 
			 
				緒論 1
0.1  電路與電子係統的復雜性 1
0.2  電路與電子係統故障診斷的必要性 2
0.3  電路與電子係統測試的特點 2
0.3.1  模擬電路與係統測試的特點 2
0.3.2  數字電路與係統測試的特點 3
0.3.3  混閤電路測試的特點 4
0.4  本書主要內容 4
本章參考文獻 6
第1章  電子係統常用故障診斷方法 7
1.1  常見故障診斷方法 7
1.1.1  基於故障模型的診斷方法 7
1.1.2  基於機器學習的診斷方法 9
1.1.3  基於信號處理的方法 10
1.1.4  基於解析模型的方法 11
1.1.5  基於知識的故障診斷方法 12
1.1.6  故障診斷方法的發展趨勢 14
1.2  基於故障樹的故障診斷方法 15
1.2.1  故障樹分析法中的基本概念和
符號 16
1.2.2  故障樹的生成 17
1.2.3  IEEE 1232的係統結構 19
1.2.4  IEEE 1232模型文件 19
1.2.5  IEEE 1232的推理機服務 20
本章參考文獻 21
第2章  數字電路測試與故障診斷 22
2.1  數字電路測試方法概述 22
2.1.1  數字電路測試的基本概念 22
2.1.2  數字電路測試的必要性和復雜性 22
2.1.3  數字電路測試的發展 24
2.2  數字電路故障模型與測試 25
2.2.1  故障及故障模型 25
2.2.2  故障測試 27
2.2.3  故障冗餘 29
2.3  數字電路測試的基本任務 30
2.3.1  測試矢量的産生 30
2.3.2  測試響應的觀測 31
2.4  可測性與完備性 32
2.4.1  可測性 32
2.4.2  完備性 32
2.5  復雜係統的分級測試 33
2.5.1  子係統一級的測試 33
2.5.2  微機係統的測試 34
2.6  窮舉測試法 34
2.6.1  單輸齣無扇齣電路 35
2.6.2  帶匯聚扇齣的單輸齣電路 38
2.6.3  各輸齣不依賴於全部輸入的
多輸齣電路 40
2.7  故障錶方法 40
2.7.1  固定式列錶計劃偵查 41
2.7.2  固定計劃定位 42
2.7.3  適應性計劃偵查和定位 44
習題 47
本章參考文獻 48
第3章  組閤電路與時序電路的故障診斷 50
3.1  通路敏化 50
3.1.1  敏化通路 50
3.1.2  通路敏化法 51
3.1.3  關於一維敏化的討論 53
3.1.4  多維敏化 55
3.2  d算法 56
3.2.1  d算法的基礎知識 56
3.2.2  d算法的基本步驟 58
3.2.3  d算法舉例 58
3.2.4  擴展d算法 63
3.3  布爾差分法 68
3.3.1  布爾差分的基本概念 68
3.3.2  布爾差分的特性 69
3.3.3  求布爾差分的方法 70
3.3.4  單故障的測試 73
3.3.5  多重故障的測試 76
3.4  故障字典 78
3.5  時序邏輯電路的測試 78
3.6  迭接電路法 79
3.6.1  基本思想 79
3.6.2  同步時序電路的組閤迭接 80
3.6.3  異步時序電路的組閤迭接 82
3.7  狀態變遷檢查法 85
3.7.1  初始狀態的設置 85
3.7.2  狀態的識彆 88
3.7.3  故障的測試 88
3.7.4  區分序列的存在性 89
習題 91
第4章  模擬電路與混閤信號的故障診斷 92
4.1  模擬電路測試的復雜性 92
4.1.1  模擬電路故障診斷概述 92
4.1.2  模擬電路故障診斷技術的産生 92
4.1.3  模擬電路故障特點 93
4.1.4  故障診斷是網絡理論的一個重要
分支 93
4.2  模擬電路的故障模型 94
4.3  模擬電路的故障診斷方法 95
4.3.1  傳統的故障診斷方法 96
4.3.2  目前的故障診斷方法 96
4.3.3  發展中的新故障測試方法 97
4.4  故障字典法 99
4.4.1  直流域中字典的建立 99
4.4.2  頻域中字典的建立 103
4.4.3  時域中字典的建立 107
4.4.4  故障的識彆與分辨 110
4.5  混閤信號測試概述 112
4.5.1  混閤信號的發展 112
4.5.2  混閤信號測試麵臨的挑戰 112
4.5.3  混閤信號的基本測試方法 113
4.5.4  混閤信號測試的展望 114
4.6  數模/模數轉換器簡介 115
4.6.1  數模轉換器 115
4.6.2  模數轉換器 118
4.7  混閤信號測試總綫 124
4.7.1  IEEE 1149.4電路結構 124
4.7.2  IEEE 1149.4測試方法 126
4.7.3  IEEE 1149.4標準指令 126
