微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲 pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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中國標準齣版社第四編輯室 編

圖書標籤:

• 微電路
• 集成電路
• 測試
• 標準
• 電子工程
• 半導體
• 基礎
• 規範
• 教材
• 工業標準

齣版社： 中國標準齣版社

ISBN：9787506648011

版次：1

商品編碼：11126850

開本：16開

齣版時間：2008-02-01

頁數：587

內容簡介

　　為便於廣大讀者查閱和使用微電路國傢標準，我社編輯齣版《微電路國傢標準匯編》，匯編收入截至2007年底前發布實施的國傢標準，分兩捲齣版。《微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲》共收集有關國傢標準23項。本匯編在使用時應讀者注意以下兩點：收入標準的齣版年代不盡相同，對於其中的量和單位不統一之處及各標準格式不一緻之處未做改動。本匯編收集的國傢標準的屬性已在本目錄上標明（GB或GB/T），標準年號用四拉數字錶示。鑒於部分標準是在清理整頓前齣版的，現尚未修訂，故正文部分保留原樣。

前言/序言

微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲 前言 在日新月異的電子技術領域，微電路（或稱集成電路，IC）作為現代科技的基石，其重要性不言而喻。從智能手機到高性能計算機，從醫療設備到航空航天器，微電路無處不在，驅動著我們生活的方方麵麵。而要確保這些微電路的可靠性、性能和互操作性，製定和遵循統一的國傢標準至關重要。 《微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲》 正是這樣一本匯集瞭我國在微電路領域核心國傢標準的權威性著作。本書旨在為從事微電路設計、製造、測試、應用及相關研究的廣大科研人員、工程師、技術人員和學生提供一套全麵、係統、實用的國傢標準參考。本書內容緊密圍繞微電路的基礎理論、關鍵參數定義、性能指標以及常用的測試方法展開，力求為行業內的規範化發展提供堅實的技術支撐。 內容概述 本書分為兩個主要部分：基礎標準和測試方法標準。 第一部分：微電路基礎標準 本部分著重於微電路的定義、分類、關鍵參數的規範以及基本的設計與製造要求。這些基礎標準為理解和評估微電路的特性提供瞭統一的語言和度量衡。 1. 微電路基本術語與定義： 集成電路（IC）的定義與分類： 詳細闡述瞭集成電路的概念，並根據其功能、結構、製造工藝等對其進行瞭細緻分類。例如，區分瞭模擬集成電路、數字集成電路、混閤信號集成電路；單片集成電路、混閤集成電路；以及根據功能劃分的微處理器、微控製器、存儲器、專用集成電路（ASIC）、現場可編程門陣列（FPGA）等。 關鍵組件術語： 定義瞭半導體結、晶體管（MOSFET, BJT）、電阻器、電容器、電感器等微電路中的基本電子元件的標準化術語。 製造工藝術語： 涵蓋瞭光刻、刻蝕、薄膜沉積、離子注入、金屬化等微電路製造過程中的核心工藝術語，確保瞭在描述製造過程時具有一緻性和準確性。 封裝與引腳術語： 明確瞭半導體封裝的類型（如DIP, SOIC, QFP, BGA等）、引腳功能、封裝材料等相關術語。 2. 微電路性能參數規範： 直流參數： 詳細規定瞭直流電壓、直流電流、漏電流、驅動能力、輸入/輸齣電壓範圍、扇齣數等關鍵直流性能參數的定義、測量方法和閤格標準。例如，對於數字邏輯電路，會詳細定義高電平輸齣電壓（VOH）、低電平輸齣電壓（VOL）、高電平輸入電壓（VIH）、低電平輸入電壓（VIL）等。 交流參數： 涵蓋瞭上升時間、下降時間、傳播延遲、時鍾頻率、帶寬、增益帶寬積、瞬態響應等交流性能參數的定義和量化方法。這些參數對於評估電路的動態性能至關重要。 功耗參數： 規定瞭靜態功耗、動態功耗、待機功耗等功耗指標的定義和測量方法，為電源設計和能效評估提供瞭依據。 可靠性參數： 引入瞭平均無故障時間（MTTF/MTBF）、失效率、加速壽命試驗等可靠性評估相關的術語和方法。 環境參數： 明確瞭工作溫度範圍、存儲溫度範圍、濕度、抗振動、抗衝擊等環境適應性參數的定義和測試要求。 3. 微電路設計與製造基礎要求： 設計規則（DRC）和版圖規則（LVS）： 介紹瞭用於確保集成電路版圖正確性和物理可靠性的設計規則，以及版圖與電路原理圖的一緻性檢查（Layout Versus Schematic）的標準。 工藝兼容性： 規定瞭不同製造工藝之間兼容性的基本原則和要求，為多工藝流程的集成提供瞭指導。 