1.3.4  高産齣
    
    1.3.5  代碼性能
    
  1.4  驗證的任務和目標
    
    1.4.1  按時保質低耗
    
    1.4.2  芯片研發與客戶反饋
    
    1.4.3  缺陷增長麯綫
    
  1.5  驗證的周期
    
    1.5.1  驗證周期中的檢查點
    
    1.5.2  功能詳述
    
    1.5.3  製定驗證計劃
    
    1.5.4  開發驗證環境
    
    1.5.5  調試環境和HDL文件
    
    1.5.6  迴歸測試
    
    1.5.7  芯片生産
    
    1.5.8  矽後係統測試
    
    1.5.9  逃逸分析
    
  1.6  本章結束語
    
第2章  驗證的策略
    
  2.1  設計的流程
    
    2.1.1  TLM模型的需求和ESL開發
    
    2.1.2  傳統的係統設計流程
    
    2.1.3  ESL係統設計流程
    
    2.1.4  語言的抽象級比較
    
    2.1.5  傳統的係統集成視角
    
    2.1.6  ESL係統集成視角
    
  2.2  驗證的層次
    
    2.2.1  模塊級
    
    2.2.2  子係統級
    
    2.2.3  芯片係統級
    
    2.2.4  矽後係統級
    
  2.3  驗證的透明度
    
    2.3.1  黑盒驗證
    
    2.3.2  白盒驗證
    
    2.3.3  灰盒驗證
    
  2.4  激勵的原則
    
    2.4.1  接口類型
    
    2.4.2  序列顆粒度
    
    2.4.3  可控性
    
    2.4.4  組件獨立性
    
    2.4.5  組閤自由度
    
  2.5  檢查的方法
    
  2.6  集成的環境
    
    2.6.1  驗證平颱
    
    2.6.2  待驗設計
    
    2.6.3  運行環境
    
    2.6.4  驗證管理
    
  2.7  本章結束語
    
第3章  驗證的方法
    
  3.1  動態仿真
    
    3.1.1  定嚮測試
    
    3.1.2  隨機測試
    
    3.1.3  基於覆蓋率驅動的隨機驗證
    
    3.1.4  基於TLM的隨機驗證
    
    3.1.5  斷言檢查
    
  3.2  靜態檢查
    
    3.2.1  語法檢查
    
    3.2.2  語義檢查
    
    3.2.3  跨時鍾域檢查
    
    3.2.4  形式驗證
    
  3.3  開發環境
    
    3.3.1  Vim開發環境
    
    3.3.2  商業SV開發環境——DVT
    
  3.4  虛擬模型
    
  3.5  硬件加速
    
  3.6  效能驗證
    
    3.6.1  功率和能量
    
    3.6.2  靜態功耗和動態功耗
    
    3.6.3  節能技術
    
    3.6.4  效能驗證
    
    3.6.5  功耗預測與優化
    
  3.7  性能驗證
    
    3.7.1  設定目標
    
    3.7.2  測試環境
    
    3.7.3  驗證方法
    
  3.8  趨勢展望
    
    3.8.1  技術之間的橫嚮跨越
    
    3.8.2  層次之間的縱嚮復用
    
  3.9  本章結束語
    
第4章  驗證的計劃
    
  4.1  計劃概述
    
  4.2  計劃的內容
    
    4.2.1  技術的視角
    
    4.2.2  項目的視角
    
  4.3  計劃的實現
    
    4.3.1  邀請相關人員
    
    4.3.2  開會討論
    
    4.3.3  確定測試場景
    
    4.3.4  創建驗證環境
    
  4.4  計劃的進程評估
    
    4.4.1  迴歸測試通過率
    
    4.4.2  代碼覆蓋率
    
    4.4.3  斷言覆蓋率
    
    4.4.4  功能覆蓋率
    
    4.4.5  缺陷麯綫
    
  4.5  本章結束語
    
第5章  驗證的管理
    
  5.1  驗證周期的檢查清單
    
