材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版 附光盘） [Introduction to Analytical Electron Microscopy] pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

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戎咏华 著

图书标签:

• 材料科学
• 电子显微学
• 分析技术
• 材料工程
• 显微结构
• TEM
• SEM
• 微观分析
• 第二版
• 科学研究

出版社： 高等教育出版社

ISBN：9787040413564

版次：2

商品编码：11658862

包装：平装

丛书名： 材料科学与工程著作系列

外文名称：Introduction to Analytical Electron Microscopy

开本：16开

出版时间：2015-01-01

用纸：胶版纸

页数：507

字数：6

内容简介

　　分析电子显微学是揭示材料介观和微观世界的有力手段，它能对材料显微组织的形貌、结构、成分进行三位一体的原位分析。《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版）》是材料科学与工程专业硕士研究生的教材。全书共分六章，其内容包括分析电子显微镜的构造及其功能、试样的制备方法、电子衍射花样的特征和标定方法、晶体衍射中的数学处理、电子衍射衬度运动学和动力学理论及其应用、高分辨和高空间分析电子显微术的原理和应用以及分析电子显微学的进展。
　　《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版）》是掌握分析电子显微术原理和应用的入门书，注重基本的物理概念和相关的数学推导，并通过实例来帮助读者理解，配以思考题和练习题使读者掌握重点。《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版）》配有电子课件和练习题参考答案光盘，便于教师授课。《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版）》也可作为在该领域学习和研究的科技人员的参考书。

内页插图

目录

绪论

第一章 分析电子显微镜的构造及其功能
1.1 电子波长和电磁透镜
1.1.1 电子波长
1.1.2 电磁透镜
1.2 构造及其特性
1.2.1 照明系统
1.2.2 多功能试样室
1.2.3 成像系统
1.2.4 图像观察与记录系统
1.2.5 真空和供电系统
1.2.6 仪器的计算机控制和分析数据的计算机处理
1.3 成像、变倍和衍射实现的原理
1.4 理论分辨本领极限
1.5 焦深和场深
参考文献

第二章 透射电子显微镜试样的制备方法
2.1 表面复型技术
2.1.1 一级复型
2.1.2 塑料一碳二级复型
2.1.3 抽取复型
2.2 粉末试样和薄膜试样的制备
2.2.1 粉末试样的制备
2.2.2 薄膜试样的制备
2.3 块体试样制成薄膜的技术
2.3.1 金属块体制成薄膜试样
2.3.2 无机非金属块体制成薄膜试样
2.3.3 高分子块体制成薄膜试样
2.3.4 聚焦离子束方法
参考文献

第三章 电子衍射
3.1 电子衍射与x射线衍射的比较
3.2 衍射产生的条件
3.2.1 几何条件
3.2.2 物理条件
3.3 电子衍射几何分析公式及相机常数
3.3.1 电子衍射仪中的衍射
3.3.2 透射电子显微镜中的衍射
3.4 选区电子衍射的原理及操作
3.5 多晶电子衍射花样及其应用
3.5.1 多晶电子衍射花样的产生及几何特征
3.5.2 多晶电子衍射花样的应用
3.6 单晶电子衍射花样及其应用
3.6.1 单晶电子衍射花样的几何特征和强度
3.6.2 单晶电子衍射花样的标定方法
3.6.3 单晶电子衍射花样的基本应用
3.7 大量平行层错的单晶电子衍射花样
3.7.1 平面缺陷的衍射
3.7.2 HCP结构的花样特征和层错概率的计算
3.7.3 FCC结构的花样特征和层错概率的计算
3.8 系统倾转技术及其应用
3.8.1 双倾台系统倾转技术
3.8.2 电子束方向的测定
3.8.3 重位点阵特征参数的测定
3.8.4 三维重构法确定物相
3.8.5 迹线分析方法
3.8.6 位向唯一性的确定
3.9 复杂电子衍射花样的特征和标定方法
3.9.1 具有取向关系的电子衍射花样
3.9.2 孪晶电子衍射花样
3.9.3 高阶劳厄花样
3.9.4 超点阵衍射花样
3.9.5 二次衍射花样
3.9.6 调幅结构的电子衍射花样
3.9.7 长周期结构的电子衍射花样
3.9.8 菊池电子衍射花样
参考文献