可靠性設計原則： 強調瞭在電路設計階段就應考慮可靠性因素，例如避免應力集中、優化器件布局、采用冗餘設計等。 第二部分：微電路測試方法標準 本部分專注於微電路的各種測試方法，旨在為驗證微電路的設計、製造過程和最終産品質量提供一套科學、嚴謹、可重復的操作規程。 1. 通用測試方法： 直流參數測試： 詳細描述瞭如何使用直流電源、電壓錶、電流錶等設備，按照標準參數定義，對微電路進行直流性能的測量。包括開路、短路測試、漏電流測試、輸入/輸齣特性麯綫測量等。 交流參數測試： 闡述瞭使用函數發生器、示波器、邏輯分析儀、網絡分析儀等測試儀器，對微電路的動態性能進行測量的具體步驟和注意事項。例如，傳播延遲的測量、上升/下降時間的測量、帶寬的確定等。 功耗測試： 提供瞭測量靜態和動態功耗的詳細方法，包括不同工作模式下的功耗測量。 環境測試： 詳細介紹瞭溫度循環測試、高低溫儲存測試、濕度測試、振動測試、衝擊測試等環境適應性測試的標準操作規程。 2. 特定類型微電路的測試方法： 數字集成電路測試： 功能測試： 介紹瞭如何設計測試嚮量（test vectors）來驗證數字電路的邏輯功能是否符閤設計要求。 故障模型與故障仿真： 解釋瞭常見的數字電路故障模型（如單點故障、橋接故障）以及如何進行故障仿真以評估測試覆蓋率。 掃描鏈（Scan Chain）測試： 詳細介紹瞭掃描測試技術，這是一種提高數字電路可測試性的常用方法。 嵌入式邏輯分析（ELA）與片上測量（OCM）： 提供瞭用於實時監控和診斷片上電路行為的技術。 模擬集成電路測試： 增益、帶寬、噪聲係數測試： 描述瞭如何測量模擬電路的關鍵性能指標，如跨導、輸齣阻抗、噪聲係數、總諧波失真（THD）等。 綫性度與動態範圍測試： 介紹瞭評估模擬電路在不同信號幅度下錶現的測試方法。 頻率響應測試： 闡述瞭如何測量模擬電路的幅頻特性和相頻特性。 混閤信號集成電路測試： ADC/DAC測試： 詳細規定瞭模數轉換器（ADC）和數模轉換器（DAC）的綫性度、分辨率、采樣率、量化噪聲等關鍵參數的測試方法。 PLL/DLL測試： 提供瞭鎖相環（PLL）和延遲鎖定環（DLL）的鎖定範圍、抖動（Jitter）、相位噪聲等參數的測試方法。 存儲器測試： 基本讀/寫測試： 介紹瞭用於驗證存儲器單元功能的基本測試序列。 復雜測試模式： 提供瞭如March測試、Galerkin測試等用於檢測存儲器特定缺陷的測試算法。 訪問時間與數據保持能力測試： 規定瞭評估存儲器速度和數據穩定性的測試方法。 3. 測試設備與校準： 測試設備的選擇與要求： 提供瞭選擇閤適的測試設備（如ATE，參數測試儀，信號發生器等）應考慮的因素，以及設備的技術指標要求。 測試環境的要求： 明確瞭測試過程中對環境（如溫度、濕度、電磁乾擾）的要求，以確保測試結果的準確性。 設備校準與維護： 強調瞭定期校準和維護測試設備的重要性，以保證測量結果的可靠性和可追溯性。 4. 測試數據分析與報告： 測試數據的收集與記錄： 規定瞭測試數據記錄的格式和內容。 數據分析方法： 介紹瞭對測試數據進行統計分析、趨勢分析、閤格率計算等方法。 測試報告的編寫： 提供瞭測試報告應包含的關鍵要素，如測試目的、測試對象、測試設備、測試方法、測試結果、結論等，確保報告的完整性和清晰度。 本書特色與價值 權威性與規範性： 本書匯集瞭我國在微電路領域最權威的國傢標準，具有極高的參考價值和指導意義，是行業內開展工作不可或缺的依據。 係統性與全麵性： 從基礎概念到具體的測試方法，本書內容覆蓋瞭微電路評估的各個關鍵環節，為讀者構建瞭一個完整的知識體係。 實用性與可操作性： 本書不僅闡述瞭標準的內涵，更提供瞭詳細的測試步驟和方法，便於工程師在實際工作中直接應用。 前瞻性： 本書內容緊跟微電路技術發展的最新動態，所包含的標準也積極反映瞭行業內的最新共識。 適用讀者 從事微電路（集成電路）設計、製造、封裝、測試的工程師、技術人員。 從事微電路相關産品研發、質量控製、采購的專業人士。 高等院校電子工程、微電子學、集成電路設計等相關專業的教師和學生。 對微電路國傢標準感興趣的科研人員和行業研究者。 結語 《微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲》的齣版，是我國微電路行業標準化建設的重要裏程碑。我們期望本書能夠成為廣大從業者手中寶貴的工具書，幫助大傢深入理解微電路的國傢標準，提升微電路的整體技術水平和産品質量，從而有力推動我國集成電路産業的健康、快速發展。 免責聲明： 本簡介是對《微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲》一書內容進行的概述，旨在介紹本書的整體框架和核心價值。具體內容請以書中正式發布為準。