  5.2  驗證管理的三要素
    
    5.2.1  時間管理
    
    5.2.2  人力資源安排
    
    5.2.3  任務拆分和重組
    
  5.3  驗證的收斂
    
    5.3.1  迴歸流程
    
    5.3.2  迴歸質量
    
    5.3.3  迴歸效率
    
  5.4  讓漏洞無處可逃
    
  5.5  團隊建設
    
  5.6  驗證師的培養
    
    5.6.1  全矽能力
    
    5.6.2  不做假設
    
    5.6.3  專注力
    
    5.6.4  邏輯性
    
    5.6.5 “戰鼓光環”
    
    5.6.6  降低復雜度
    
  5.7  驗證的專業化
    
    5.7.1  對驗證的偏見
    
    5.7.2  驗證麵臨的現狀
    
    5.7.3  驗證標準化
    
    5.7.4  驗證經驗的積纍和突破
    
  5.8  本章結束語
    
第6章  驗證的結構
    
  6.1  測試平颱概述
    
  6.2  硬件設計描述
    
    6.2.1  功能描述
    
    6.2.2  設計結構
    
    6.2.3  接口描述
    
    6.2.4  接口時序
    
    6.2.5  寄存器描述
    
  6.3  激勵發生器
    
  6.4  監測器
    
  6.5  比較器
    
  6.6  驗證結構
    
    6.6.1  項目背景
    
    6.6.2  MCDF驗證進度安排
    
  6.7  本章結束語
    
第7章  SV環境構建
    
  7.1  數據類型
    
  7.2  模塊定義與例化
    
    7.2.1  模塊定義
    
    7.2.2  模塊例化
    
    7.2.3  參數使用
    
    7.2.4  參數修改
    
    7.2.5  宏定義
    
  7.3  接口
    
    7.3.1  接口連接方式1
    
    7.3.2  接口連接方式2
    
    7.3.3  接口的其他應用
    
  7.4  程序和模塊
    
    7.4.1  Verilog設計競爭問題
    
    7.4.2  SV的仿真調度機製
    
    7.4.3  module數據采樣示例1
    
    7.4.4  module數據采樣示例2
    
    7.4.5  program數據采樣示例
    
  7.5  測試的始終
    
    7.5.1  係統函數調用方式結束
    
    7.5.2  program隱式結束
    
    7.5.3  program顯式結束
    
  7.6  本章結束語
    
第8章  SV組件實現
    
  8.1  激勵發生器的驅動
    
    8.1.1  激勵驅動的方法
    
    8.1.2  任務和函數
    
    8.1.3  數據生命周期
    
    8.1.4  通過接口驅動
    
    8.1.5  測試嚮量産生
    
    8.1.6  仿真結束控製
    
  8.2  激勵發生器的封裝
    
    8.2.1  類的封裝
    
    8.2.2  類的繼承
    
    8.2.3  成員覆蓋
    
    8.2.4  虛方法
    
    8.2.5  句柄使用
    
    8.2.6  對象復製
    
    8.2.7  對象迴收
    
  8.3  激勵發生器的隨機化
    
    8.3.1  可隨機的激勵種類
    
    8.3.2  約束求解器
    
    8.3.3  隨機變量和數組
    
    8.3.4  約束塊
    
    8.3.5  隨機化控製
    
    8.3.6  隨機化的穩定性
    
    8.3.7  隨機化的流程控製
    
    8.3.8  隨機化的係統函數
    
  8.4  監測器的采樣
    
    8.4.1  Interface clocking簡介
    
    8.4.2  利用clocking事件同步
    
    8.4.3  利用clocking采樣數據
    
    8.4.4  利用clocking産生激勵
    
...............................
       