第四章 晶体衍射中的数学处理
4.1 取向关系的转换矩阵
4.1.1 基体任意位向下两相取向花样的预测
4.1.2 晶体在不同坐标下的晶向和晶面指数的转换矩阵
4.1.3 晶体间的重位点阵
4.1.4 孪晶关系的转换矩阵
4.2 取向关系的理论预测
4.2.1 原理和判据
4.2.2 FCC／BCC体系
4.2.3 HCP／BCC体系
4.2.4 HCP／FCC体系
4.3 晶体对称性引起的系统消光
4.3.1 对称元素及其对应操作的矩阵
4.3.2 宏观对称元素的组合规律
4.3.3 点群的推导和转换矩阵
4.3.4 点群、晶系和布拉维点阵之间的关系
4.3.5 空间群中的平移对称元素
4.3.6 等效点系
4.3.7 二维点阵、平面点群和平面群
4.3.8 电子衍射花样的对称性
4.3.9 系统消光
4.3.1 0 晶体对称性在结构分析中的应用举例
参考文献

第五章 电子衍射衬度成像
5.1 电子像衬度的分类及其成像方法
5.1.1 质厚衬度成像原理
5.1.2 衍射衬度成像原理
5.1.3 相位衬度成像原理
5.2 衍衬运动学理论
5.2.1 基本假设和近似处理
5.2.2 完整晶体衍衬的运动学方程
5.2.3 完整晶体运动学衍衬理论的实验验证
5.2.4 缺陷晶体衍衬的运动学理论及其应用
5.3 衍衬动力学理论（波动光学方程）
5.3.1 电子的散射及其交互作用
5.3.2 完整晶体衍衬动力学方程
5.3.3 完整晶体的动力学方程的解
5.3.4 厚度消光和弯曲消光
5.3.5 反常吸收效应
5.3.6 缺陷晶体衍衬动力学方程及其应用
5.3.7 缺陷晶体衍衬像的计算机模拟及其应用
参考文献

第六章 高分辨和高空间分析电子显微术
6.1 高分辨电子显微术
6.1.1 傅里叶变换与卷积理论
6.1.2 高分辨像形成过程描述的两个重要函数
6.1.3 弱相位体高分辨像的直接解释
6.1.4 高分辨像的多层法计算机模拟
6.1.5 高分辨像显示位错特征的方法
6.1.6 用高分辨像确定未知晶体结构的方法
6.2 会聚束电子衍射
6.2.1 各种衍射方式及其特点的比较
6.2.2 会聚束电子衍射花样的形成和特征
6.2.3 HOLZ线的指标化
6.2.4 会聚束电子衍射的应用举例
6.3 薄膜试样的X射线能谱分析
6.3.1 X射线固体探测器的原理
6.3.2 薄试样成分定量分析原理及特点
6.4 电子能量损失谱及其定量微观分析
6.4.1 电子能量损失谱仪
6.4.2 电子能量损失谱
6.4.3 电子过滤成像和衍射
6.5 分析电子显微学进展
6.5.1 负球差系数成像技术
6.5.2 定量扫描透射电子显微术
6.5.3 电子全息术
参考文献

附录1 物理常数和换算关系
附录2 晶体几何关系
附录3 立方晶体的晶面（或晶向）夹角表
附录4 面心立方、体心立方和密排六方标准电子衍射花样
附录5 面心立方、体心立方和密排六方高阶劳厄标准电子衍射花样
附录6 材料常见的几种结构
附录7 立方和六方晶系的极图（c／α=1.6 33）
附录8 立方晶体重位点阵特征参数之间的关系
附录9 电子的原子散射振幅
附录10 特征X射线的波长和能量表
附录11 用于电子能量损失谱的电子结合能表（EELS）
附录12 分析电子显微学的有关计算机软件
附录出处说明
思考题与练习题

