微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

简体网页||繁体网页

☆☆☆☆☆

中国标准出版社第四编辑室 编

图书标签:

• 微电路
• 集成电路
• 测试
• 标准
• 电子工程
• 半导体
• 基础
• 规范
• 教材
• 工业标准

出版社： 中国标准出版社

ISBN：9787506648011

版次：1

商品编码：11126850

开本：16开

出版时间：2008-02-01

页数：587

内容简介

　　为便于广大读者查阅和使用微电路国家标准，我社编辑出版《微电路国家标准汇编》，汇编收入截至2007年底前发布实施的国家标准，分两卷出版。《微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷》共收集有关国家标准23项。本汇编在使用时应读者注意以下两点：收入标准的出版年代不尽相同，对于其中的量和单位不统一之处及各标准格式不一致之处未做改动。本汇编收集的国家标准的属性已在本目录上标明（GB或GB/T），标准年号用四拉数字表示。鉴于部分标准是在清理整顿前出版的，现尚未修订，故正文部分保留原样。

前言/序言

微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷 前言 在日新月异的电子技术领域，微电路（或称集成电路，IC）作为现代科技的基石，其重要性不言而喻。从智能手机到高性能计算机，从医疗设备到航空航天器，微电路无处不在，驱动着我们生活的方方面面。而要确保这些微电路的可靠性、性能和互操作性，制定和遵循统一的国家标准至关重要。 《微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷》 正是这样一本汇集了我国在微电路领域核心国家标准的权威性著作。本书旨在为从事微电路设计、制造、测试、应用及相关研究的广大科研人员、工程师、技术人员和学生提供一套全面、系统、实用的国家标准参考。本书内容紧密围绕微电路的基础理论、关键参数定义、性能指标以及常用的测试方法展开，力求为行业内的规范化发展提供坚实的技术支撑。 内容概述 本书分为两个主要部分：基础标准和测试方法标准。 第一部分：微电路基础标准 本部分着重于微电路的定义、分类、关键参数的规范以及基本的设计与制造要求。这些基础标准为理解和评估微电路的特性提供了统一的语言和度量衡。 1. 微电路基本术语与定义： 集成电路（IC）的定义与分类： 详细阐述了集成电路的概念，并根据其功能、结构、制造工艺等对其进行了细致分类。例如，区分了模拟集成电路、数字集成电路、混合信号集成电路；单片集成电路、混合集成电路；以及根据功能划分的微处理器、微控制器、存储器、专用集成电路（ASIC）、现场可编程门阵列（FPGA）等。 关键组件术语： 定义了半导体结、晶体管（MOSFET, BJT）、电阻器、电容器、电感器等微电路中的基本电子元件的标准化术语。 制造工艺术语： 涵盖了光刻、刻蚀、薄膜沉积、离子注入、金属化等微电路制造过程中的核心工艺术语，确保了在描述制造过程时具有一致性和准确性。 封装与引脚术语： 明确了半导体封装的类型（如DIP, SOIC, QFP, BGA等）、引脚功能、封装材料等相关术语。 2. 微电路性能参数规范： 直流参数： 详细规定了直流电压、直流电流、漏电流、驱动能力、输入/输出电压范围、扇出数等关键直流性能参数的定义、测量方法和合格标准。例如，对于数字逻辑电路，会详细定义高电平输出电压（VOH）、低电平输出电压（VOL）、高电平输入电压（VIH）、低电平输入电压（VIL）等。 交流参数： 涵盖了上升时间、下降时间、传播延迟、时钟频率、带宽、增益带宽积、瞬态响应等交流性能参数的定义和量化方法。这些参数对于评估电路的动态性能至关重要。 功耗参数： 规定了静态功耗、动态功耗、待机功耗等功耗指标的定义和测量方法，为电源设计和能效评估提供了依据。 可靠性参数： 引入了平均无故障时间（MTTF/MTBF）、失效率、加速寿命试验等可靠性评估相关的术语和方法。 环境参数： 明确了工作温度范围、存储温度范围、湿度、抗振动、抗冲击等环境适应性参数的定义和测试要求。 3. 微电路设计与制造基础要求： 设计规则（DRC）和版图规则（LVS）： 介绍了用于确保集成电路版图正确性和物理可靠性的设计规则，以及版图与电路原理图的一致性检查（Layout Versus Schematic）的标准。 工艺兼容性： 规定了不同制造工艺之间兼容性的基本原则和要求，为多工艺流程的集成提供了指导。 