《現代電子係統設計與驗證》 前言 信息時代的飛速發展，驅動著電子係統的復雜度呈指數級增長。從智能手機到高性能計算，從物聯網設備到自動駕駛汽車，每一個現代科技的基石都離不開高度集成和精密設計的電子芯片。而確保這些芯片在交付前能夠可靠、高效地工作，則是芯片驗證工程師所肩負的重大使命。 《現代電子係統設計與驗證》一書，旨在為讀者構建一個全麵而深入的電子係統設計與驗證知識體係。本書並非聚焦於某個特定技術或方法論，而是力圖從宏觀到微觀，係統地闡述現代電子係統設計過程中所麵臨的關鍵挑戰，以及應對這些挑戰的有效驗證策略和技術。我們希望通過本書，能夠幫助工程師，無論是在校學生還是在職開發人員，都能建立起對電子係統驗證工作的深刻理解，並掌握解決實際問題的實用技能。 第一章：電子係統設計的演進與挑戰 本章將帶領讀者迴顧電子係統設計從早期邏輯門集成到現代超大規模集成電路（VLSI）的演進曆程。我們將探討摩爾定律的驅動力，以及隨之而來的工藝進步對設計復雜度帶來的影響。重點將放在介紹當前電子係統設計所麵臨的幾大核心挑戰： 日益增長的設計復雜度： 芯片上集成的晶體管數量已達數十億甚至上萬億。如何有效地管理和驗證如此龐大的設計，成為一個巨大的難題。 性能、功耗與麵積（PPA）的權衡： 在有限的資源下，如何在保證功能正確性的前提下，最大化芯片的性能，最小化功耗，並控製芯片麵積，是所有設計和驗證工作者必須麵對的權衡。 硬件與軟件的協同設計： 現代電子係統越來越強調軟硬件的深度融閤。軟件的需求直接影響硬件的設計，而硬件的特性也製約著軟件的實現。這種協同設計模式對驗證的整體性提齣瞭更高要求。 時序收斂與信號完整性： 隨著時鍾頻率的不斷攀升，時序的精確控製和信號在傳輸過程中的完整性變得至關重要。任何微小的偏差都可能導緻係統級的失效。 可靠性與安全性： 芯片不僅需要功能正確，還需要在各種環境和條件下保持可靠，並能抵禦潛在的安全威脅。故障注入、側信道攻擊等問題也逐漸成為驗證的關注點。 驗證成本與時間的壓力： 芯片設計的周期越來越短，而驗證工作往往占據瞭設計周期的絕大部分。如何提高驗證效率，縮短驗證周期，以應對快速的市場變化，是行業迫切需要解決的問題。 第二章：驗證的基本概念與流程 本章將深入闡述芯片驗證工作的基本原理和核心流程。我們將從驗證的定義齣發，解釋為什麼驗證是電子係統設計中不可或缺的一環。 驗證的本質： 驗證的核心在於證明設計是否滿足規範要求，並能在預期的使用場景下穩定工作。它是一個探索性的過程，旨在發現並修復設計中的缺陷。 驗證流程概覽： 我們將介紹一個典型的芯片驗證流程，包括： 需求分析與規範理解： 準確理解設計的功能需求和性能指標是驗證工作的基礎。 驗證計劃（Verification Plan）： 製定詳細的驗證計劃，明確驗證目標、策略、資源分配和時間錶。 驗證環境搭建： 構建一個能夠模擬真實工作場景、驅動被測設計（Design Under Test, DUT）並捕獲其輸齣的測試平颱。 測試用例（Test Cases）開發： 編寫能夠覆蓋設計功能和邊界條件的測試用例。 仿真與調試： 運行測試用例，通過仿真器觀察 DUT 的行為，並對發現的缺陷進行調試。 覆蓋率分析（Coverage Analysis）： 量化驗證的充分性，確保測試用例能夠有效地覆蓋設計的所有功能和邏輯。 迴歸測試（Regression Testing）： 在設計修改後，重復運行現有測試用例，確保修改沒有引入新的缺陷。 門級仿真與物理驗證： 最終在門級網錶和物理實現階段進行驗證，確保設計能夠成功流片。 驗證方法學： 簡要介紹不同的驗證方法學，例如基於測試嚮量的驗證、基於隨機測試的驗證（constrained-random verification）以及形式驗證（formal verification）等，並闡述它們各自的優缺點。 第三章：驗證環境的設計原則 一個高效、可維護的驗證環境是成功驗證的關鍵。本章將著重介紹驗證環境的設計原則和關鍵組成部分。 分層驗證架構： 講解如何通過分層設計來管理驗證環境的復雜性，例如將驗證環境劃分為事務級（transaction-level）、事件級（event-level）和信號級（signal-level）等。 驗證組件（Verification Components）： 介紹常用的驗證組件，包括： 激勵生成器（Stimulus Generator）： 負責生成各種輸入激勵，驅動 DUT。 監視器（Monitor）： 負責捕獲 DUT 的輸齣，並進行檢查。 檢查器（Checker）： 負責根據預期結果判斷 DUT 輸齣的正確性。 驅動器（Driver）： 負責將激勵信號傳遞給 DUT。 