材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版 附光盘） 简介 《分析电子显微学导论（第二版）》旨在为材料科学家、工程师、研究生以及所有对微观世界结构与性质分析感兴趣的研究人员提供一本全面而实用的参考书。本书深入浅出地介绍了分析电子显微学（AEM）的基本原理、技术方法及其在材料科学与工程领域的广泛应用。第二版在保留原有经典内容的基础上，针对近年来的技术发展和研究前沿进行了大量更新与充实，并新增了互动式教学的光盘资源，以期更好地服务于教学与科研实践。 本书共分为十五章，结构清晰，逻辑严谨，从基础理论到实际操作，层层递进。 第一篇：基础原理与仪器构成 第一章：电子显微学的基本概念： 本章首先回顾了光学显微镜与电子显微镜在分辨率和成像机制上的根本差异，引出电子作为探针在探测微观世界中的优势。接着，详细介绍了电子的波动性、电子与物质相互作用的多种方式，包括弹性散射、非弹性散射、透射、吸收以及产生次级信号等。这些基本物理过程是理解后续所有AEM技术的基础。 第二章：扫描电子显微镜（SEM）原理与技术： 本章详细阐述了SEM的工作原理，重点介绍了电子枪（如灯丝、场发射枪）的种类及其特性、电子束的聚焦与扫描系统、样品与电子束的相互作用区域以及二次电子（SE）、背散射电子（BE）等信号的产生机制和信息获取方式。同时，也探讨了SEM的分辨率限制因素和成像过程中的关键参数设置。 第三章：透射电子显微镜（TEM）原理与技术： 本章聚焦于TEM，深入讲解其成像原理，包括电子束的加速、聚焦、样品穿透以及成像透镜系统。详细阐述了明场像、暗场像的成像机制，以及衍衬成像、相衬成像等基本成像模式。此外，还介绍了TEM分辨率的极限及其提高方法。 第四章：电子显微镜的附件与辅助系统： 本章详细介绍了AEM中常用的各种附件和辅助系统，如真空系统、样品台（包括加热、冷却、倾斜、旋转功能）、探测器系统（如SE探测器、BE探测器、能量色散X射线谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）等）。对这些辅助系统的功能和操作进行说明，强调其对实验结果的影响。 第二篇：分析技术与数据采集 第五章：能量色散X射线谱仪（EDS）与波长色散X射线谱仪（WDS）分析： 本章是AEM中元素成分分析的核心内容。详细讲解了X射线产生机制、EDS和WDS的探测原理、能量分辨率和空间分辨率的差异。重点介绍了定性、半定量和定量成分分析的方法，包括峰识别、背景扣除、ZAF校正模型以及其应用局限性。 第六章：电子能量损失谱仪（EELS）分析： 本章深入探讨了EELS在材料分析中的独特优势。详细阐述了电子与样品相互作用产生的多种能量损失事件，如等离激元共振、带隙跃迁、内壳层激发等，以及它们对应的EELS谱。重点介绍了EELS在元素成分分析、化学态分析、价态分析、电子结构研究以及表面敏感性分析等方面的应用。 第七章：衍射衬度成像（Diffraction Contrast Imaging）与晶体结构分析： 本章详细讲解了TEM中利用电子衍射衬度成像技术分析材料的晶体缺陷，如位错、晶界、沉淀物等。介绍了布拉格衍射条件、衍衬成像的基本原理、单晶衍射花样和多晶衍射花样的解析方法，以及如何通过选择不同的衍射束获得不同衬度的图像，从而揭示微观结构的位向和缺陷分布。 第八章：高分辨透射电子显微镜（HRTEM）成像与原子尺度分析： 本章介绍了HRTEM成像技术，重点阐述了其分辨率如何突破传统TEM的限制，能够直接观察原子排列。详细讲解了原子平面衬度成像、晶格衬度成像的原理，以及如何通过图像模拟和解析来确定晶体结构、界面结构、表面结构和点缺陷等。 第九章：扫描透射电子显微镜（STEM）成像与分析： 本章介绍了STEM的工作模式及其在AEM中的独特地位。重点阐述了明场STEM、暗场STEM的成像原理，以及如何结合EDS和EELS进行多模态分析，实现纳米尺度甚至亚纳米尺度的元素分布和化学态分析。 第三篇：应用实例与前沿进展 第十章：表面与薄膜材料的分析： 本章通过具体的案例，展示了AEM在表面科学、薄膜制备与表征中的应用，例如半导体薄膜的界面结构分析、催化剂纳米颗粒的形貌与成分分析、涂层材料的失效机理研究等。 第十一章：金属材料与合金的微观结构分析： 本章聚焦于金属材料，讲解了AEM如何用于分析合金的相组织、晶粒尺寸、位错密度、析出相的形貌与成分，以及材料在热处理、变形等过程中的微观结构演变。 第十二章：陶瓷、玻璃与复合材料的分析： 本章探讨了AEM在非金属材料领域的应用，如陶瓷的晶界结构与性质、玻璃的纳米相分离、纤维增强复合材料的界面结合分析等。 第十三章：纳米材料与低维材料的表征： 本章重点介绍了AEM在纳米材料研究中的强大能力，例如量子点、纳米线、二维材料（如石墨烯、MoS2）的形貌、晶体结构、表面性质以及组成分布的精确表征。 第十四章：生物与软材料的分析： 本章拓展了AEM的应用范围，介绍了其在生物样品（如细胞、组织）和软材料（如聚合物、水凝胶）的制备与分析中的挑战与解决方案，以及如何获取微观结构和元素信息。 第十五章：分析电子显微学的新技术与发展趋势： 本章对AEM的未来发展进行了展望，介绍了例如原位AEM（加热、拉伸、电化学反应）、三维AEM（层析成像）、低能电子显微学、先进的像差校正技术以及机器学习在AEM数据分析中的应用等前沿技术。 光盘内容： 随书附赠的光盘包含丰富的多媒体资源，旨在增强学习的互动性和实践性。光盘内容包括： 高质量的AEM图像与视频库： 收录了大量来自实际研究的典型AEM图像和视频，涵盖了不同材料体系、不同分析技术的精彩案例。 模拟实验与操作指南： 提供虚拟实验环境，允许读者在计算机上模拟SEM和TEM的基本操作，学习仪器参数的设置与调整。 AEM软件工具与数据处理教程： 介绍常用的AEM数据处理软件，并提供详细的使用教程，指导读者如何对采集的EDS、EELS、衍射花样等数据进行分析和解释。 补充案例研究与文献链接： 提供更多深入的案例研究，并提供相关研究文献的链接，方便读者进一步查阅和学习。 《分析电子显微学导论（第二版）》以其系统性的理论阐述、丰富的实例分析和先进的光盘资源，必将成为材料科学与工程领域研究人员和学生不可或缺的参考工具。本书将帮助读者深刻理解分析电子显微学的精髓，并能熟练运用各种AEM技术解决实际材料问题。

