低功率 高分辨率的A-D轉換器 A-D轉換 模-數轉換 ADC DfT 深亞微米CMOS pdf epub mobi txt 電子書 下載 2025

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[荷] 阿米爾·齊亞約 著

圖書標籤:

• A/D轉換器
• 模數轉換
• ADC
• 低功耗
• 高分辨率
• CMOS
• DfT
• 深亞微米
• 模擬電路
• 集成電路設計

店鋪： 京文聯發專營店

齣版社： 機械工業齣版社

ISBN：9787111589037

商品編碼：26388914476

開本：16

齣版時間：2018-03-15

齣版日期：2018/3/1 版 次：1-1 齣 版 社： style='margin: 0.0px;padding: 0.0px;text-decoration: none;color: #4b4b4b;'>機械工業齣版社 原齣版社：Springer 叢 書 名： style='margin: 0.0px;padding: 0.0px;text-decoration: none;color: #4b4b4b;'>國際信息工程先進技術譯叢
內容簡介
在本書中，作者概述瞭這些創新的有價值的例子，並給人們機會看到它們在應用於高分辨率模-數（A-D）轉換器（ADC）開發時的優勢。更具體地，讀者可以發現本書的主要貢獻在於：使用時間交織的信號處理和校準的多步A-D轉換器的設計、用於這些轉換器的完全可觀測性和可控性的DfT（可測性設計）技術的提齣和實現、可以識彆過程參數變化的傳感器網絡的方法與設計、使用小型樣本來估計過程變化的算法的建議以及用於晶片級測試的測試模式生成器的開發。
譯者序
原書序
縮略語錶
物理量符號
第1章 緒論1
1.1 A-D轉換係統1
1.2淺談當前的設計與調試實踐分析4
1.3動機7
1.4本書內容組成8
第2章 A-D轉換9
2.1高速、高分辨率A-D轉換器架構選擇9
2.1.1多步A-D轉換器9
2.1.2管綫A-D轉換器10
2.1.3並行管綫A-D轉換器12
2.1.4 A-D轉換器實現比較13
2.2低壓A-D轉換器設計注釋16
2.3 A-D轉換器模塊21
2.3.1 S/H21
2.3.2運算放大器24
2.3.3鎖存比較器27
2.4 A-D轉換器：總結31
第3章 多步A-D轉換器的設計33
3.1多步A-D轉換器架構33
3.2非理想多步A-D轉換器的設計注意事項36
3.3時間交錯的前端S/H電路39
3.3.1時間交錯架構40
3.3.2 S/H單元的匹配44
3.3.3電路設計49
3.4多步A-D轉換器級設計53
3.4.1粗略量化53
3.4.2精細量化58
3.5中間級設計和校準67
3.5.1子D-A轉換器設計67
3.5.2殘差放大器69
3.6實驗結果76
3.7小結80
第4章 多步A-D轉換器的測試82
4.1準靜態結構試驗的模擬ATPG82
4.1.1測試策略定義83
4.1.2基於準靜態節點電壓法的綫性故障模型84
4.1.3決策標準和測試刺激優化92
4.2可測性概念的設計98
4.2.1功率掃描鏈DfT100
4.2.2應用實例105
4.3用於BIST的片上激勵的産生113
4.3.1連續和離散時間電路拓撲114
4.3.2連續和離散時間波形發生器的設計123
4.4內置自測概念的注釋131
4.5深亞微米CMOS工藝的隨機分析可靠電路設計136
4.5.1用於過程變異性分析的隨機MNA136
4.5.2噪聲分析的隨機MNA138
4.5.3應用示例140
4.6小結144
第5章 多步A-D轉換器的調試146
5.1傳感器網絡概念146
5.1.1觀察策略147
5.1.2集成傳感器149
5.1.3決策窗口和應用限製152
5.1.4 DLPM電路設計155
5.1.5溫度傳感器160
5.2模闆級過程變化的估計163
5.2.1預期大化算法163
5.2.2嚮量機限製估計器166
5.3多步A-D轉換器級的調試168
5.3.1質量標準168
5.3.2估算方法169
5.4 DfT用於多步轉換器的完全可訪問性173
5.4.1測試控製塊177
5.4.2模擬測試控製塊178
5.5時間交織係統的調試180
5.6前景校準184
5.7實驗結果187
5.7.1 A-D測試窗口生成/更新的結果應用191
5.7.2 A-D轉換器調試和校準的結果應用195
5.8小結202
第6章 結論和建議203
6.1結果概述203
6.2推薦和未來研究204
附錄 205
附錄A 205
A.1時間不匹配205
A.2偏移不匹配206
A.3增益不匹配207
A.4帶寬不匹配207
A.5一般錶達式208
附錄B 208
B.1使用正弦波的A-D轉換器非綫性的直方圖測量208
B.2均方誤差210
B.3測量不確定性211
參考文獻213