接收器（Receiver）： 負責接收 DUT 的輸齣信號。 參考模型（Reference Model）： 一個獨立於 DUT 的、高抽象級的模型，用於生成預期的輸齣結果，作為檢查器的參考。 接口協議的建模： 討論如何對各種常用的硬件接口協議（如 AHB, AXI, PCIe, USB, Ethernet 等）進行建模，以便驗證環境能夠準確地模擬這些協議的行為。 可重用性與可配置性： 強調驗證環境的可重用性和可配置性對於提高驗證效率的重要性，以及如何通過模塊化設計和參數化來實現。 協作與集成： 探討如何將不同的驗證組件集成到一個完整的驗證環境中，並實現團隊成員之間的協作。 第四章：先進的驗證技術與策略 本章將深入探討當前芯片驗證領域所使用的先進技術和策略，旨在提高驗證的效率和覆蓋率。 約束隨機驗證（Constrained-Random Verification, CRV）： 詳細介紹 CRV 的原理，包括約束、隨機化、序列和場景生成，以及如何有效地利用 CRV 來探索設計空間的各種可能狀態。 功能覆蓋率（Functional Coverage）： 闡述功能覆蓋率的重要性，介紹不同的覆蓋率類型（如選項覆蓋、狀態覆蓋、事務覆蓋等），以及如何編寫覆蓋率收集器來度量驗證的完備性。 斷言（Assertions）： 介紹斷言在驗證中的作用，包括其在屬性檢查（property checking）、異常檢測和調試中的應用。我們將探討不同類型的斷言語言（如 PSL, SVA）及其用法。 形式驗證（Formal Verification）： 簡要介紹形式驗證的概念，以及它在設計屬性證明、等價性檢查（equivalence checking）和靜態屬性檢查（static property checking）等方麵的優勢。 低功耗驗證（Low Power Verification）： 討論現代芯片設計中低功耗的重要性，以及如何在驗證階段考慮功耗優化，如時鍾門控（clock gating）、電源門控（power gating）和動態電壓頻率調整（DVFS）等。 混閤信號驗證（Mixed-Signal Verification）： 探討在包含模擬和數字部分的混閤信號芯片中進行驗證的挑戰，以及相關的驗證方法和工具。 基於模型驗證（Model-Based Verification）： 介紹如何利用抽象模型來加速驗證過程，特彆是在早期設計階段。 第五章：驗證中的調試技巧與實踐 調試是驗證工作中耗時最長、也最考驗工程師經驗的環節。本章將分享實用的調試技巧和最佳實踐。 理解仿真波形： 熟練掌握使用仿真器提供的波形工具，分析信號變化，定位問題根源。 斷點與單步執行： 有效利用仿真器提供的斷點和單步執行功能，觀察代碼執行流程。 變量查看與修改： 在調試過程中，學會查看和修改仿真變量，以驗證假設和加速問題定位。 日誌分析： 編寫詳細的日誌信息，幫助在仿真過程中記錄關鍵事件和變量狀態，便於事後分析。 代碼審查與靜態分析： 通過代碼審查和靜態分析工具，提前發現潛在的邏輯錯誤。 迴歸測試的價值： 強調迴歸測試在驗證中的作用，以及如何通過分析迴歸失敗的用例來快速定位新引入的問題。 團隊協作與知識共享： 鼓勵團隊成員之間的知識共享和協作，共同解決復雜的調試難題。 第六章：驗證與設計流程的集成 本章將探討如何將驗證工作無縫地集成到整個芯片設計流程中，實現設計與驗證的緊密協同。 可驗證性設計（Design for Verification, DFM）： 介紹在設計階段考慮可驗證性，如添加易於訪問的調試端口、狀態寄存器等。 IP（Intellectual Property）驗證： 討論如何對內部和第三方 IP 進行有效的驗證，並將其集成到頂層驗證環境中。 係統級驗證（System-Level Verification）： 探討在係統級彆進行驗證的重要性，包括在軟件原型、FPGA 原型或模擬環境中進行驗證。 與物理實現流程的銜接： 講解門級仿真、時序分析和功耗分析等與物理實現流程的關聯，確保設計能夠成功流片。 自動化工具的應用： 強調自動化工具在驗證流程中的重要作用，包括測試用例生成、仿真執行、覆蓋率收集和報告生成等。 結論 《現代電子係統設計與驗證》一書，旨在為讀者提供一個全麵、係統且實用的知識框架。我們相信，通過對本書內容的學習和實踐，讀者將能夠深刻理解現代電子係統驗證的挑戰，掌握先進的驗證技術和方法，並能有效地構建和執行驗證計劃，最終交付高質量、高可靠性的電子芯片。驗證工作不僅是對設計的審視，更是對創新驅動的科技進步的堅實保障。希望本書能成為每一位緻力於芯片開發工程師的寶貴參考。

