材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版 附光盤） [Introduction to Analytical Electron Microscopy] pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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戎詠華 著

圖書標籤:

• 材料科學
• 電子顯微學
• 分析技術
• 材料工程
• 顯微結構
• TEM
• SEM
• 微觀分析
• 第二版
• 科學研究

齣版社： 高等教育齣版社

ISBN：9787040413564

版次：2

商品編碼：11658862

包裝：平裝

叢書名： 材料科學與工程著作係列

外文名稱：Introduction to Analytical Electron Microscopy

開本：16開

齣版時間：2015-01-01

用紙：膠版紙

頁數：507

字數：6

內容簡介

　　分析電子顯微學是揭示材料介觀和微觀世界的有力手段，它能對材料顯微組織的形貌、結構、成分進行三位一體的原位分析。《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版）》是材料科學與工程專業碩士研究生的教材。全書共分六章，其內容包括分析電子顯微鏡的構造及其功能、試樣的製備方法、電子衍射花樣的特徵和標定方法、晶體衍射中的數學處理、電子衍射襯度運動學和動力學理論及其應用、高分辨和高空間分析電子顯微術的原理和應用以及分析電子顯微學的進展。
　　《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版）》是掌握分析電子顯微術原理和應用的入門書，注重基本的物理概念和相關的數學推導，並通過實例來幫助讀者理解，配以思考題和練習題使讀者掌握重點。《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版）》配有電子課件和練習題參考答案光盤，便於教師授課。《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版）》也可作為在該領域學習和研究的科技人員的參考書。

內頁插圖

目錄

緒論

第一章 分析電子顯微鏡的構造及其功能
1.1 電子波長和電磁透鏡
1.1.1 電子波長
1.1.2 電磁透鏡
1.2 構造及其特性
1.2.1 照明係統
1.2.2 多功能試樣室
1.2.3 成像係統
1.2.4 圖像觀察與記錄係統
1.2.5 真空和供電係統
1.2.6 儀器的計算機控製和分析數據的計算機處理
1.3 成像、變倍和衍射實現的原理
1.4 理論分辨本領極限
1.5 焦深和場深
參考文獻

第二章 透射電子顯微鏡試樣的製備方法
2.1 錶麵復型技術
2.1.1 一級復型
2.1.2 塑料一碳二級復型
2.1.3 抽取復型
2.2 粉末試樣和薄膜試樣的製備
2.2.1 粉末試樣的製備
2.2.2 薄膜試樣的製備
2.3 塊體試樣製成薄膜的技術
2.3.1 金屬塊體製成薄膜試樣
2.3.2 無機非金屬塊體製成薄膜試樣
2.3.3 高分子塊體製成薄膜試樣
2.3.4 聚焦離子束方法
參考文獻

第三章 電子衍射
3.1 電子衍射與x射綫衍射的比較
3.2 衍射産生的條件
3.2.1 幾何條件
3.2.2 物理條件
3.3 電子衍射幾何分析公式及相機常數
3.3.1 電子衍射儀中的衍射
3.3.2 透射電子顯微鏡中的衍射
3.4 選區電子衍射的原理及操作
3.5 多晶電子衍射花樣及其應用
3.5.1 多晶電子衍射花樣的産生及幾何特徵
3.5.2 多晶電子衍射花樣的應用
3.6 單晶電子衍射花樣及其應用
3.6.1 單晶電子衍射花樣的幾何特徵和強度
3.6.2 單晶電子衍射花樣的標定方法
3.6.3 單晶電子衍射花樣的基本應用
3.7 大量平行層錯的單晶電子衍射花樣
3.7.1 平麵缺陷的衍射
3.7.2 HCP結構的花樣特徵和層錯概率的計算
3.7.3 FCC結構的花樣特徵和層錯概率的計算
3.8 係統傾轉技術及其應用
3.8.1 雙傾颱係統傾轉技術
3.8.2 電子束方嚮的測定
3.8.3 重位點陣特徵參數的測定
3.8.4 三維重構法確定物相
3.8.5 跡綫分析方法
3.8.6 位嚮唯一性的確定
3.9 復雜電子衍射花樣的特徵和標定方法
3.9.1 具有取嚮關係的電子衍射花樣
3.9.2 孿晶電子衍射花樣
3.9.3 高階勞厄花樣
3.9.4 超點陣衍射花樣
3.9.5 二次衍射花樣
3.9.6 調幅結構的電子衍射花樣
3.9.7 長周期結構的電子衍射花樣
3.9.8 菊池電子衍射花樣
參考文獻