可靠性设计原则： 强调了在电路设计阶段就应考虑可靠性因素，例如避免应力集中、优化器件布局、采用冗余设计等。 第二部分：微电路测试方法标准 本部分专注于微电路的各种测试方法，旨在为验证微电路的设计、制造过程和最终产品质量提供一套科学、严谨、可重复的操作规程。 1. 通用测试方法： 直流参数测试： 详细描述了如何使用直流电源、电压表、电流表等设备，按照标准参数定义，对微电路进行直流性能的测量。包括开路、短路测试、漏电流测试、输入/输出特性曲线测量等。 交流参数测试： 阐述了使用函数发生器、示波器、逻辑分析仪、网络分析仪等测试仪器，对微电路的动态性能进行测量的具体步骤和注意事项。例如，传播延迟的测量、上升/下降时间的测量、带宽的确定等。 功耗测试： 提供了测量静态和动态功耗的详细方法，包括不同工作模式下的功耗测量。 环境测试： 详细介绍了温度循环测试、高低温储存测试、湿度测试、振动测试、冲击测试等环境适应性测试的标准操作规程。 2. 特定类型微电路的测试方法： 数字集成电路测试： 功能测试： 介绍了如何设计测试向量（test vectors）来验证数字电路的逻辑功能是否符合设计要求。 故障模型与故障仿真： 解释了常见的数字电路故障模型（如单点故障、桥接故障）以及如何进行故障仿真以评估测试覆盖率。 扫描链（Scan Chain）测试： 详细介绍了扫描测试技术，这是一种提高数字电路可测试性的常用方法。 嵌入式逻辑分析（ELA）与片上测量（OCM）： 提供了用于实时监控和诊断片上电路行为的技术。 模拟集成电路测试： 增益、带宽、噪声系数测试： 描述了如何测量模拟电路的关键性能指标，如跨导、输出阻抗、噪声系数、总谐波失真（THD）等。 线性度与动态范围测试： 介绍了评估模拟电路在不同信号幅度下表现的测试方法。 频率响应测试： 阐述了如何测量模拟电路的幅频特性和相频特性。 混合信号集成电路测试： ADC/DAC测试： 详细规定了模数转换器（ADC）和数模转换器（DAC）的线性度、分辨率、采样率、量化噪声等关键参数的测试方法。 PLL/DLL测试： 提供了锁相环（PLL）和延迟锁定环（DLL）的锁定范围、抖动（Jitter）、相位噪声等参数的测试方法。 存储器测试： 基本读/写测试： 介绍了用于验证存储器单元功能的基本测试序列。 复杂测试模式： 提供了如March测试、Galerkin测试等用于检测存储器特定缺陷的测试算法。 访问时间与数据保持能力测试： 规定了评估存储器速度和数据稳定性的测试方法。 3. 测试设备与校准： 测试设备的选择与要求： 提供了选择合适的测试设备（如ATE，参数测试仪，信号发生器等）应考虑的因素，以及设备的技术指标要求。 测试环境的要求： 明确了测试过程中对环境（如温度、湿度、电磁干扰）的要求，以确保测试结果的准确性。 设备校准与维护： 强调了定期校准和维护测试设备的重要性，以保证测量结果的可靠性和可追溯性。 4. 测试数据分析与报告： 测试数据的收集与记录： 规定了测试数据记录的格式和内容。 数据分析方法： 介绍了对测试数据进行统计分析、趋势分析、合格率计算等方法。 测试报告的编写： 提供了测试报告应包含的关键要素，如测试目的、测试对象、测试设备、测试方法、测试结果、结论等，确保报告的完整性和清晰度。 本书特色与价值 权威性与规范性： 本书汇集了我国在微电路领域最权威的国家标准，具有极高的参考价值和指导意义，是行业内开展工作不可或缺的依据。 系统性与全面性： 从基础概念到具体的测试方法，本书内容覆盖了微电路评估的各个关键环节，为读者构建了一个完整的知识体系。 实用性与可操作性： 本书不仅阐述了标准的内涵，更提供了详细的测试步骤和方法，便于工程师在实际工作中直接应用。 前瞻性： 本书内容紧跟微电路技术发展的最新动态，所包含的标准也积极反映了行业内的最新共识。 适用读者 从事微电路（集成电路）设计、制造、封装、测试的工程师、技术人员。 从事微电路相关产品研发、质量控制、采购的专业人士。 高等院校电子工程、微电子学、集成电路设计等相关专业的教师和学生。 对微电路国家标准感兴趣的科研人员和行业研究者。 结语 《微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷》的出版，是我国微电路行业标准化建设的重要里程碑。我们期望本书能够成为广大从业者手中宝贵的工具书，帮助大家深入理解微电路的国家标准，提升微电路的整体技术水平和产品质量，从而有力推动我国集成电路产业的健康、快速发展。 免责声明： 本简介是对《微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷》一书内容进行的概述，旨在介绍本书的整体框架和核心价值。具体内容请以书中正式发布为准。