評分☆☆☆☆☆

我是一名剛入行不久的芯片驗證新人，目前還在學習基礎知識的階段，對很多概念都處於摸索狀態。我購買這本書，主要是因為我希望能有一個係統性的學習路徑，能夠幫助我快速建立起紮實的驗證基礎。市麵上關於EDA和芯片設計的書籍很多，但很多都過於理論化，或者隻關注某個特定工具的使用，缺乏整體性。我希望這本書能夠從一個宏觀的角度，介紹芯片驗證的基本原理、方法論，以及行業內的發展趨勢。特彆是對於UVM這種業界主流的驗證平颱，我希望它能有詳細且易於理解的講解，讓我能夠快速上手。當然，我也希望書中能包含一些實際的項目經驗分享，或者一些學習建議，這樣我就能少走彎路，更高效地掌握這門技術。我特彆害怕那些隻會羅列概念，卻不給齣解釋和例子，導緻我看瞭也無法理解的書。所以，清晰的邏輯、循序漸進的講解，以及生動的案例，是我對這本書最大的期望。

評分☆☆☆☆☆

作為一名資深的技術愛好者，我對任何能夠深入探討某一領域核心技術的書籍都情有獨鍾。芯片驗證，作為一個高門檻、高技術含量的領域，一直是我關注的焦點。我購買這本書，是希望能夠深入瞭解其背後所蘊含的係統理論和工程實踐。我特彆關注那些能夠將理論與實際相結閤的書籍，希望它能夠不僅講解抽象的概念，更能提供具體的實現方法和工程經驗。我對書中對UVM的講解非常期待，希望它能夠超越一般的API介紹，深入分析UVM的設計理念、架構以及如何有效地利用它來構建復雜的驗證環境。我還希望書中能夠觸及一些更深層次的驗證策略，比如如何進行有效的覆蓋率分析、如何優化驗證效率、以及如何應對日益增長的驗證復雜度。如果這本書能夠提供一些關於驗證可復用性、可維護性的探討，那我將更加欣喜。我渴望從書中汲取新的靈感，不斷提升自己在技術理解上的深度和廣度。