《低功耗高分辨率A/D轉換器設計與應用》 引言 在當今數字信息爆炸的時代，模擬信號嚮數字信號的轉換是實現各種電子係統功能的核心環節。模數轉換器（ADC）作為連接模擬世界與數字世界的橋梁，其性能的優劣直接決定瞭整個係統的精度、功耗和速度。特彆是在便攜式設備、物聯網終端、醫療監測以及精密儀器等對功耗和分辨率有著極高要求的應用領域，設計齣低功耗、高分辨率的A/D轉換器成為瞭一個重要的研究課題和技術挑戰。 本書將深入探討低功耗、高分辨率A/D轉換器的設計原理、關鍵技術、電路實現以及在深亞微米CMOS工藝下的優化策略。我們將從A/D轉換的基礎理論齣發，逐步深入到各種主流的A/D轉換器架構，並重點分析如何通過精巧的電路設計和工藝優化來實現功耗和分辨率的雙重提升。同時，本書還將結閤實際應用需求，探討A/D轉換器在現代電子係統中的重要作用和發展趨勢。 第一章：A/D轉換基礎理論 本章將為讀者構建紮實的A/D轉換基礎知識體係。我們將詳細介紹： 模擬信號與數字信號： 闡述模擬信號的連續性和數字信號的離散性，以及它們在實際應用中的區彆與聯係。 A/D轉換的基本流程： 詳細講解采樣、量化和編碼這三個核心步驟，理解其物理意義和數學模型。 采樣定理（Nyquist-Shannon Sampling Theorem）： 深入理解奈奎斯特頻率的概念，解釋采樣頻率對信號保真度的影響，以及過采樣和欠采樣的技術。 量化誤差（Quantization Error）： 分析量化過程引入的誤差來源，包括量化噪聲，並介紹如何通過增加分辨率來減小量化誤差。 分辨率（Resolution）： 定義A/D轉換器的分辨率，解釋其與比特數（bits）的關係，以及分辨率對信號動態範圍的影響。 采樣速率（Sampling Rate）： 定義采樣速率，闡述其與係統實時性的關係，以及不同應用場景對采樣速率的需求。 信號噪聲比（SNR）和有效比特數（ENOB）： 介紹評價A/D轉換器性能的重要指標SNR，以及ENOB如何綜閤考慮瞭噪聲和失真對轉換精度的影響。 非綫性誤差（Non-linearity Errors）： 講解積分非綫性（INL）和差分非綫性（DNL）的概念，以及它們對轉換精度的破壞性影響。 功耗與性能的權衡（Power-Performance Trade-off）： 探討A/D轉換器設計中普遍存在的功耗與分辨率、采樣速率之間的相互製約關係，以及如何尋找最優的設計點。 第二章：主流A/D轉換器架構分析 本章將詳細剖析幾種主流的A/D轉換器架構，深入理解它們的內部工作原理、優缺點以及適用場景。 逐次逼近型A/D轉換器（SAR ADC）： 工作原理：詳細講解SAR ADC基於比較器和數字-模擬轉換器（DAC）逐次逼近的轉換過程。 電路實現：介紹SAR ADC的關鍵電路模塊，如采樣保持電路（S/H）、比較器、SAR邏輯控製器和DAC。 優點與缺點：分析SAR ADC的綫性度好、功耗相對較低、易於集成等優點，以及其轉換速度受內部DAC和比較器速度限製的局限性。 低功耗優化：探討如何通過降低電源電壓、優化采樣保持電路和DAC設計來實現SAR ADC的低功耗。 流水綫型A/D轉換器（Pipeline ADC）： 工作原理：闡述Pipeline ADC利用多個級聯的低分辨率ADC和DAC，通過流水綫工作方式提高轉換速率的原理。 電路實現：介紹Pipeline ADC的核心單元——多位ADC（MADC）模塊，包括其中的MDAC（Multiplying DAC）以及後級ADC。 優點與缺點：分析Pipeline ADC的轉換速度高、分辨率可達較高水平的優勢，以及其對DAC和ADC精度要求高、功耗較大的缺點。 低功耗優化：探討如何通過降低各級ADC/DAC的轉換精度要求、采用共享時鍾和電源等策略來降低功耗。 Σ-Δ調製器型A/D轉換器（Sigma-Delta ADC）： 工作原理：深入講解Σ-Δ ADC利用過采樣和噪聲整形技術來提高有效分辨率的原理，重點分析調製器（Modulator）和數字濾波器（Digital Filter）的作用。 電路實現：介紹Σ-Δ調製器的關鍵組成部分，如積分器、量化器和反饋DAC，以及數字濾波器的結構和作用。 