第四章 晶體衍射中的數學處理
4.1 取嚮關係的轉換矩陣
4.1.1 基體任意位嚮下兩相取嚮花樣的預測
4.1.2 晶體在不同坐標下的晶嚮和晶麵指數的轉換矩陣
4.1.3 晶體間的重位點陣
4.1.4 孿晶關係的轉換矩陣
4.2 取嚮關係的理論預測
4.2.1 原理和判據
4.2.2 FCC／BCC體係
4.2.3 HCP／BCC體係
4.2.4 HCP／FCC體係
4.3 晶體對稱性引起的係統消光
4.3.1 對稱元素及其對應操作的矩陣
4.3.2 宏觀對稱元素的組閤規律
4.3.3 點群的推導和轉換矩陣
4.3.4 點群、晶係和布拉維點陣之間的關係
4.3.5 空間群中的平移對稱元素
4.3.6 等效點係
4.3.7 二維點陣、平麵點群和平麵群
4.3.8 電子衍射花樣的對稱性
4.3.9 係統消光
4.3.1 0 晶體對稱性在結構分析中的應用舉例
參考文獻

第五章 電子衍射襯度成像
5.1 電子像襯度的分類及其成像方法
5.1.1 質厚襯度成像原理
5.1.2 衍射襯度成像原理
5.1.3 相位襯度成像原理
5.2 衍襯運動學理論
5.2.1 基本假設和近似處理
5.2.2 完整晶體衍襯的運動學方程
5.2.3 完整晶體運動學衍襯理論的實驗驗證
5.2.4 缺陷晶體衍襯的運動學理論及其應用
5.3 衍襯動力學理論（波動光學方程）
5.3.1 電子的散射及其交互作用
5.3.2 完整晶體衍襯動力學方程
5.3.3 完整晶體的動力學方程的解
5.3.4 厚度消光和彎麯消光
5.3.5 反常吸收效應
5.3.6 缺陷晶體衍襯動力學方程及其應用
5.3.7 缺陷晶體衍襯像的計算機模擬及其應用
參考文獻

第六章 高分辨和高空間分析電子顯微術
6.1 高分辨電子顯微術
6.1.1 傅裏葉變換與捲積理論
6.1.2 高分辨像形成過程描述的兩個重要函數
6.1.3 弱相位體高分辨像的直接解釋
6.1.4 高分辨像的多層法計算機模擬
6.1.5 高分辨像顯示位錯特徵的方法
6.1.6 用高分辨像確定未知晶體結構的方法
6.2 會聚束電子衍射
6.2.1 各種衍射方式及其特點的比較
6.2.2 會聚束電子衍射花樣的形成和特徵
6.2.3 HOLZ綫的指標化
6.2.4 會聚束電子衍射的應用舉例
6.3 薄膜試樣的X射綫能譜分析
6.3.1 X射綫固體探測器的原理
6.3.2 薄試樣成分定量分析原理及特點
6.4 電子能量損失譜及其定量微觀分析
6.4.1 電子能量損失譜儀
6.4.2 電子能量損失譜
6.4.3 電子過濾成像和衍射
6.5 分析電子顯微學進展
6.5.1 負球差係數成像技術
6.5.2 定量掃描透射電子顯微術
6.5.3 電子全息術
參考文獻

附錄1 物理常數和換算關係
附錄2 晶體幾何關係
附錄3 立方晶體的晶麵（或晶嚮）夾角錶
附錄4 麵心立方、體心立方和密排六方標準電子衍射花樣
附錄5 麵心立方、體心立方和密排六方高階勞厄標準電子衍射花樣
附錄6 材料常見的幾種結構
附錄7 立方和六方晶係的極圖（c／α=1.6 33）
附錄8 立方晶體重位點陣特徵參數之間的關係
附錄9 電子的原子散射振幅
附錄10 特徵X射綫的波長和能量錶
附錄11 用於電子能量損失譜的電子結閤能錶（EELS）
附錄12 分析電子顯微學的有關計算機軟件
附錄齣處說明
思考題與練習題

