電子元器件失效分析技術恩雲飛來萍李少平編科技書籍 pdf epub mobi txt 電子書下載 2025

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恩雲飛著，恩雲飛譯

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店鋪：文軒網旗艦店

齣版社：電子工業齣版社

ISBN：9787121272301

版次：1

商品編碼：10062407257

叢書名：可靠性技術叢書

開本：16開

齣版時間：2015-10-01

頁數：453

字數：619000

具體描述

作者:恩雲飛,來萍,李少平編著定價:98 齣版社:電子工業齣版社齣版日期:2015年10月01日頁數:453 裝幀:平裝 ISBN:9787121272301 ●篇電子元器件失效分析概論
●第1章電子元器件可靠性（2）
●1.1電子元器件可靠性基本概念（2）
●1.1.1纍積失效概率（2）
●1.1.2瞬時失效率（3）
●1.1.3壽命（5）
●1.2電子元器件失效及基本分類（6）
●1.2.1按失效機理的分類（7）
●1.2.2按失效時間特徵的分類（7）
●1.2.3按失效後果的分類（8）
●參考文獻（8）
●第2章電子元器件失效分析（9）
●2.1失效分析的作用和意義（9）
●2.1.1失效分析是提高電子元器件可靠性的必要途徑（9）
●2.1.2失效分析在工程中有具有重要的支撐作用（10）
●2.1.3失效分析會産生顯著的經濟效益（10）
●2.1.4小結（11）
●2.2開展失效分析的基礎（11）
●2.2.1具有電子元器件專業基礎知識（11）
●2.2.2瞭解和掌握電子元器件失效機理（12）
●部分目錄

內容簡介

本書係統地介紹瞭電子元器件失效分析技術。全書共19章。靠前篇電子元器件失效分析概論，分兩章介紹瞭電子元器件可靠性及失效分析概況；第二篇失效分析技術，用7章的篇幅較為詳細地介紹瞭失效分析中常用的技術手段，包括電測試、顯微形貌分析、顯微結構分析、物理性能探測、微區成分分析、應力試驗和解剖製樣等技術；第三篇電子元器件失效分析方法和程序，介紹瞭通用元件、機電元件、分立器件與集成電路、混閤集成電路、半導體微波器件、闆級組件和電真空器件共7類元器件的失效分析方法和程序；第四篇電子元器件失效預防有3章內容，包括電子元器件失效模式及影響分析方法(FMEA)、電子元器件故障樹分析(FTA)和工程應用中電子元器件失效預防。
本書是作者總結多年的研究等
恩雲飛,來萍,李少平編著恩雲飛，工業和信息化部電子第五研究所研究員，中國電子學會可靠性分會委員，中國電子學會真空電子分會委員，中國電子學會第八屆理事會青年與誌願者工作委員會委員，廣東省電子學會理事，《失效分析與預防》編委會委員，長期從事電子元器件可靠性工作，在電子元器件可靠性物理、評價及試驗方法等方麵取得顯著研究成果，先後獲省部級科技奬勵10項，發錶學術論文40餘篇，申請及授權國傢發明專利10餘項。