優點與缺點：分析Σ-Δ ADC具有極高的分辨率、對輸入信號動態範圍要求較低的顯著優點，但其轉換速度相對較慢、對數字信號處理能力要求高是其局限性。 低功耗優化：探討如何通過優化調製器階數、采用低功耗數字濾波器結構以及降低過采樣率等方法來降低功耗。 過采樣率（OSR）和噪聲整形（Noise Shaping）： 詳細解釋過采樣率的概念及其對噪聲的影響。 深入闡述噪聲整形原理，說明如何將量化噪聲推移到信號帶寬之外，從而提高有效分辨率。 第三章：深亞微米CMOS工藝下的A/D轉換器設計 本章將聚焦於現代深亞微米CMOS工藝對A/D轉換器設計帶來的機遇與挑戰，並探討相應的優化策略。 深亞微米CMOS工藝特性： 器件特性： 分析短溝道效應、閾值電壓漂移、柵氧化層變薄等問題對ADC性能的影響。 互連綫效應： 討論互連綫寄生電阻和電容對信號完整性和速度的影響。 功耗挑戰： 闡述漏電流、動態功耗隨工藝尺寸縮小而帶來的功耗挑戰。 低電壓操作： 討論在低電源電壓下設計的策略，包括器件選擇和偏置設計。 低功耗設計技術： 動態功耗優化： 時鍾門控（Clock Gating）： 介紹通過選擇性地關閉不工作的模塊時鍾來減少動態功耗。 低電壓設計（Low Voltage Design）： 討論如何通過降低電源電壓來降低動態功耗，以及相關的設計挑戰。 門控時鍾（Clock Speed Optimization）： 分析如何根據實際需求調整時鍾頻率，避免不必要的功耗。 靜態功耗優化： 門控漏電流（Leakage Current Control）： 探討采用高閾值電壓（High-Vt）和低閾值電壓（Low-Vt）晶體管混閤設計，以及選擇性關斷非關鍵路徑的策略。 電源門控（Power Gating）： 介紹如何通過關閉不使用的模塊電源來大幅降低靜態功耗。 電路架構優化： 共享元件技術（Shared Component Techniques）： 探討如何通過共享ADC核心模塊，如DAC或比較器，來減少整體元件數量和功耗。 自適應偏置技術（Adaptive Biasing Techniques）： 介紹如何根據信號動態範圍和工作條件動態調整電路偏置，以優化功耗。 數字輔助功耗管理： 探討如何利用數字控製電路實現動態功耗調節和功率門控。 高分辨率設計技術： 匹配與失配（Matching and Mismatch）： 詳細分析MOS晶體管的失配如何導緻DNL和INL誤差，並介紹提高器件匹配度的技術，如器件尺寸、版圖設計和校準技術。 寄生效應抑製： 探討如何通過版圖設計、工藝選項來減小寄生電容和寄生電阻對信號完整性的影響。 噪聲抑製技術： 采樣保持電路設計（Sample-and-Hold Circuit Design）： 優化S/H電路以減小開關注入效應和跟蹤誤差。 差分電路設計（Differential Circuit Design）： 利用差分信號傳輸來抑製共模噪聲。 噪聲濾波（Noise Filtering）： 在數字域或模擬域采用濾波器技術來減小噪聲。 校準技術（Calibration Techniques）： 介紹數字校準和模擬校準方法，用於補償器件失配和工藝變化帶來的非綫性誤差，從而提高整體分辨率。 第四章：關鍵電路模塊設計與優化 本章將深入剖析A/D轉換器中的幾個關鍵電路模塊，並針對低功耗和高分辨率目標進行設計和優化。 采樣保持電路（Sample-and-Hold Circuit）： 設計目標：低截止（Aperture Delay）、低抖動（Jitter）、高輸入阻抗、低輸齣阻抗、低功耗。 電路拓撲：介紹不同類型的S/H電路，如電荷注入型、開關電容型等，並分析其優缺點。 低功耗優化：討論減小柵漏電流、優化開關控製信號、采用低驅動電流的緩衝器等方法。 高分辨率優化：分析如何減小開關注入效應、驅動非綫性誤差，以及提高跟蹤精度。 比較器（Comparator）： 設計目標：快速響應、低延遲、高增益、低功耗、低輸入失調電壓。 電路拓撲：介紹各種類型的比較器，如二階、三階、動態比較器等，並分析其特性。 低功耗優化：討論如何通過動態偏置、減少時鍾驅動、優化輸齣級設計等來實現低功耗。 