评分☆☆☆☆☆

这本书的出现，真是让我这种刚入行不久的电子工程师眼前一亮。我一直觉得，虽然我们每天都在跟各种芯片打交道，但对于它们的“出身”和“规范”却了解得不够深入。特别是微电路，它不像宏观的机械零件那样直观，很多时候只能依赖于供应商提供的 datasheet，但 datasheet 的侧重点和详细程度参差不齐，有时真的让人摸不着头脑。这本书的封面就直接点出了“国家标准”，这一下子就给了我一种权威性和可信赖感。我一直觉得，一个行业如果没有统一的标准，就像一群人说话却各自说着不同的语言，效率低下，问题频发。所以，我非常期待这本书能够系统地介绍微电路领域的基础知识，比如各种半导体材料的特性、集成电路的基本结构、制造工艺的原理等等。更重要的是，我特别关注“测试方法”这部分。毕竟，一个设计再精妙的芯片，如果没有可靠的测试手段来验证其性能和可靠性，那都是空中楼阁。我希望书中能详细介绍各种测试设备的操作方法、测试参数的意义、以及如何根据不同的应用场景选择合适的测试方案。比如，对于数字电路，是侧重时序测试还是功能测试？对于模拟电路，如何确保其线性度和噪声指标？这些都是我在实际工作中经常遇到的困惑，希望能在这本书里找到清晰的解答。这本书的出现，无疑为我提供了一个学习和提升的绝佳机会。

评分☆☆☆☆☆

作为一个在电子行业摸爬滚打了十多年的老兵，我看到这本书的书名，脑海中闪过的第一个念头就是——“终于有本像样的东西了！” 这么多年来，我们做的项目，从简单的分立元件电路到复杂的SoC设计，微电路始终是核心。但说实话，很多时候我们都是在“摸着石头过河”，或者完全依赖国外的资料和标准。那种感觉就像是在别人的地盘上玩，总感觉不够踏实。这本书，点明了“国家标准”，这对于我们国内的电子产业发展来说，意义非凡。它意味着我们正在建立自己的体系，自己的话语权。我特别想知道，这本书在“基础”部分，是如何将我们国内的实际情况与国际通行的微电路原理相结合的。是否涵盖了最新一代的半导体技术，比如FinFET、GAAFET等，以及它们在材料、结构、设计和工艺上的最新进展？在“测试方法”部分，我更希望看到针对我们国内产业特点和需求制定的测试方案。比如，在成本控制和效率方面，我们有哪些独特的优势和挑战？书中是否能提供一些实用的、易于操作的测试流程，能够指导工程师快速有效地完成芯片的验证工作？我尤其对那些“非常规”的测试方法感兴趣，比如在极端环境下的可靠性测试，或者一些针对特定应用的定制化测试。我相信，这本书的价值远不止于一份技术手册，它更是一个行业发展的里程碑。