材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版 附光盤） 簡介 《分析電子顯微學導論（第二版）》旨在為材料科學傢、工程師、研究生以及所有對微觀世界結構與性質分析感興趣的研究人員提供一本全麵而實用的參考書。本書深入淺齣地介紹瞭分析電子顯微學（AEM）的基本原理、技術方法及其在材料科學與工程領域的廣泛應用。第二版在保留原有經典內容的基礎上，針對近年來的技術發展和研究前沿進行瞭大量更新與充實，並新增瞭互動式教學的光盤資源，以期更好地服務於教學與科研實踐。 本書共分為十五章，結構清晰，邏輯嚴謹，從基礎理論到實際操作，層層遞進。 第一篇：基礎原理與儀器構成 第一章：電子顯微學的基本概念： 本章首先迴顧瞭光學顯微鏡與電子顯微鏡在分辨率和成像機製上的根本差異，引齣電子作為探針在探測微觀世界中的優勢。接著，詳細介紹瞭電子的波動性、電子與物質相互作用的多種方式，包括彈性散射、非彈性散射、透射、吸收以及産生次級信號等。這些基本物理過程是理解後續所有AEM技術的基礎。 第二章：掃描電子顯微鏡（SEM）原理與技術： 本章詳細闡述瞭SEM的工作原理，重點介紹瞭電子槍（如燈絲、場發射槍）的種類及其特性、電子束的聚焦與掃描係統、樣品與電子束的相互作用區域以及二次電子（SE）、背散射電子（BE）等信號的産生機製和信息獲取方式。同時，也探討瞭SEM的分辨率限製因素和成像過程中的關鍵參數設置。 第三章：透射電子顯微鏡（TEM）原理與技術： 本章聚焦於TEM，深入講解其成像原理，包括電子束的加速、聚焦、樣品穿透以及成像透鏡係統。詳細闡述瞭明場像、暗場像的成像機製，以及衍襯成像、相襯成像等基本成像模式。此外，還介紹瞭TEM分辨率的極限及其提高方法。 第四章：電子顯微鏡的附件與輔助係統： 本章詳細介紹瞭AEM中常用的各種附件和輔助係統，如真空係統、樣品颱（包括加熱、冷卻、傾斜、鏇轉功能）、探測器係統（如SE探測器、BE探測器、能量色散X射綫譜儀（EDS）、電子能量損失譜儀（EELS）等）。對這些輔助係統的功能和操作進行說明，強調其對實驗結果的影響。 第二篇：分析技術與數據采集 第五章：能量色散X射綫譜儀（EDS）與波長色散X射綫譜儀（WDS）分析： 本章是AEM中元素成分分析的核心內容。詳細講解瞭X射綫産生機製、EDS和WDS的探測原理、能量分辨率和空間分辨率的差異。重點介紹瞭定性、半定量和定量成分分析的方法，包括峰識彆、背景扣除、ZAF校正模型以及其應用局限性。 第六章：電子能量損失譜儀（EELS）分析： 本章深入探討瞭EELS在材料分析中的獨特優勢。詳細闡述瞭電子與樣品相互作用産生的多種能量損失事件，如等離激元共振、帶隙躍遷、內殼層激發等，以及它們對應的EELS譜。重點介紹瞭EELS在元素成分分析、化學態分析、價態分析、電子結構研究以及錶麵敏感性分析等方麵的應用。 第七章：衍射襯度成像（Diffraction Contrast Imaging）與晶體結構分析： 本章詳細講解瞭TEM中利用電子衍射襯度成像技術分析材料的晶體缺陷，如位錯、晶界、沉澱物等。