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坦白说，我购买《分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》这本书，更多是出于一种“好奇心”和对未知领域的探索欲。我并非材料科学或工程领域的专业人士，我的工作更多是围绕着一些与材料相关的应用，比如某些电子元器件的失效分析，或者新材料在特定环境下的可靠性评估。在这些工作中，我经常会遇到一些“瓶颈”，感觉自己的分析能力受限于对材料微观世界的理解不足。我了解到，很多时候，材料的性能表现，无论是其强度、韧性、导电性还是耐腐蚀性，都与其微观的形貌、晶界、缺陷以及元素分布有着千丝万缕的联系。而“分析电子显微学”这个概念，对我来说就像打开了一个全新的视角，它似乎能够揭示那些肉眼无法看到，甚至普通显微镜也无法触及的精妙之处。这本书的“导论”性质，让我觉得它不会过于晦涩难懂，而是会循序渐进地引导读者进入这个领域。我尤其对书中可能包含的各种图像和案例分析很感兴趣，我希望能看到真实的电子显微照片，以及对这些照片的详细解读，比如一张SEM图像中，我能看到材料表面的粗糙度，但如果里面包含了EDS分析结果，我就能知道这些“粗糙”部分是由哪些元素构成的，这对我评估材料的表面处理效果非常有帮助。附带的光盘，我觉得是非常人性化的设计，我猜想里面或许会有一些关于如何操作显微镜、如何采集数据的视频教程，甚至是一些数据分析软件的演示，这对于我这样缺乏实践经验的“门外汉”来说，无疑是极大的帮助，能够让我更直观地理解那些抽象的理论知识。我希望能从这本书中获得一些启发，能够更好地理解我工作中遇到的各种材料问题，甚至能为我今后的职业发展提供新的方向。

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当我看到《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》这本书时，我的第一反应是“终于等到你了！”。作为一名材料性能测试领域的从业者，我经常需要解释材料为何会表现出某种特定的性能，而很多时候，答案就隐藏在材料的微观结构中。我常常需要将测试结果与微观形貌联系起来，例如，一个材料的断裂痕迹，到底是韧性断裂还是脆性断裂，这就需要借助SEM来观察断口形貌。而对于材料内部的成分分布，或者某个特定区域是否存在杂质，则需要更高级的分析手段。这本书的书名“分析电子显微学导论”，直接点明了它的核心内容，我期待它能为我提供一套系统的知识体系，让我能够更准确、更全面地理解和分析材料的微观世界。第二版的更新，意味着这本书的内容更加贴近当前的学术和技术前沿，这让我感到非常欣慰。而附带的光盘，更是大大增加了这本书的实用性，我希望里面能够有丰富的案例分析，例如，不同失效模式的材料，其在电子显微镜下的表现是怎样的，以及如何通过EDS、EELS等技术来确定失效原因。我希望能从这本书中学习到如何更有效地利用电子显微技术来解决实际问题，例如，分析材料的疲劳断裂机制，或者评估涂层的附着力。这本书的出现，将极大地提升我在材料性能分析领域的工作效率和专业水平。