本章參考文獻 128
第5章  電路闆維修技術 130
5.1  維修前的準備 130
5.1.1  維修設備和工具 130
5.1.2  安全技術 130
5.1.3  感官訓練 131
5.2  檢修技術和方法 131
5.2.1  電路檢修原則 131
5.2.2  具體電路問題及故障處理順序 132
5.2.3  故障維修方法 132
5.2.4  小結 145
第6章  微機係統的故障診斷 147
6.1  存儲器的測試 147
6.1.1  RAM中的故障類型 148
6.1.2  測試的若乾原則性考慮 149
6.1.3  存儲器測試方法 150
6.1.4  各種測試方法的比較 155
6.2  ROM的測試方法 156
6.3  微處理器的測試 157
6.3.1  ?P的算法産生測試 158
6.3.2  ?P功能性測試的一般方法 161
6.3.3  ?P功能性測試的係統圖方法 166
6.4  利用被測係統的應用程序進行測試 168
6.4.1  基本概念 168
6.4.2  應用程序的模型化 168
6.4.3  關係圖 170
6.4.4  測試的組織 172
6.4.5  通路測試的算法 174
習題 177
本章參考文獻 177
第7章  可測性設計 178
7.1  可測性設計的概念 178
7.1.1  可靠性的定義 178
7.1.2  可靠性的主要參數指標 179
7.1.3  可測性設計的提齣 179
7.2  可測性設計的發展 180
7.2.1  可測性的起源與發展過程 180
7.2.2  國內情況 181
7.2.3  關鍵的技術 182
7.2.4  國際標準 183
7.2.5  可測性設計發展趨勢 185
7.3  可測性的測度 186
7.3.1  基本定義 186
7.3.2  標準單元的可測性分析 188
7.3.3  可控性和可觀測性的計算 190
7.4  可測性設計方法 191
7.5  內建自測試設計 194
7.5.1  多位綫性反饋移位寄存器 195
7.5.2  僞隨機數發生器 197
7.5.3  特徵分析器 198
7.5.4  內建自測試電路設計 200
7.6  邊界掃描技術 202
7.6.1  JTAG邊緣掃描可測性設計
的結構 203
7.6.2  工作方式 205
7.6.3  邊緣掃描單元的級聯 206
7.6.4  JTAG的指令 207
7.6.5  JTAG應用舉例 208
7.6.6  JTAG的特點 210
本章參考文獻 210
第8章  網絡化測試儀器 212
8.1  分布式自動測試係統 212
8.1.1  分布式係統概述 212
8.1.2  分布式係統結構及其特點 213
8.1.3  分布式係統的優勢 214
8.1.4  分布式自動測試係統 215
8.2  網絡化測試儀器 217
8.2.1  網絡化測試儀器概述 217
8.2.2  網絡化測試儀器設計規範 217
8.3  LXI總綫測試儀器 233
8.3.1  LXI總綫的發展 233
8.3.2  LXI測試儀器的基本特性 233
8.3.3  LXI測試儀器的分類 235
8.3.4  LXI測試儀器的結構與電氣
特性 238
8.3.5  LXI測試儀器的網絡設置
與通信 242
8.3.6  LXI測試儀器的觸發與同步 247
8.3.7  LXI測試儀器IVI驅動接口設計
方法 250
本章參考文獻 253
第9章  麵嚮信號的自動測試係統 254
9.1  自動測試係統概述及發展 254
9.1.1  自動測試係統的框架結構 254
9.1.2  自動測試係統的提齣與發展 255
9.1.3  麵嚮信號自動測試係統 257
9.1.4  麵嚮信號的自動測試係統的
技術框架 258
9.2  IEEE 1641協議 260
9.2.1  IEEE 1641的提齣 260
9.2.2  信號的層次結構 261
9.2.3  IEEE 1641標準的不足 263
9.3  ATML標準 263
9.3.1  XML標記語言 263
9.3.2  ATML標準 264
9.3.3  協議與自動測試係統各部分
的關係 265
9.4  IVI技術 266
9.4.1  可互換虛擬儀器技術 266
9.4.2  IVI技術 267
9.4.3  IVIsignal 269
9.5  自動測試係統應用 270
9.5.1  自動測試係統的軟件結構 270
9.5.2  測試過程 272
本章參考文獻 272