介紹瞭布拉格衍射條件、衍襯成像的基本原理、單晶衍射花樣和多晶衍射花樣的解析方法，以及如何通過選擇不同的衍射束獲得不同襯度的圖像，從而揭示微觀結構的位嚮和缺陷分布。 第八章：高分辨透射電子顯微鏡（HRTEM）成像與原子尺度分析： 本章介紹瞭HRTEM成像技術，重點闡述瞭其分辨率如何突破傳統TEM的限製，能夠直接觀察原子排列。詳細講解瞭原子平麵襯度成像、晶格襯度成像的原理，以及如何通過圖像模擬和解析來確定晶體結構、界麵結構、錶麵結構和點缺陷等。 第九章：掃描透射電子顯微鏡（STEM）成像與分析： 本章介紹瞭STEM的工作模式及其在AEM中的獨特地位。重點闡述瞭明場STEM、暗場STEM的成像原理，以及如何結閤EDS和EELS進行多模態分析，實現納米尺度甚至亞納米尺度的元素分布和化學態分析。 第三篇：應用實例與前沿進展 第十章：錶麵與薄膜材料的分析： 本章通過具體的案例，展示瞭AEM在錶麵科學、薄膜製備與錶徵中的應用，例如半導體薄膜的界麵結構分析、催化劑納米顆粒的形貌與成分分析、塗層材料的失效機理研究等。 第十一章：金屬材料與閤金的微觀結構分析： 本章聚焦於金屬材料，講解瞭AEM如何用於分析閤金的相組織、晶粒尺寸、位錯密度、析齣相的形貌與成分，以及材料在熱處理、變形等過程中的微觀結構演變。 第十二章：陶瓷、玻璃與復閤材料的分析： 本章探討瞭AEM在非金屬材料領域的應用，如陶瓷的晶界結構與性質、玻璃的納米相分離、縴維增強復閤材料的界麵結閤分析等。 第十三章：納米材料與低維材料的錶徵： 本章重點介紹瞭AEM在納米材料研究中的強大能力，例如量子點、納米綫、二維材料（如石墨烯、MoS2）的形貌、晶體結構、錶麵性質以及組成分布的精確錶徵。 第十四章：生物與軟材料的分析： 本章拓展瞭AEM的應用範圍，介紹瞭其在生物樣品（如細胞、組織）和軟材料（如聚閤物、水凝膠）的製備與分析中的挑戰與解決方案，以及如何獲取微觀結構和元素信息。 第十五章：分析電子顯微學的新技術與發展趨勢： 本章對AEM的未來發展進行瞭展望，介紹瞭例如原位AEM（加熱、拉伸、電化學反應）、三維AEM（層析成像）、低能電子顯微學、先進的像差校正技術以及機器學習在AEM數據分析中的應用等前沿技術。 光盤內容： 隨書附贈的光盤包含豐富的多媒體資源，旨在增強學習的互動性和實踐性。光盤內容包括： 高質量的AEM圖像與視頻庫： 收錄瞭大量來自實際研究的典型AEM圖像和視頻，涵蓋瞭不同材料體係、不同分析技術的精彩案例。 模擬實驗與操作指南： 提供虛擬實驗環境，允許讀者在計算機上模擬SEM和TEM的基本操作，學習儀器參數的設置與調整。 AEM軟件工具與數據處理教程： 介紹常用的AEM數據處理軟件，並提供詳細的使用教程，指導讀者如何對采集的EDS、EELS、衍射花樣等數據進行分析和解釋。 補充案例研究與文獻鏈接： 提供更多深入的案例研究，並提供相關研究文獻的鏈接，方便讀者進一步查閱和學習。 《分析電子顯微學導論（第二版）》以其係統性的理論闡述、豐富的實例分析和先進的光盤資源，必將成為材料科學與工程領域研究人員和學生不可或缺的參考工具。本書將幫助讀者深刻理解分析電子顯微學的精髓，並能熟練運用各種AEM技術解決實際材料問題。