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我一直对那些能够揭示事物本质的科学领域充满敬畏，而《分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》这本书，恰恰属于这类能够让我们窥探微观世界奥秘的学科。作为一名化工行业的研发人员，我常常需要研究催化剂、高分子材料以及各种功能性薄膜的微观结构和表面性质。传统的光学显微镜虽然有用，但对于纳米尺度的细节，对于原子级别的排列，却显得力不从心。我深知，材料的性能往往与其微观结构息息相关，例如，催化剂的活性很大程度上取决于其表面积和活性位点的分布，而这些都需要通过高分辨率的显微技术来观察和分析。这本书的“分析电子显微学”概念，正是我一直在寻找的。我希望它能深入浅出地讲解如何利用电子束与材料相互作用，从而获得丰富的微观信息。附带的光盘，让我觉得非常实用，我猜想里面会有一些高质量的电子显微图像，以及对这些图像进行分析的软件演示，甚至是一些不同材料在特定制备工艺下所呈现出的微观形貌的对比，这对于我理解不同工艺参数对材料微观结构的影响将非常有帮助。我特别关注书中关于晶体结构分析的部分，因为了解材料的晶体取向和晶界结构，对于理解其物理和化学性质至关重要。我希望这本书能够帮助我提升对材料微观世界的认知水平，从而在开发新型催化剂、优化高分子材料性能以及设计新型薄膜材料方面，取得更大的突破。这本书的出现，无疑为我的研究提供了强大的理论支持和技术指导。

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这本《分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》我早就听说过，一直想找机会深入了解一下，这次终于入手了，拿到手的感觉就觉得分量十足，纸张的质感也很不错，印刷清晰，排版也很合理，虽然还没完全细读，但随便翻翻，就能感受到作者在内容上的严谨和深入。我对电子显微学一直很有兴趣，尤其是在材料科学领域，很多微观结构的观察和分析都离不开它，这本书的书名就直击我的痛点，非常期待它能带我进入一个全新的微观世界，让我能够更清晰地理解材料的性能和制备过程之间的联系，比如在研发新型催化剂的时候，我们不仅需要知道催化剂的宏观活性，更需要了解其表面的微观形貌、晶体结构以及元素的分布情况，而这正是分析电子显微学能够提供的关键信息。而且，这本书还附带光盘，这一点非常实用，现代科技的发展离不开理论与实践的结合，光盘中的资料应该能大大提升学习的效率和深度，说不定会有模拟实验或者实际操作的视频演示，这对于初学者来说简直是福音，能够帮助我们快速掌握仪器的使用方法和数据分析的技巧，从而在实际工作中更快地应用到所学知识。我个人在过去的一些项目中，就曾经遇到过材料性能不稳定的问题，查阅了各种资料，但始终无法找到根本原因，如果当时有这本教程，我想我能更早地找到问题的症结所在，毕竟很多时候，问题的根源就隐藏在微观结构中。这本书的出现，无疑为我打开了一扇新的大门，让我有机会系统地学习和掌握这项重要的分析技术，从而在未来的科研道路上走得更远、更稳。我非常看重这类经典著作，它们往往凝聚了作者多年的心血和经验，能够帮助我们少走弯路，快速掌握核心知识，这本书的封面设计也比较简洁大气，符合学术著作的风格，整体感觉非常专业，让人对其内容充满了期待。