高分辨率優化：分析如何減小輸入失調電壓、提高靈敏度，以及抑製噪聲。 數字-模擬轉換器（DAC）： 設計目標：高綫性度、低偏移、低增益誤差、低功耗、快速轉換。 電路拓撲：介紹電阻網絡型DAC（R-2R）、電容陣列型DAC（Capacitor Array）、字符串DAC（String DAC）等。 低功耗優化：討論如何優化電阻精度、減小驅動電流、采用電源復用等策略。 高分辨率優化：分析如何減小匹配誤差、開關效應、以及提高編碼精度。 數字濾波器（Digital Filter）與後處理電路： 針對Σ-Δ ADC，詳細講解數字濾波器的作用，包括抗混疊濾波、抽取濾波等。 介紹常用的數字濾波器結構，如FIR濾波器和IIR濾波器，以及在低功耗設計下的權衡。 討論數字信號處理對ADC性能提升的作用，如數字校準、噪聲補償等。 第五章：A/D轉換器在深亞微米CMOS工藝中的版圖設計與驗證 本章將重點關注A/D轉換器在實際流片過程中的版圖設計和驗證環節，確保設計目標得以實現。 版圖設計原則： 器件匹配： 詳細講解提高MOS晶體管匹配度的版圖技術，如對稱性設計、共質心技術（Common Centroid）、啞區（Dummy Devices）的使用。 寄生效應的考慮： 分析金屬走綫、通孔、襯底耦閤等寄生效應，並提齣相應的版圖布局策略來減小其影響。 噪聲耦閤抑製： 討論數字信號和模擬信號的隔離，電源和地綫的規劃，以及噪聲敏感區域的屏蔽。 熱效應管理： 考慮高密度設計可能帶來的熱效應，以及如何在版圖上進行散熱設計。 物理驗證（Physical Verification）： 設計規則檢查（DRC）： 確保版圖符閤工藝廠商的設計規則。 版圖與原理圖提取（LVS）： 驗證版圖與電路原理圖的一緻性。 寄生參數提取（Parasitic Extraction）： 提取電路的寄生電阻和電容，用於後續的電路仿真。 仿真與驗證： 電路級仿真： 使用SPICE等工具進行詳細的電路仿真，驗證ADC的各項性能指標，包括功耗、分辨率、綫性度、速度等。 版圖後仿真（Post-Layout Simulation）： 結閤提取的寄生參數進行仿真，獲得更接近實際流片性能的結果。 功耗分析： 詳細分析靜態和動態功耗，並進行優化。 噪聲分析： 仿真並分析ADC的輸齣噪聲，評估SNR和ENOB。 瞬態分析： 驗證ADC在不同輸入信號下的響應行為。 第六章：A/D轉換器在低功耗高分辨率應用中的實例分析 本章將通過具體的應用案例，展示低功耗高分辨率A/D轉換器的設計理念和實現方式。 案例一：便攜式醫療監測設備中的A/D轉換器： 應用需求分析：低功耗、高分辨率、小型化、高可靠性。 典型架構選擇：SAR ADC或低功耗Pipeline ADC。 關鍵設計考慮：電池壽命優化、生物信號采集精度、抗乾擾能力。 案例二：物聯網（IoT）傳感器節點中的A/D轉換器： 應用需求分析：極低功耗、適度分辨率、成本敏感。 典型架構選擇：低功耗SAR ADC或Σ-Δ ADC（針對特定應用）。 關鍵設計考慮：超低漏電流、睡眠模式管理、無綫傳輸功耗的權衡。 案例三：高性能數據采集係統中的A/D轉換器： 應用需求分析：高采樣速率、高分辨率、寬動態範圍。 典型架構選擇：高性能Pipeline ADC或Σ-Δ ADC。 關鍵設計考慮：信號完整性、時鍾抖動控製、數字信號處理能力。 案例分析的具體內容將包括： 針對具體應用場景的需求分析。 選擇閤適的ADC架構及其理由。 重點介紹在低功耗和高分辨率方麵采取的關鍵設計措施。 仿真結果展示與性能評估。 結論與展望 本書係統地介紹瞭低功耗高分辨率A/D轉換器的設計原理、關鍵技術和實現方法，尤其是在深亞微米CMOS工藝下的優化策略。我們從基礎理論齣發，深入分析瞭主流ADC架構，探討瞭低功耗和高分辨率設計的挑戰與解決方案，並結閤實例展示瞭實際應用中的設計考量。 未來，隨著半導體工藝的不斷進步和應用需求的日益增長，低功耗高分辨率A/D轉換器的研究將繼續深化。諸如自適應采樣率、機器學習輔助設計、新材料和新器件的應用等都將是未來的重要發展方嚮。本研究方嚮將繼續推動集成電路技術在更廣泛、更嚴苛的應用領域取得突破。 參考文獻 （此處將列齣本書參考的學術論文、技術文檔、書籍等）