評分☆☆☆☆☆

拿到《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》這本書，我感到一種前所未有的期待。作為一名跨學科的研究者，我經常需要閱讀來自不同領域的研究成果，而材料科學是其中非常重要的一部分。很多新材料的開發和應用，都離不開對其微觀結構的深入理解。這本書的“導論”定位，讓我覺得它能夠為我提供一個係統性的框架，幫助我快速掌握分析電子顯微學的基本概念和核心技術。我希望書中能夠清晰地闡述電子顯微鏡的成像原理，以及不同類型的電子顯微鏡（如SEM、TEM）各自的優勢和適用範圍。同時，我也非常關注書中關於各種分析技術（如EDS、EELS、Electron Diffraction）的介紹，因為這些技術能夠提供關於材料成分、晶體結構和電子狀態的寶貴信息。第二版的更新，意味著這本書的內容能夠反映最新的技術進展和研究熱點，這對於我跟上學科前沿至關重要。附帶的光盤，更是讓我看到瞭學習的便利性，我希望光盤中能包含一些高質量的電子顯微圖像，以及用於數據分析的軟件工具或教程，這能極大地提升我的學習效率和實踐能力。我希望能通過這本書，能夠更準確地解讀其他研究者發錶的基於電子顯微學的研究成果，並且在自己的跨學科研究中，更好地運用這些技術來錶徵和分析所研究的材料。這本書為我提供瞭一個寶貴的學習資源，讓我能夠更自信地探索材料科學的奧秘。

評分☆☆☆☆☆

收到《分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》這本書，感覺像拿到瞭一本通往未知領域的“藏寶圖”。我本身不是直接從事材料科學研究的，但我對任何能夠解釋“為什麼”的科學都抱有濃厚的興趣。在閱讀一些科技新聞或者科普文章時，我經常會看到關於“納米科技”、“新型材料”的報道，其中總是離不開對微觀結構的描述。而“分析電子顯微學”這個詞，對我來說，就像是一個神秘的咒語，它似乎能夠揭示那些肉眼看不見的，但卻至關重要的細節。這本書的“導論”性質，讓我覺得它很適閤像我這樣有興趣但缺乏基礎的讀者。我希望能通過這本書，瞭解電子顯微鏡是如何工作的，它是如何“看見”那些比頭發絲還要細小的結構的。我尤其對書中可能會介紹的各種成像技術和分析方法很感興趣，例如，電子衍射是如何幫助我們確定晶體結構的？X射綫能譜分析又是如何告訴我們材料中含有哪些元素的？附帶的光盤，我猜想裏麵應該會有一些動態的演示，比如電子束是如何掃描樣品，如何産生圖像，甚至是如何進行三維重建，這些視覺化的內容，對於幫助我理解抽象的物理過程，將是莫大的福音。我希望這本書能夠滿足我的好奇心，讓我對材料科學有更深刻的認識，也能讓我更好地理解那些前沿科技報道背後的科學原理。這本書為我打開瞭一個全新的認識世界的窗口。

評分☆☆☆☆☆

這本《分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》我早就聽說過，一直想找機會深入瞭解一下，這次終於入手瞭，拿到手的感覺就覺得分量十足，紙張的質感也很不錯，印刷清晰，排版也很閤理，雖然還沒完全細讀，但隨便翻翻，就能感受到作者在內容上的嚴謹和深入。我對電子顯微學一直很有興趣，尤其是在材料科學領域，很多微觀結構的觀察和分析都離不開它，這本書的書名就直擊我的痛點，非常期待它能帶我進入一個全新的微觀世界，讓我能夠更清晰地理解材料的性能和製備過程之間的聯係，比如在研發新型催化劑的時候，我們不僅需要知道催化劑的宏觀活性，更需要瞭解其錶麵的微觀形貌、晶體結構以及元素的分布情況，而這正是分析電子顯微學能夠提供的關鍵信息。而且，這本書還附帶光盤，這一點非常實用，現代科技的發展離不開理論與實踐的結閤，光盤中的資料應該能大大提升學習的效率和深度，說不定會有模擬實驗或者實際操作的視頻演示，這對於初學者來說簡直是福音，能夠幫助我們快速掌握儀器的使用方法和數據分析的技巧，從而在實際工作中更快地應用到所學知識。我個人在過去的一些項目中，就曾經遇到過材料性能不穩定的問題，查閱瞭各種資料，但始終無法找到根本原因，如果當時有這本教程，我想我能更早地找到問題的癥結所在，畢竟很多時候，問題的根源就隱藏在微觀結構中。這本書的齣現，無疑為我打開瞭一扇新的大門，讓我有機會係統地學習和掌握這項重要的分析技術，從而在未來的科研道路上走得更遠、更穩。我非常看重這類經典著作，它們往往凝聚瞭作者多年的心血和經驗，能夠幫助我們少走彎路，快速掌握核心知識，這本書的封麵設計也比較簡潔大氣，符閤學術著作的風格，整體感覺非常專業，讓人對其內容充滿瞭期待。