作為一名在電子産品研發一綫工作的工程師,我對於能夠提升故障診斷效率和準確性的技術資料一直抱有濃厚的興趣。這本書的齣現,無疑為我打開瞭一扇新的窗口。我尤其關注書中是否能深入探討不同類型電子係統的共性故障模式,以及針對這些模式的係統性診斷方法。例如,在數字電路設計中,時序問題和信號完整性一直是睏擾開發人員的難題,我希望書中能提供一些前沿的分析工具和處理策略。同時,對於模擬電路的噪聲抑製和乾擾分析,以及電源係統中的穩定性和效率問題,我也期待能有更深刻的見解。這本書的潛在價值在於,它能否幫助我構建一個更全麵的故障診斷思維框架,不僅僅局限於具體的元器件失效,而是能夠從係統整體的角度去審視問題,找齣問題的根源。此外,我對於書中是否會提及一些先進的診斷技術,例如基於AI的故障預測與診斷,或者一些自動化測試和在綫監測技術,也充滿瞭期待。如果能有具體的算法分析和實現方法,那將是極大的驚喜。
評分這本書的裝幀設計給我一種耳目一新的感覺,那種簡潔而又不失專業的設計風格,讓我一下子就産生瞭想要翻閱的衝動。我是一名業餘愛好者,對電子設備總是充滿瞭探索欲,但往往在遇到一些小問題時,就隻能望洋興嘆。我非常希望能在這本書中找到一些實用的、易於理解的故障排除技巧,尤其是一些針對日常傢用電器的小毛病。比如,我的電腦偶爾會齣現一些奇怪的狀況,或者傢裏的音響設備突然失靈,我希望能從這本書裏學到一些初步的判斷方法,而不是簡單地交給維修人員。我更關注的是,書中能否提供一些“一看就懂”的圖示或者流程圖,幫助我快速定位問題所在。如果能有一些關於“常見故障原因分析”或者“DIY維修小妙招”之類的章節,那將是極大的福音。我希望這本書能夠讓我對電子設備有更深層次的認識,不僅僅停留在錶麵,而是能夠瞭解它們是如何工作的,以及當它們齣現問題時,我們能夠通過哪些簡單的方式去嘗試解決。我期待這本書能成為我手中的“萬能鑰匙”,幫助我解決生活中的一些小煩惱,並且在探索電子世界的道路上,給我帶來更多的樂趣和成就感。
評分我是一名剛剛接觸電子技術不久的學生,看到這本書的名字,覺得它可能很適閤我。我對電子世界充滿瞭好奇,但很多時候,當電路闆上齣現問題時,我總是無從下手。我特彆希望這本書能夠為我提供一個清晰的學習路徑,從基本的電路原理齣發,逐步引導我掌握診斷各種故障的方法。我希望書中能夠包含一些基礎的電子元件知識,以及它們可能齣現的常見故障。例如,電阻、電容、二極管、三極管等,在電路中扮演什麼角色,當它們損壞時會錶現齣什麼樣的跡象。我尤其關注書中是否會講解如何使用一些基礎的測量儀器,比如示波器、萬用錶等,以及如何通過這些儀器來判斷電路是否正常工作。如果書中能提供一些實際的電路案例,並一步步演示如何進行故障排查,那將對我非常有幫助。我希望通過閱讀這本書,能夠增強我的動手能力和解決問題的信心,能夠獨立地分析和解決一些簡單的電子故障,從而為我未來更深入的學習打下堅實的基礎。
評分這本書的封麵設計倒是挺吸引人的,整體色調沉穩,字體也比較大氣,給人一種專業、厚重的感覺。翻開第一頁,紙張的觸感不錯,印刷清晰,這一點對於一本技術類書籍來說至關重要,能大大提升閱讀體驗。雖然我對其中的具體技術細節還不太瞭解,但從排版上看,似乎章節劃分得比較清晰,目錄也做得比較細緻,這對於初學者來說無疑是件好事,可以幫助我們快速找到自己感興趣或者需要解決的問題。我特彆關注的是書中案例的選擇,希望能夠涵蓋一些當前比較普遍且棘手的故障類型,例如在一些智能傢居設備或者汽車電子係統中經常齣現的乾擾問題、信號衰減等等。如果能有圖文並茂的分析,並提供詳細的檢測步驟和維修思路,那將是極大的幫助。而且,我希望書中不僅僅停留在理論層麵,而是能結閤實際操作,比如介紹一些常用的測量工具的使用方法,或者給齣一些實用的判斷技巧。總而言之,這本書給我一種“乾貨滿滿”的期待感,希望能從中汲取到實用的知識,為我今後的學習打下堅實的基礎,甚至在遇到實際問題時能提供一些靈感和解決方案。
評分老實說,拿到這本書的時候,我有點犯愁,因為我對電子電路這塊兒的知識實在是有些薄弱,很多時候遇到一些小電器齣問題,隻能束手無策,或者找師傅來修,感覺自己像個“技術小白”。這本書的名字聽起來就挺高大上的,“故障診斷技術”,感覺離我有點遙遠,但又隱隱覺得,也許它能成為我的“救星”。我翻看瞭目錄,發現裏麵有一些名詞我之前聽都沒聽過,這讓我既有點畏懼,又充滿好奇。我比較在意的是,書中是否會用通俗易懂的語言來解釋那些復雜的原理,會不會有很多晦澀難懂的公式和圖錶?我希望作者能夠從最基礎的概念講起,循序漸進,讓像我這樣的“小白”也能慢慢跟上。我特彆希望能看到一些關於“怎麼看電路圖”或者“如何用萬用錶”之類的基礎講解,這些都是我急需掌握的技能。如果書中能提供一些常見的傢庭電器(比如電視、冰箱、洗衣機)的故障排除案例,並且給齣詳細的圖解和操作指南,那簡直太棒瞭!我希望這本書能讓我從“隻會用”變成“會修”,甚至能對電子設備有更深入的瞭解,發現一些潛在的設計缺陷或者提升空間。
評分可以
評分書還行,物流有點磨嘰
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