| 国外电子与通信教材系列 半导体制造技术 | ||
| 定价 | 79.00 | |
| 出版社 | 电子工业出版社 | |
| 版次 | 1 | |
| 出版时间 | 2015年06月 | |
| 开本 | 16开 | |
| 作者 | (美)夸克,(美)瑟达,韩郑生 等译 | |
| 装帧 | 平装 | |
| 页数 | 0 | |
| 字数 | 0 | |
| ISBN编码 | 9787121260834 | |
第1章 半导体产业介绍
目标
1.1 引言
1.2 产业的发展
1.3 电路集成
1.4 集成电路制造
1.5 半导体趋势
1.6 电子时代
1.7 在半导体制造业中的职业
1.8 小结
第2章 半导体材料特性
目标
2.1 引言
2.2 原子结构
2.3 周期表
2.4 材料分类
2.5 硅
2.6 可选择的半导体材料
2.7 小结
第3章 器件技术
目标
3.1 引言
3.2 电路类型
3.3 无源元件结构
3.4 有源元件结构
3.5 CMOS器件的闩锁效应
3.6 集成电路产品
3.7 小结
第4章 硅和硅片制备
目标
4.1 引言
4.2 半导体级硅
4.3 晶体结构
4.4 晶向
4.5 单晶硅生长
4.6 硅中的晶体缺陷
4.7 硅片制备
4.8 质量测量
4.9 外延层
4.10 小结
第5章 半导体制造中的化学品
目标
5.1 引言
5.2 物质形态
5.3 材料的属性
5.4 工艺用化学品
5.5 小结
第6章 硅片制造中的沾污控制
目标
6.1 引言
6.2 沾污的类型
6.3 沾污的源与控制
6.4 硅片湿法清洗
6.5 小结
第7章 测量学和缺陷检查
目标
7.1 引言
7.2 集成电路测量学
7.3 质量测量
7.4 分析设备
7.5 小结
第8章 工艺腔内的气体控制
目标
8.1 引言
8.2 真空
8.3 真空泵
8.4 工艺腔内的气流
8.5 残气分析器
8.6 等离子体
8.7 工艺腔的沾污
8.8 小结
第9章 集成电路制造工艺概况
目标
9.1 引言
9.2 CMOS工艺流程
9.3 CMOS制作步骤
9.4 小结
第10章 氧化
目标
10.1 引言
10.2 氧化膜
10.3 热氧化生长
10.4 高温炉设备
10.5 卧式与立式炉
10.6 氧化工艺
10.7 质量测量
10.8 氧化检查及故障排除
10.9 小结
第11章 淀积
目标
11.1 引言
11.2 膜淀积
11.3 化学气相淀积
11.4 CVD淀积系统
11.5 介质及其性能
11.6 旋涂绝缘介质
11.7 外延
11.8 CVD质量测量
11.9 CVD检查及故障排除
11.10 小结
第12章 金属化
目标
12.1 引言
12.2 金属类型
12.3 金属淀积系统
12.4 金属化方案
12.5 金属化质量测量
12.6 金属化检查及故障排除
12.7 小结
第13章 光刻:气相成底膜到软烘
目标
13.1 引言
13.2 光刻工艺
13.3 光刻工艺的8个基本步骤
13.4 气相成底膜处理
13.5 旋转涂胶
13.6 软烘
13.7 光刻胶质量测量
13.8 光刻胶检查及故障排除
13.9 小结
第14章 光刻:对准和曝光
目标
14.1 引言
14.2 光学光刻
14.3 光刻设备
14.4 混合和匹配
14.5 对准和曝光质量测量
14.6 对准和曝光检查及故障排除
14.7 小结
第15章 光刻:光刻胶显影和先进的光刻技术
目标
15.1 引言
15.2 曝光后烘焙
15.3 显影
15.4 坚膜
15.5 显影检查
15.6 先进的光刻技术
15.7 显影质量测量
15.8 显影检查及故障排除
15.9 小结
第16章 刻蚀
目标
16.1 引言
16.2 刻蚀参数
16.3 干法刻蚀
16.4 等离子体刻蚀反应器
16.5 干法刻蚀的应用
16.6 湿法腐蚀
16.7 刻蚀技术的发展历程
16.8 去除光刻胶
16.9 刻蚀检查
16.10 刻蚀质量测量
16.11 干法刻蚀检查及故障排除
16.12 小结
第17章 离子注入
目标
17.1 引言
17.2 扩散
17.3 离子注入
17.4 离子注入机
17.5 离子注入在工艺集成中的发展趋势
17.6 离子注入质量测量
17.7 离子注入检查及故障排除
17.8 小结
第18章 化学机械平坦化
目标
18.1 引言
18.2 传统的平坦化技术
18.3 化学机械平坦化
18.4 CMP应用
18.5 CMP质量测量
18.6 CMP检查及故障排除
18.7 小结
第19章 硅片测试
目标
19.1 引言
19.2 硅片测试
19.3 测试质量测量
19.4 测试检查及故障排除
19.5 小结
第20章 装配与封装
目标
20.1 引言
20.2 传统装配