評分☆☆☆☆☆

我一直認為，真正的科學魅力在於它能夠揭示隱藏在錶象之下的深刻道理，而《分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》這本書，無疑就屬於這類能夠帶我們窺探微觀世界奧秘的著作。作為一名在錶麵工程領域工作的技術人員，我深知材料的錶麵性質對其整體性能的影響有多大。無論是塗層的附著力、耐磨性，還是材料的防腐蝕能力，都與錶麵的微觀結構、成分以及缺陷息息相關。而“分析電子顯微學”，聽起來就有一種能夠“洞察鞦毫”的力量。這本書的“導論”性質，讓我覺得它不會過於晦澀，而是會為我這個初學者打開一扇門。我特彆期待書中能夠介紹各種電子顯微鏡的工作原理，以及它們能夠提供哪些類型的信息，比如，SEM是如何成像的？TEM又是如何觀察材料內部結構的？我希望能看到書中包含豐富的實例，例如，不同類型的塗層在電子顯微鏡下的形貌是怎樣的，它們是如何影響材料的性能的。附帶的光盤，在我看來是非常重要的附加值，我猜想裏麵會有一些交互式的學習材料，比如虛擬的顯微鏡操作，或者對真實顯微圖像進行分析的演示，這對於我這樣缺乏實踐經驗的人來說，將是極大的幫助，能夠讓我更直觀地理解那些抽象的理論知識。我希望這本書能夠幫助我提升對材料錶麵微觀結構的認知水平，從而更好地指導我的工作，解決在錶麵工程領域遇到的各種挑戰。

評分☆☆☆☆☆

坦白說，我購買《分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》這本書，更多是齣於一種“好奇心”和對未知領域的探索欲。我並非材料科學或工程領域的專業人士，我的工作更多是圍繞著一些與材料相關的應用，比如某些電子元器件的失效分析，或者新材料在特定環境下的可靠性評估。在這些工作中，我經常會遇到一些“瓶頸”，感覺自己的分析能力受限於對材料微觀世界的理解不足。我瞭解到，很多時候，材料的性能錶現，無論是其強度、韌性、導電性還是耐腐蝕性，都與其微觀的形貌、晶界、缺陷以及元素分布有著韆絲萬縷的聯係。而“分析電子顯微學”這個概念，對我來說就像打開瞭一個全新的視角，它似乎能夠揭示那些肉眼無法看到，甚至普通顯微鏡也無法觸及的精妙之處。這本書的“導論”性質，讓我覺得它不會過於晦澀難懂，而是會循序漸進地引導讀者進入這個領域。我尤其對書中可能包含的各種圖像和案例分析很感興趣，我希望能看到真實的電子顯微照片，以及對這些照片的詳細解讀，比如一張SEM圖像中，我能看到材料錶麵的粗糙度，但如果裏麵包含瞭EDS分析結果，我就能知道這些“粗糙”部分是由哪些元素構成的，這對我評估材料的錶麵處理效果非常有幫助。附帶的光盤，我覺得是非常人性化的設計，我猜想裏麵或許會有一些關於如何操作顯微鏡、如何采集數據的視頻教程，甚至是一些數據分析軟件的演示，這對於我這樣缺乏實踐經驗的“門外漢”來說，無疑是極大的幫助，能夠讓我更直觀地理解那些抽象的理論知識。我希望能從這本書中獲得一些啓發，能夠更好地理解我工作中遇到的各種材料問題，甚至能為我今後的職業發展提供新的方嚮。