评分☆☆☆☆☆

这本《微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷》的出现，对于我们这些长期从事微电子器件研发和工艺优化的工程师来说，无疑是一份珍贵的礼物。我们深知，一个行业的健康发展，离不开统一、权威的技术标准作为支撑。长期以来，我们在这方面确实存在一些短板，往往需要参考大量的国外资料，有时甚至难以找到完全适用的解决方案。这本书的“国家标准”定位，让我看到了我们国家在微电路领域建立自主技术体系的决心和成果。我非常想了解，它在“基础”部分，是如何系统地梳理和规范微电路的各项基础知识和原理的。是否涵盖了半导体物理、器件特性、电路设计理论等核心内容，并且这些内容是否得到了最新的技术发展和研究成果的支撑？我更关注的是“测试方法”部分，因为这直接关系到我们产品质量的保证和研发效率的提升。我希望书中能详细介绍各种微电路测试的分类、目的、以及具体的测试流程和参数设置。比如，在器件级的特性测试，包括I-V曲线、C-V曲线、阈值电压、跨导等参数的测量方法和判定标准。在电路级的性能测试，包括时序、功耗、噪声、线性度、稳定性等方面的评估方法。此外，对于可靠性测试，如高温高湿、温度循环、电迁移等，书中是否能提供详细的测试规程和评估准则？我相信，这本书的深入研究和实践，必将对提升我们国家微电路产业的整体技术水平起到至关重要的作用。

评分☆☆☆☆☆

作为一个对微电路设计和制造充满好奇心的学生，看到这本书的书名，我立刻被吸引了。在学校里，我们接触到的微电路知识大多是基于国外经典的教材，虽然扎实，但总感觉离我们国家实际的产业发展和技术标准有些距离。这本书的出现，就像是为我们打开了一扇通往中国微电路“内部世界”的大门。我迫切地想知道，在“基础”部分，这本书是如何定义和阐述微电路的“国家标准”的？它是否涵盖了从材料选择、器件模型、到集成电路设计方法论等方方面面，并且这些标准是与我们国内的研发和生产能力相匹配的？我尤其期待的是，书中是否会详细介绍不同类型的微电路，例如模拟、数字、射频、功率IC等，它们各自遵循的国家标准会有哪些侧重点和区别？而在“测试方法”部分，我更希望看到一些贴近实际应用的、能够指导我们进行实验和项目开发的具体内容。比如，如何正确使用示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪等测试仪器？在进行电路的功能验证、性能评估、以及可靠性测试时，有哪些关键的指标需要关注？书中是否会提供一些典型的测试电路和测试流程，让我们能够边学边练，快速掌握微电路的测试技能？这本书，对我来说，不仅仅是一本学习资料，更是一个通往行业前沿的“指南针”。

评分☆☆☆☆☆

说实话，拿到这本书之前，我并没有对“国家标准”这个词抱有多大的期望。毕竟，很多时候“标准”往往意味着繁琐、滞后，甚至有点“形式主义”。然而，当我在书店翻开这本《微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷》时，我的看法开始转变了。这本书的编排结构非常清晰，第一部分“基础”部分，感觉是对微电路领域一个非常全面且深入的梳理。它没有停留在教科书式的理论讲解，而是结合了实际应用中的各种细节。例如，它可能详细阐述了不同工艺制程下，晶体管的物理行为差异，以及这些差异如何影响电路的性能和功耗。我尤其期待的是，它能解释清楚一些我们工程师在日常工作中经常忽略或者容易混淆的概念，比如衬底掺杂浓度、沟道长度调制效应、迁移率降落等，并给出明确的量化指标和解释。而“测试方法”部分，则是我更感兴趣的部分。我希望它不仅仅是罗列各种测试仪器和技术，而是能深入讲解每种测试方法的原理、适用范围、以及如何根据被测对象的特性来选择最优的测试策略。例如，对于电源完整性测试，是采用S参数分析还是时域反射计（TDR）？对于信号完整性，如何有效地进行眼图测试和抖动分析？书中是否有具体的案例分析，能够指导我们如何从海量的测试数据中提取有用的信息，快速定位问题，并提出解决方案？这本书的价值，或许就在于它能够帮助我们建立起一套系统、科学、并且具有中国特色的微电路设计和验证体系。