評分☆☆☆☆☆

當我翻開這本書，一股嚴謹的學術氛圍撲麵而來。書名中的“DfT”——Design for Testability（可測試性設計），讓我意識到這本書不僅僅關注ADC本身的性能指標，更著眼於其在實際生産和應用中的可製造性與可靠性。在深亞微米CMOS工藝下，芯片的復雜度和尺寸都達到瞭前所未有的水平，傳統的測試方法往往難以覆蓋所有潛在的故障模式，導緻良率下降和潛在的産品缺陷。因此，將可測試性設計融入到ADC的早期設計階段，就顯得尤為重要。我猜想書中會詳細闡述如何在ADC架構、電路單元的設計中考慮測試點、內建自測（BIST）等策略，從而在設計階段就為後續的測試和驗證打下基礎。這對於任何從事芯片設計和製造的工程師來說，都是一項至關重要的技能。高分辨率ADC的復雜模擬電路，加上深亞微米CMOS工藝帶來的寄生效應和器件變異，使得其可測試性設計挑戰更加突齣。這本書的切入點非常具有前瞻性，它預示著這本書將不僅僅是一本技術手冊，更可能是一本關於如何高效、可靠地開發和生産先進ADC的實戰指南。我迫不及待想知道書中是如何將DfT的理念巧妙地融入到低功耗、高分辨率ADC的設計中的，這其中的權衡與取捨一定充滿智慧。

評分☆☆☆☆☆

這本書的標題“低功率 高分辨率的A-D轉換器 A-D轉換 模-數轉換 ADC DfT 深亞微米CMOS”直擊當前電子工程領域的核心痛點。我首先注意到的是“低功率”和“高分辨率”的組閤。在日益普及的便攜式電子設備、物聯網傳感器以及對續航要求極高的應用場景下，如何實現盡可能低的功耗消耗是工程師們必須攻剋的難題。然而，在許多需要精確數據采集的場閤，例如醫療診斷、環境監測、科學實驗等，高分辨率的模數轉換又是必不可少的。因此，這本書提齣的目標——在保證高分辨率的同時，實現低功耗，無疑抓住瞭行業的脈搏。緊隨其後的“A-D轉換”、“模-數轉換”以及“ADC”這些同義詞，都在強調本書的主題——模數轉換器。而“DfT”（Design for Testability）這個術語的齣現，則讓我眼前一亮。在深亞微米CMOS工藝下，芯片的設計復雜度呈指數級增長，如何確保這些復雜的ADC能夠在生産綫上被高效、準確地測試，從而保證其可靠性和良率，是另一項巨大的挑戰。這本書將DfT與ADC設計相結閤，預示著它將提供關於如何在設計階段就考慮可測試性，從而簡化後續測試流程、降低製造成本的寶貴見解。最後，“深亞微米CMOS”點明瞭本書的研究背景，即最前沿的半導體製造工藝。在這個工藝節點下，各種物理效應變得更加顯著，對ADC的設計和實現提齣瞭新的要求。這本書的綜閤性，錶明它將為讀者提供一個在最先進技術下，全麵解決低功耗、高分辨率ADC設計與測試問題的解決方案。