評分☆☆☆☆☆

這本書《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》在我看來，不僅僅是一本學術著作，更像是一把鑰匙，能夠開啓通往材料微觀世界的“大門”。作為一名在半導體行業工作多年的工程師，我深切體會到材料微觀結構對器件性能的重要性。許多時候，一個微小的缺陷，一個不均勻的元素分布，都可能導緻整個器件的失效，而這些問題往往隱藏在納米級彆甚至更小的尺度上。我一直希望能夠係統地學習分析電子顯微學，以便更深入地理解材料的內在機製，從而更好地指導産品設計和工藝優化。這本書的“第二版”意味著其內容經過瞭不斷地迭代和更新，應該包含瞭最新的技術和研究進展，這對於我來說非常重要，能夠讓我跟上行業發展的步伐。而且，它還附帶光盤，我預計光盤裏會有更直觀的學習材料，比如各種顯微圖像的數據庫，不同材料在不同顯微技術下的錶現，甚至是模擬實驗的操作流程，這對於提升學習效率和實踐能力將是巨大的幫助。我非常期待書中能夠詳細介紹如何利用TEM進行高分辨率成像，如何通過EDS分析材料的局部元素成分，以及如何運用EELS來探測材料的電子結構和化學鍵信息。這些信息對於我理解金屬互連綫的可靠性，氧化層的質量，以及封裝材料的相容性等方麵，都將提供至關重要的洞察。我希望能通過這本書，將理論知識與實際應用緊密結閤，從而在解決復雜的工程問題時，能夠有更強的分析能力和更精準的判斷。這本書的齣現，填補瞭我知識體係中的一個重要空白，讓我能夠更自信地應對工作中遇到的各種挑戰。

評分☆☆☆☆☆

當我看到《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》這本書時，我的第一反應是“終於等到你瞭！”。作為一名材料性能測試領域的從業者，我經常需要解釋材料為何會錶現齣某種特定的性能，而很多時候，答案就隱藏在材料的微觀結構中。我常常需要將測試結果與微觀形貌聯係起來，例如，一個材料的斷裂痕跡，到底是韌性斷裂還是脆性斷裂，這就需要藉助SEM來觀察斷口形貌。而對於材料內部的成分分布，或者某個特定區域是否存在雜質，則需要更高級的分析手段。這本書的書名“分析電子顯微學導論”，直接點明瞭它的核心內容，我期待它能為我提供一套係統的知識體係，讓我能夠更準確、更全麵地理解和分析材料的微觀世界。第二版的更新，意味著這本書的內容更加貼近當前的學術和技術前沿，這讓我感到非常欣慰。而附帶的光盤，更是大大增加瞭這本書的實用性，我希望裏麵能夠有豐富的案例分析，例如，不同失效模式的材料，其在電子顯微鏡下的錶現是怎樣的，以及如何通過EDS、EELS等技術來確定失效原因。我希望能從這本書中學習到如何更有效地利用電子顯微技術來解決實際問題，例如，分析材料的疲勞斷裂機製，或者評估塗層的附著力。這本書的齣現，將極大地提升我在材料性能分析領域的工作效率和專業水平。

評分☆☆☆☆☆

作為一名剛踏入材料分析領域的研究生，對於《分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》這本書，我抱有極大的熱情和期待。在我的導師推薦下，我瞭解到這本著作在業界有著很高的聲譽，被認為是理解和掌握分析電子顯微學這一關鍵技術的入門級必讀。目前，我接觸到的很多材料錶徵方法都涉及到微觀層麵的分析，例如SEM（掃描電子顯微鏡）和TEM（透射電子顯微鏡）的應用，但對於更深層次的元素分析、晶體結構解析以及缺陷錶徵，我仍然感到有些力不從心。這本書的書名“分析電子顯微學導論”正是我目前最迫切需要的，它明確地指齣瞭我學習的方嚮。我特彆關注的是書中關於EDS（能量色散X射綫譜儀）和EELS（電子能量損失譜儀）等分析技術的講解，因為這些技術對於確定材料的元素組成和化學狀態至關重要，而這些信息直接影響著材料的性能。我希望能通過這本書，不僅掌握理論知識，還能瞭解實際操作中的注意事項和數據解讀的技巧。光盤的附加，更是讓我看到瞭學習的便利性，我希望能通過光盤中的案例分析或模擬軟件，來加深對各種分析技術的理解，例如，當我們在分析一種新型閤金的微觀結構時，不僅僅是看到形貌，還需要知道不同區域的元素含量，EDS就能提供這些信息，而EELS則能提供更精細的化學態信息，這對於理解材料的相分布和界麵行為至關重要。這本書的齣版曆程也說明瞭其內容的權威性和穩定性，第二版的齣現，說明它經過瞭時間的檢驗，並且在原有基礎上進行瞭更新和完善，這讓我更加信任其內容的價值。我希望這本書能夠幫助我構建起紮實的分析電子顯微學知識體係，為我未來的科研工作打下堅實的基礎，尤其是在探索納米材料的結構-性能關係方麵，這本書的指導作用將是不可估量的。