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作为一名刚踏入材料分析领域的研究生，对于《分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》这本书，我抱有极大的热情和期待。在我的导师推荐下，我了解到这本著作在业界有着很高的声誉，被认为是理解和掌握分析电子显微学这一关键技术的入门级必读。目前，我接触到的很多材料表征方法都涉及到微观层面的分析，例如SEM（扫描电子显微镜）和TEM（透射电子显微镜）的应用，但对于更深层次的元素分析、晶体结构解析以及缺陷表征，我仍然感到有些力不从心。这本书的书名“分析电子显微学导论”正是我目前最迫切需要的，它明确地指出了我学习的方向。我特别关注的是书中关于EDS（能量色散X射线谱仪）和EELS（电子能量损失谱仪）等分析技术的讲解，因为这些技术对于确定材料的元素组成和化学状态至关重要，而这些信息直接影响着材料的性能。我希望能通过这本书，不仅掌握理论知识，还能了解实际操作中的注意事项和数据解读的技巧。光盘的附加，更是让我看到了学习的便利性，我希望能通过光盘中的案例分析或模拟软件，来加深对各种分析技术的理解，例如，当我们在分析一种新型合金的微观结构时，不仅仅是看到形貌，还需要知道不同区域的元素含量，EDS就能提供这些信息，而EELS则能提供更精细的化学态信息，这对于理解材料的相分布和界面行为至关重要。这本书的出版历程也说明了其内容的权威性和稳定性，第二版的出现，说明它经过了时间的检验，并且在原有基础上进行了更新和完善，这让我更加信任其内容的价值。我希望这本书能够帮助我构建起扎实的分析电子显微学知识体系，为我未来的科研工作打下坚实的基础，尤其是在探索纳米材料的结构-性能关系方面，这本书的指导作用将是不可估量的。

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这本书《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》的出现，对于我来说，简直就是“及时雨”。我是一名在材料研发一线工作的工程师，经常需要面对各种新材料的开发和性能表征。在很多情况下，传统的宏观测试方法已经不足以完全解释材料的性能差异，我们需要深入到微观层面去探究其根源。我深知分析电子显微学是解决这些问题的关键技术之一，但过去我接触到的资料要么过于理论化，要么缺乏系统性。这本书的“导论”定位，让我看到了希望，我期望它能提供一个清晰的学习路径，从基础概念到高级应用。第二版的更新，意味着它能涵盖最新的技术进展，例如，在纳米材料的表征方面，很多新的技术和分析方法正在涌现，我希望这本书能够及时地将这些内容融入其中。附带的光盘，对我来说更是如虎添翼，我预计光盘中会有高质量的实验数据，以及如何进行数据分析的详细步骤，甚至是一些常用的软件操作指南。这对于我快速掌握这项技术，并在实际工作中加以应用，将提供极大的帮助。我尤其希望书中能够详细介绍如何利用SEM和TEM结合EDS/EELS进行多维度分析，例如，如何通过SEM观察材料的宏观形貌，然后通过TEM进行高分辨率成像，再结合EDS/EELS分析局部元素的分布和化学状态。这些信息对于我优化材料的制备工艺，提高材料的性能，至关重要。这本书的出现，将极大地提升我的工作能力和科研水平。

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拿到《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》这本书，我感到一种前所未有的期待。作为一名跨学科的研究者，我经常需要阅读来自不同领域的研究成果，而材料科学是其中非常重要的一部分。很多新材料的开发和应用，都离不开对其微观结构的深入理解。这本书的“导论”定位，让我觉得它能够为我提供一个系统性的框架，帮助我快速掌握分析电子显微学的基本概念和核心技术。我希望书中能够清晰地阐述电子显微镜的成像原理，以及不同类型的电子显微镜（如SEM、TEM）各自的优势和适用范围。同时，我也非常关注书中关于各种分析技术（如EDS、EELS、Electron Diffraction）的介绍，因为这些技术能够提供关于材料成分、晶体结构和电子状态的宝贵信息。第二版的更新，意味着这本书的内容能够反映最新的技术进展和研究热点，这对于我跟上学科前沿至关重要。附带的光盘，更是让我看到了学习的便利性，我希望光盘中能包含一些高质量的电子显微图像，以及用于数据分析的软件工具或教程，这能极大地提升我的学习效率和实践能力。我希望能通过这本书，能够更准确地解读其他研究者发表的基于电子显微学的研究成果，并且在自己的跨学科研究中，更好地运用这些技术来表征和分析所研究的材料。这本书为我提供了一个宝贵的学习资源，让我能够更自信地探索材料科学的奥秘。