評分☆☆☆☆☆

這本書的齣現，真是讓我這種剛入行不久的電子工程師眼前一亮。我一直覺得，雖然我們每天都在跟各種芯片打交道，但對於它們的“齣身”和“規範”卻瞭解得不夠深入。特彆是微電路，它不像宏觀的機械零件那樣直觀，很多時候隻能依賴於供應商提供的 datasheet，但 datasheet 的側重點和詳細程度參差不齊，有時真的讓人摸不著頭腦。這本書的封麵就直接點齣瞭“國傢標準”，這一下子就給瞭我一種權威性和可信賴感。我一直覺得，一個行業如果沒有統一的標準，就像一群人說話卻各自說著不同的語言，效率低下，問題頻發。所以，我非常期待這本書能夠係統地介紹微電路領域的基礎知識，比如各種半導體材料的特性、集成電路的基本結構、製造工藝的原理等等。更重要的是，我特彆關注“測試方法”這部分。畢竟，一個設計再精妙的芯片，如果沒有可靠的測試手段來驗證其性能和可靠性，那都是空中樓閣。我希望書中能詳細介紹各種測試設備的操作方法、測試參數的意義、以及如何根據不同的應用場景選擇閤適的測試方案。比如，對於數字電路，是側重時序測試還是功能測試？對於模擬電路，如何確保其綫性度和噪聲指標？這些都是我在實際工作中經常遇到的睏惑，希望能在這本書裏找到清晰的解答。這本書的齣現，無疑為我提供瞭一個學習和提升的絕佳機會。

評分☆☆☆☆☆

這本《微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲》的齣現，對於我們這些長期從事微電子器件研發和工藝優化的工程師來說，無疑是一份珍貴的禮物。我們深知，一個行業的健康發展，離不開統一、權威的技術標準作為支撐。長期以來，我們在這方麵確實存在一些短闆，往往需要參考大量的國外資料，有時甚至難以找到完全適用的解決方案。這本書的“國傢標準”定位，讓我看到瞭我們國傢在微電路領域建立自主技術體係的決心和成果。我非常想瞭解，它在“基礎”部分，是如何係統地梳理和規範微電路的各項基礎知識和原理的。是否涵蓋瞭半導體物理、器件特性、電路設計理論等核心內容，並且這些內容是否得到瞭最新的技術發展和研究成果的支撐？我更關注的是“測試方法”部分，因為這直接關係到我們産品質量的保證和研發效率的提升。我希望書中能詳細介紹各種微電路測試的分類、目的、以及具體的測試流程和參數設置。比如，在器件級的特性測試，包括I-V麯綫、C-V麯綫、閾值電壓、跨導等參數的測量方法和判定標準。在電路級的性能測試，包括時序、功耗、噪聲、綫性度、穩定性等方麵的評估方法。此外，對於可靠性測試，如高溫高濕、溫度循環、電遷移等，書中是否能提供詳細的測試規程和評估準則？我相信，這本書的深入研究和實踐，必將對提升我們國傢微電路産業的整體技術水平起到至關重要的作用。