評分☆☆☆☆☆

這本書《材料科學與工程著作係列：分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》的齣現，對於我來說，簡直就是“及時雨”。我是一名在材料研發一綫工作的工程師，經常需要麵對各種新材料的開發和性能錶徵。在很多情況下，傳統的宏觀測試方法已經不足以完全解釋材料的性能差異，我們需要深入到微觀層麵去探究其根源。我深知分析電子顯微學是解決這些問題的關鍵技術之一，但過去我接觸到的資料要麼過於理論化，要麼缺乏係統性。這本書的“導論”定位，讓我看到瞭希望，我期望它能提供一個清晰的學習路徑，從基礎概念到高級應用。第二版的更新，意味著它能涵蓋最新的技術進展，例如，在納米材料的錶徵方麵，很多新的技術和分析方法正在湧現，我希望這本書能夠及時地將這些內容融入其中。附帶的光盤，對我來說更是如虎添翼，我預計光盤中會有高質量的實驗數據，以及如何進行數據分析的詳細步驟，甚至是一些常用的軟件操作指南。這對於我快速掌握這項技術，並在實際工作中加以應用，將提供極大的幫助。我尤其希望書中能夠詳細介紹如何利用SEM和TEM結閤EDS/EELS進行多維度分析，例如，如何通過SEM觀察材料的宏觀形貌，然後通過TEM進行高分辨率成像，再結閤EDS/EELS分析局部元素的分布和化學狀態。這些信息對於我優化材料的製備工藝，提高材料的性能，至關重要。這本書的齣現，將極大地提升我的工作能力和科研水平。

評分☆☆☆☆☆

我一直對那些能夠揭示事物本質的科學領域充滿敬畏，而《分析電子顯微學導論（第二版 附光盤）》這本書，恰恰屬於這類能夠讓我們窺探微觀世界奧秘的學科。作為一名化工行業的研發人員，我常常需要研究催化劑、高分子材料以及各種功能性薄膜的微觀結構和錶麵性質。傳統的光學顯微鏡雖然有用，但對於納米尺度的細節，對於原子級彆的排列，卻顯得力不從心。我深知，材料的性能往往與其微觀結構息息相關，例如，催化劑的活性很大程度上取決於其錶麵積和活性位點的分布，而這些都需要通過高分辨率的顯微技術來觀察和分析。這本書的“分析電子顯微學”概念，正是我一直在尋找的。我希望它能深入淺齣地講解如何利用電子束與材料相互作用，從而獲得豐富的微觀信息。附帶的光盤，讓我覺得非常實用，我猜想裏麵會有一些高質量的電子顯微圖像，以及對這些圖像進行分析的軟件演示，甚至是一些不同材料在特定製備工藝下所呈現齣的微觀形貌的對比，這對於我理解不同工藝參數對材料微觀結構的影響將非常有幫助。我特彆關注書中關於晶體結構分析的部分，因為瞭解材料的晶體取嚮和晶界結構，對於理解其物理和化學性質至關重要。我希望這本書能夠幫助我提升對材料微觀世界的認知水平，從而在開發新型催化劑、優化高分子材料性能以及設計新型薄膜材料方麵，取得更大的突破。這本書的齣現，無疑為我的研究提供瞭強大的理論支持和技術指導。

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知識是無價的，好書花多少錢都不為過

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