20.3 传统封装
20.4 先进的装配与封装
20.5 封装与装配质量测量
20.6 集成电路封装检查及故障排除
20.7 小结
附录A 化学品及安全性
附录B 净化间的沾污控制
附录C 单位
附录D 作为氧化层厚度函数的颜色
附录E 光刻胶化学的概要
附录F 刻蚀化学
一直以来,我都对那些隐藏在智能手机、电脑背后的微小芯片充满了好奇。这套《半导体制造技术》正好满足了我这份探知欲。我是一名业余爱好者,没有深厚的专业背景,所以选择书籍时,更看重的是科普性和易懂性。这本书在这方面做得非常出色,虽然内容涵盖了“芯片制造”和“半导体工艺制程”,但它并没有让我感到枯燥晦涩。书中用了大量的图表和生动的比喻来解释复杂的概念,比如光刻就像是给集成电路“照相”,刻蚀则是“雕刻”出精密的电路图案。我尤其喜欢书中对不同工艺步骤的详细描绘,让我仿佛置身于无尘车间,亲眼见证着一块硅片如何一步步变成功能强大的芯片。它还讲解了许多我之前从未听过的专业术语,但通过书中的解释,我都能理解它们的含义和作用。这本书让我对半导体行业有了全新的认识,也更加佩服那些在幕后默默奉献的工程师们。
评分这本书绝对是我近期阅读体验中最具价值的一本,虽然书名有些冗长,但它内容之充实,逻辑之严谨,足以称得上是“半导体集大成者”。我是一名软件开发者,平时很少接触硬件制造方面的知识,但因为工作需要,我需要了解芯片的基本制造流程,以便更好地理解硬件性能的瓶颈和优化的可能性。这本书从最基础的硅晶体生长讲起,一直到最终的芯片封装和测试,层层递进,环环相扣。它深入浅出地讲解了光刻、刻蚀、薄膜沉积等核心工艺的原理和步骤,并且对于不同工艺的选择如何影响芯片的性能和成本做了细致的分析。让我印象深刻的是,书中不仅提供了理论知识,还结合了大量的实际案例和行业标准,这使得内容更具指导性和实用性。对于我这样一个跨领域学习者来说,这本书极大地拓展了我的知识边界,让我能够从更宏观的角度看待半导体产业的发展。
评分这套《半导体制造技术:芯片制造与半导体工艺制程实用教程》的图书,说是“半导体集成”也无妨,因为它的内容涵盖了半导体制造的方方面面,从基础原理到实际应用,都讲得非常透彻。我一直对微电子行业很感兴趣,但接触到的资料要么过于理论化,要么过于碎片化,始终找不到一个系统性的学习路径。当我翻开这套书的第一页,就被它严谨的逻辑和清晰的结构吸引住了。书中对每一个制造环节都进行了详尽的讲解,无论是光刻、刻蚀、薄膜沉积,还是掺杂、清洗等关键工艺,都配有大量的图示和实例,让我这个非专业人士也能大致理解其中的奥妙。特别是它对于不同工艺流程的对比分析,让我对不同芯片类型的制造特点有了更深入的认识。而且,书中还穿插了不少行业发展趋势和未来技术的展望,这对于想要在这个领域深入发展的人来说,无疑是宝贵的参考。它不仅仅是一本技术教程,更像是一本行业的百科全书,带领读者一步步揭开芯片制造的神秘面纱。
评分作为一名在半导体行业摸爬滚打了多年的技术人员,我一直都在寻找一本能够系统性梳理和深化我对半导体制造工艺理解的教材。这套《半导体制造技术》可以说是满足了我长久以来的期待。它不像一些文献那样侧重于某一个单一的工艺点,而是从宏观到微观,将整个半导体制造流程有机地串联起来。我尤其欣赏它在讲解各个工艺环节时,不仅仅停留在“是什么”的层面,更深入地探讨了“为什么”以及“如何优化”。书中对于不同材料的选择、工艺参数的设定以及由此带来的性能和良率影响,都有详尽的分析。而且,它还涉及到了当下行业的热点和前沿技术,例如先进光刻技术、新材料的应用等等,这对于我保持技术敏感度和持续学习非常有帮助。这本书的深度和广度都非常适合我这样的专业人士,它不仅巩固了我已有的知识,还为我提供了新的思考方向和解决方案。
评分作为一名电子工程专业的学生,我在寻找一本能够深入理解半导体制造工艺的书籍时,偶然发现了这套《半导体制造技术》。坦白说,初次拿到书的时候,我对“包邮 国外电子与通信教材系列”这个名头并没有太高的期望,毕竟国外教材翻译过来的,有时会有语言障碍或者内容滞后。然而,当我深入阅读后,发现我的担忧完全是多余的。这本书的翻译质量非常高,语言流畅自然,专业术语的运用也恰到好处,丝毫没有生搬硬套的感觉。更重要的是,它对半导体制造的各个环节,从晶圆制备、光刻、刻蚀、薄膜沉积、离子注入,到金属互连和封装测试,都进行了系统而深入的阐述。书中不仅解释了“是什么”,更强调了“为什么”,比如不同材料的选择、不同工艺参数对最终性能的影响等等,这对于我理解工艺背后的物理和化学原理非常有帮助。而且,它还穿插了大量的案例分析和研究前沿,让我看到了理论知识在实际生产中的应用,也为我将来的科研方向提供了很多启发。
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