評分☆☆☆☆☆

說實話，拿到這本書之前，我並沒有對“國傢標準”這個詞抱有多大的期望。畢竟，很多時候“標準”往往意味著繁瑣、滯後，甚至有點“形式主義”。然而，當我在書店翻開這本《微電路國傢標準匯編：基礎及測試方法捲》時，我的看法開始轉變瞭。這本書的編排結構非常清晰，第一部分“基礎”部分，感覺是對微電路領域一個非常全麵且深入的梳理。它沒有停留在教科書式的理論講解，而是結閤瞭實際應用中的各種細節。例如，它可能詳細闡述瞭不同工藝製程下，晶體管的物理行為差異，以及這些差異如何影響電路的性能和功耗。我尤其期待的是，它能解釋清楚一些我們工程師在日常工作中經常忽略或者容易混淆的概念，比如襯底摻雜濃度、溝道長度調製效應、遷移率降落等，並給齣明確的量化指標和解釋。而“測試方法”部分，則是我更感興趣的部分。我希望它不僅僅是羅列各種測試儀器和技術，而是能深入講解每種測試方法的原理、適用範圍、以及如何根據被測對象的特性來選擇最優的測試策略。例如，對於電源完整性測試，是采用S參數分析還是時域反射計（TDR）？對於信號完整性，如何有效地進行眼圖測試和抖動分析？書中是否有具體的案例分析，能夠指導我們如何從海量的測試數據中提取有用的信息，快速定位問題，並提齣解決方案？這本書的價值，或許就在於它能夠幫助我們建立起一套係統、科學、並且具有中國特色的微電路設計和驗證體係。

評分☆☆☆☆☆

作為一個在電子行業摸爬滾打瞭十多年的老兵，我看到這本書的書名，腦海中閃過的第一個念頭就是——“終於有本像樣的東西瞭！” 這麼多年來，我們做的項目，從簡單的分立元件電路到復雜的SoC設計，微電路始終是核心。但說實話，很多時候我們都是在“摸著石頭過河”，或者完全依賴國外的資料和標準。那種感覺就像是在彆人的地盤上玩，總感覺不夠踏實。這本書，點明瞭“國傢標準”，這對於我們國內的電子産業發展來說，意義非凡。它意味著我們正在建立自己的體係，自己的話語權。我特彆想知道，這本書在“基礎”部分，是如何將我們國內的實際情況與國際通行的微電路原理相結閤的。是否涵蓋瞭最新一代的半導體技術，比如FinFET、GAAFET等，以及它們在材料、結構、設計和工藝上的最新進展？在“測試方法”部分，我更希望看到針對我們國內産業特點和需求製定的測試方案。比如，在成本控製和效率方麵，我們有哪些獨特的優勢和挑戰？書中是否能提供一些實用的、易於操作的測試流程，能夠指導工程師快速有效地完成芯片的驗證工作？我尤其對那些“非常規”的測試方法感興趣，比如在極端環境下的可靠性測試，或者一些針對特定應用的定製化測試。我相信，這本書的價值遠不止於一份技術手冊，它更是一個行業發展的裏程碑。

評分☆☆☆☆☆

作為一個對微電路設計和製造充滿好奇心的學生，看到這本書的書名，我立刻被吸引瞭。在學校裏，我們接觸到的微電路知識大多是基於國外經典的教材，雖然紮實，但總感覺離我們國傢實際的産業發展和技術標準有些距離。這本書的齣現，就像是為我們打開瞭一扇通往中國微電路“內部世界”的大門。我迫切地想知道，在“基礎”部分，這本書是如何定義和闡述微電路的“國傢標準”的？它是否涵蓋瞭從材料選擇、器件模型、到集成電路設計方法論等方方麵麵，並且這些標準是與我們國內的研發和生産能力相匹配的？我尤其期待的是，書中是否會詳細介紹不同類型的微電路，例如模擬、數字、射頻、功率IC等，它們各自遵循的國傢標準會有哪些側重點和區彆？而在“測試方法”部分，我更希望看到一些貼近實際應用的、能夠指導我們進行實驗和項目開發的具體內容。比如，如何正確使用示波器、邏輯分析儀、頻譜分析儀等測試儀器？在進行電路的功能驗證、性能評估、以及可靠性測試時，有哪些關鍵的指標需要關注？書中是否會提供一些典型的測試電路和測試流程，讓我們能夠邊學邊練，快速掌握微電路的測試技能？這本書，對我來說，不僅僅是一本學習資料，更是一個通往行業前沿的“指南針”。