評分☆☆☆☆☆

這本書我剛拿到手，迫不及待地翻閱起來，雖然我還沒來得及深入研究，但初步印象就非常深刻。這本書的裝幀設計我很喜歡，封麵有一種沉靜而專業的質感，拿在手裏感覺很實在。我特彆看重書籍的排版和印刷質量，這本書在這方麵做得相當齣色，字體清晰，間距適宜，閱讀起來眼睛不容易疲勞。我之前涉獵過一些硬件驗證相關的技術書籍，但總覺得碎片化，缺乏一個宏觀的視角。這本書的目錄和章節劃分，讓我隱隱感覺到它可能會填補我在這方麵的認知空白。我尤其關注那些能夠幫助我理解“為什麼”而不是僅僅“怎麼做”的書籍，希望這本書能夠提供更深層次的理論基礎和係統性的思考框架，讓我能從更高維度理解芯片驗證的本質和發展脈絡。我目前正在處理一個比較棘手的驗證問題，迫切需要一些新的思路和方法來突破瓶頸，這本書的齣現，無疑給我帶來瞭一綫希望。我希望它能引導我跳齣固有的思維模式，看到更廣闊的可能性。

評分☆☆☆☆☆

我是一名資深的芯片驗證工程師，從業多年，經曆過不少項目的起伏。在技術日新月異的今天，保持學習和更新知識庫是我的職業生存之道。我選擇閱讀一本書，往往是經過深思熟慮的，我會關注作者的背景、齣版機構的聲譽，以及書籍的口碑。這本書的作者名字我並不陌生，在行業內有一定的知名度。我最看重的，是書籍能否提供一些“乾貨”，能夠真正解決實際工作中遇到的痛點，或者能帶來一些顛覆性的認知。我尤其對那些能夠將復雜概念梳理清晰，並且提供具體實踐案例的書籍感興趣。我希望這本書能夠幫助我鞏固現有的知識體係，同時也能拓寬我的技術視野，讓我對未來的技術趨勢有更清晰的判斷。我非常期待書中能夠深入探討一些高級驗證技術，比如覆蓋率收斂的策略、形式驗證的應用、以及如何構建高效的驗證環境等等。如果這本書能提供一些經過驗證的“最佳實踐”，那對我來說將是無價的。

評分☆☆☆☆☆

我對芯片驗證領域一直充滿好奇，雖然我並非直接從事硬件開發，但作為一名軟件工程師，我深知底層技術的重要性，也對芯片的設計和驗證流程很感興趣。我購買這本書，更多的是想從一個更廣闊的視角來瞭解這個行業。我希望這本書能夠描繪齣芯片驗證工程師的工作全貌，包括他們所麵臨的挑戰、所使用的工具和方法，以及他們如何與設計團隊協作。我尤其對那些能夠解釋“為什麼”這樣做的書籍感興趣，比如為什麼需要驗證？驗證的目的是什麼？有哪些關鍵的驗證階段？我希望這本書能夠用相對通俗易懂的語言，將一些復雜的概念解釋清楚，讓我這個非專業人士也能有所收獲。我也希望書中能夠包含一些關於行業發展趨勢的探討，比如未來驗證技術會朝著哪個方嚮發展？人工智能會在芯片驗證中扮演什麼樣的角色？這些前沿話題的討論，對我理解整個科技生態非常有幫助。

評分☆☆☆☆☆

挺好的一套書，一本功能介紹，一本案例實踐

評分☆☆☆☆☆

圖錶設計分析的好書，有實戰圖文，強過電子錶格！

評分☆☆☆☆☆

數據可視化實戰看著內容很少，書很薄。

評分☆☆☆☆☆

很好可以學到知識

評分☆☆☆☆☆

初學，基本概念，感覺寫得很簡單。

評分☆☆☆☆☆

物流很迅速，書的質量不錯！

評分☆☆☆☆☆

紙質印刷和內容都不錯，郵寄速度也還行

評分☆☆☆☆☆

物流很迅速，書的質量不錯！

評分☆☆☆☆☆

物流很迅速，書的質量不錯！