評分☆☆☆☆☆

初覽此書，其標題“低功率 高分辨率的A-D轉換器 A-D轉換 模-數轉換 ADC DfT 深亞微米CMOS”就如同一個精心設計的導航圖，指引著我探索當今微電子領域最核心的技術挑戰之一。特彆是“深亞微米CMOS”這個詞，立刻將我的思緒拉迴到當前半導體製造工藝的最前沿。在如此精密的工藝節點下，電子元件的行為變得更加微妙，寄生效應顯著，漏電流控製成為難題，而這些都直接影響著ADC的功耗和性能。這本書將“低功率”與“高分辨率”並置，清晰地錶達瞭其核心主題——如何在功耗極其受限的情況下，實現對模擬信號的超高精度量化。這在電池供電的便攜式設備、低功耗物聯網節點、以及要求極緻靈敏度的傳感器係統中，是不可或缺的技術。此外，“DfT”（Design for Testability）的引入，錶明本書並未止步於單純的性能優化，而是將芯片的可測試性這一實際生産中的關鍵環節納入考量。這意味著書中很可能不僅僅提供理論上的設計框架，更會探討如何通過優化設計來簡化測試流程，降低測試成本，並提升整體芯片的良率。這種兼顧性能、功耗和可製造性的全方位視角，正是現代集成電路設計所亟需的。

評分☆☆☆☆☆

這本書的題目，如同一份精煉的科技摘要，迅速勾勒齣其研究的核心領域——“低功率 高分辨率的A-D轉換器”。“A-D轉換”和“模-數轉換”的同義詞並列，以及“ADC”這個通用縮寫，都在強調其主題的明確性。而“DfT”和“深亞微米CMOS”的加入，則為這本書增添瞭深度和前沿性。首先，“低功率”和“高分辨率”的並存，是ADC設計中最具挑戰性的目標之一。在許多應用場景下，例如可穿戴設備、醫療監測設備，或者電池壽命至關重要的傳感器網絡，低功耗是首要考慮因素；而在科學儀器、高精度數據采集、或者高端音頻/視頻設備中，高分辨率又是不可妥協的要求。如何在這兩者之間找到最佳的平衡點，甚至是實現突破性的創新，是本書有望揭示的。其次，“深亞微米CMOS”工藝背景，意味著本書將深入探討在當前最先進的半導體製造技術下，ADC的設計方法和麵臨的挑戰。在這個尺度下，器件的物理特性、寄生效應、以及工藝 Variations 都對ADC的性能和功耗産生顯著影響。最後，“DfT”（Design for Testability）的提及，錶明本書不僅僅關注ADC的功能和性能，還非常重視芯片的可測試性。在日益復雜的深亞微米CMOS電路中，設計易於測試的電路，對於降低生産成本、提高良率至關重要。這本書的組閤，預示著它將是一本關於如何在最先進工藝下，設計齣高性能、低功耗且易於測試的ADC的權威著作。

評分☆☆☆☆☆

這本書的書名就透露著一股硬核的科技感——“低功率 高分辨率的A-D轉換器 A-D轉換 模-數轉換 ADC DfT 深亞微米CMOS”。光是看到“低功率”和“高分辨率”的組閤，就足以勾起我對高性能模數轉換器（ADC）領域的好奇心。在當今電子設備日益小型化、功耗控製愈發關鍵的時代，如何同時實現精準的信號捕捉和極緻的能效，無疑是工程師們麵臨的一大挑戰。而“深亞微米CMOS”的字樣，更是將研究的焦點鎖定在瞭最前沿的半導體工藝上，預示著書中很可能深入探討瞭在納米尺度下，如何設計齣性能卓越、功耗更低的ADC電路。ADC是連接模擬世界和數字世界的橋梁，其性能直接影響到傳感器數據的精度、通信係統的質量以及各種嵌入式係統的效率。尤其是高分辨率ADC，在醫療影像、科學儀器、高精度測量等領域有著不可替代的作用。而低功耗的需求，則讓它在便攜式設備、物聯網節點、甚至一些對散熱有嚴格要求的應用中顯得尤為重要。這本書的齣現，似乎正是我在尋找的那本能夠填補我在這兩個關鍵點之間技術鴻溝的寶藏。我期待它能提供切實可行的設計思路和電路優化方案，幫助我理解如何在復雜的CMOS工藝下，平衡甚至突破功率與分辨率的固有 trade-off。