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这本书《材料科学与工程著作系列：分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》在我看来，不仅仅是一本学术著作，更像是一把钥匙，能够开启通往材料微观世界的“大门”。作为一名在半导体行业工作多年的工程师，我深切体会到材料微观结构对器件性能的重要性。许多时候，一个微小的缺陷，一个不均匀的元素分布，都可能导致整个器件的失效，而这些问题往往隐藏在纳米级别甚至更小的尺度上。我一直希望能够系统地学习分析电子显微学，以便更深入地理解材料的内在机制，从而更好地指导产品设计和工艺优化。这本书的“第二版”意味着其内容经过了不断地迭代和更新，应该包含了最新的技术和研究进展，这对于我来说非常重要，能够让我跟上行业发展的步伐。而且，它还附带光盘，我预计光盘里会有更直观的学习材料，比如各种显微图像的数据库，不同材料在不同显微技术下的表现，甚至是模拟实验的操作流程，这对于提升学习效率和实践能力将是巨大的帮助。我非常期待书中能够详细介绍如何利用TEM进行高分辨率成像，如何通过EDS分析材料的局部元素成分，以及如何运用EELS来探测材料的电子结构和化学键信息。这些信息对于我理解金属互连线的可靠性，氧化层的质量，以及封装材料的相容性等方面，都将提供至关重要的洞察。我希望能通过这本书，将理论知识与实际应用紧密结合，从而在解决复杂的工程问题时，能够有更强的分析能力和更精准的判断。这本书的出现，填补了我知识体系中的一个重要空白，让我能够更自信地应对工作中遇到的各种挑战。

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收到《分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》这本书，感觉像拿到了一本通往未知领域的“藏宝图”。我本身不是直接从事材料科学研究的，但我对任何能够解释“为什么”的科学都抱有浓厚的兴趣。在阅读一些科技新闻或者科普文章时，我经常会看到关于“纳米科技”、“新型材料”的报道，其中总是离不开对微观结构的描述。而“分析电子显微学”这个词，对我来说，就像是一个神秘的咒语，它似乎能够揭示那些肉眼看不见的，但却至关重要的细节。这本书的“导论”性质，让我觉得它很适合像我这样有兴趣但缺乏基础的读者。我希望能通过这本书，了解电子显微镜是如何工作的，它是如何“看见”那些比头发丝还要细小的结构的。我尤其对书中可能会介绍的各种成像技术和分析方法很感兴趣，例如，电子衍射是如何帮助我们确定晶体结构的？X射线能谱分析又是如何告诉我们材料中含有哪些元素的？附带的光盘，我猜想里面应该会有一些动态的演示，比如电子束是如何扫描样品，如何产生图像，甚至是如何进行三维重建，这些视觉化的内容，对于帮助我理解抽象的物理过程，将是莫大的福音。我希望这本书能够满足我的好奇心，让我对材料科学有更深刻的认识，也能让我更好地理解那些前沿科技报道背后的科学原理。这本书为我打开了一个全新的认识世界的窗口。

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我一直认为，真正的科学魅力在于它能够揭示隐藏在表象之下的深刻道理，而《分析电子显微学导论（第二版 附光盘）》这本书，无疑就属于这类能够带我们窥探微观世界奥秘的著作。作为一名在表面工程领域工作的技术人员，我深知材料的表面性质对其整体性能的影响有多大。无论是涂层的附着力、耐磨性，还是材料的防腐蚀能力，都与表面的微观结构、成分以及缺陷息息相关。而“分析电子显微学”，听起来就有一种能够“洞察秋毫”的力量。这本书的“导论”性质，让我觉得它不会过于晦涩，而是会为我这个初学者打开一扇门。我特别期待书中能够介绍各种电子显微镜的工作原理，以及它们能够提供哪些类型的信息，比如，SEM是如何成像的？TEM又是如何观察材料内部结构的？我希望能看到书中包含丰富的实例，例如，不同类型的涂层在电子显微镜下的形貌是怎样的，它们是如何影响材料的性能的。附带的光盘，在我看来是非常重要的附加值，我猜想里面会有一些交互式的学习材料，比如虚拟的显微镜操作，或者对真实显微图像进行分析的演示，这对于我这样缺乏实践经验的人来说，将是极大的帮助，能够让我更直观地理解那些抽象的理论知识。我希望这本书能够帮助我提升对材料表面微观结构的认知水平，从而更好地指导我的工作，解决在表面工程领域遇到的各种挑战。

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很好 物流特别快 支持

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很好

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应该是正品！

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纸张像盗版～～～

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非常好的专业书籍

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应该是正品！

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书的质量不错，第二版了，相信错误会很少！