书名:半导体物理性能手册 第2卷(下)
定价:248.00元
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作者:(日)足立贞夫
出版社:哈尔滨工业大学出版社
出版日期:2014-04-01
ISBN:9787560345178
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.4kg
足立贞夫编著的《半导体物理性能手册(第2卷下 )/Springer手册精选原版系列》介绍了各族半导体、化合物半导体的物理性能,包括: Structural Properties结构特性 Thermal Properties热学性质 Elastic Properties弹性性质 Phonons and Lattice Vibronic Properties 声子与晶格振动性质 Collective Effects and Related Properties集体效应及相关性质 Energy-Band Structure:Energy-Band Gaps 能带结构:能带隙 Energy—Band Structure:Electron and Hole Effective Masses能带结构:电子和空穴的有效质量 Electronic Deformation Potential电子形变势 Electron Affinity and Schottky Barrier Height电子亲和能与肖特基势垒高度 Optical Properties光学性质 Elastooptic,Electrooptic, andNonlinearOptical Properties弹光、电光和非线性光学性质 Carrier Transport Properties载流子输运性质 《半导体物理性能手册(第2卷下)/Springer手册精选原版系列》适用对象包括材料、微电子学、电子科学与技术等专业的本科生和研究生,以及从事半导体研究的专业人员。
Preface
Acknowledgments
Contents of Other Volumes
10 Wurtzite Gallium Nitride (a-GaN)
10.1 Structural Properties
10.1.1 Ionicity
10.1.2 Elemental Isotopic Abundance and Molecular Weight
10.1.3 Crystal Structure and Space Group
10.1.4 Lattice Constant and Its Related Parameters
10.1.5 Structural Phase Transition
10.1.6 Cleavage Plane
10.2 Thermal Properties
10.2.1 Melting Point and Its Related Parameters
10.2.2 Specific Heat
10.2.3 Debye Temperature
10.2.4 Thermal Expansion Coefficient
10.2.5 Thermal Conductivity and Diffusivity
10.3 Elastic Properties
10.3.1 Elastic Constant
10.3.2 Third-Order Elastic Constant
10.3.3 Young's Modulus, Poisson's Ratio, and Similar
10.3.4 Microhardness
10.3.5 Sound Velocity
10.4 Phonons and Lattice Vibronic Properties
10.4.1 Phonon Dispersion Relation
10.4.2 Phonon Frequency
10.4.3 Mode Gruneisen Parameter
10.4.4 Phonon Deformation Potential
10.5 Collective Effects and Related Properties
10.5.1 Piezoelectric Constant
10.5.2 Frohlich Coupling Constant
10.6 Energy-Band Structure: Energy-Band Gaps
10.6.1 Basic Properties
10.6.2 E0-Gap Region
10.6.3 Higher-Lying Direct Gap
10.6.4 Lowest Indirect Gap
10.6.5 Conduction-Valley Energy Separation
10.6.6 Direct-Indirect-Gap Transition Pressure
10.7 Energy-Band Structure: Electron and Hole Effective Masses
10.7.1 Electron Effective Mass: F Valley
10.7.2 Electron Effective Mass: Satellite Valley
10.7.3 Hole Effective Mass
10.8 Electronic Deformation Potential
10.8.1 Intravalley Deformation Potential: F Point
10.8.2 Intravalley Deformation Potential: High-Symmetry Points
10.8.3 Intervalley Deformation Potential
10.9 Electron Affinity and Schottky Barrier Height
10.9.1 Electron Affinity
10.9.2 Schottky Barrier Height
10.10 Optical Properties
10.10.1 Summary of Optical Dispersion Relations
10.10.2 The Reststrahlen Region
10.10.3 At or Near the Fundamental Absorption Edge
10.10.4 The Interband Transition Region
10.10.5 Free-CarrierAbsorption and Related Phenomena
10.11 Elastooptic, Electrooptic, and Nonlinear Optical Properties
10.11.1 Elastooptic Effect
10.11.2 Linear Electrooptic Constant
10.11.3 Quadratic Electrooptic Constant
10.11.4 Franz-Keldysh Effect
10.11.5 Nonlinear Optical Constant
10.12 Carrier Transport Properties
10.12.1 Low-Field Mobility: Electrons
10.12.2 Low-Field Mobility: Holes
10.12.3 High-Field Transport: Electrons
10.12.4 High-Field Transport: Holes
10.12.5 Minority-Carrier Transport: Electrons inp-Type Materials
10.12.6 Minority-Carrier Transport: Holes in n-Type Materials
10.12.7 Impact Ionization Coefficient
11 Cubic Gallium Nitride(b-GaN)
12 Gallium Phosphide(Gap)
13 Gallium Arsenide(GaAs)
14 Gallium Antimonide(GaSb)
15 Indium Nitride(InN)
16 Indium Phosphide(InP)
17 Indium Arsendide(InAs)
18 Indium Antimonide(InSb)
从排版和装帧来看,这绝对是一本“传家宝”级别的专业书籍。纸张的厚度和油墨的质量都非常讲究,这在动辄快速更新换代的科技书籍中难能可贵。我喜欢它那种传统的、略显古朴的学术风格,大量的数学公式和物理符号被清晰、准确地排印出来,即使是手写推导草稿时,也能轻松对照。对于那些需要经常查阅特定参数和边界条件的读者来说,索引部分做得非常细致和人性化,这极大地提升了工具书的使用效率。我记得有一次深夜赶一个报告,需要马上确定某个特定温度下本征载流子浓度的精确计算公式,我直接通过索引找到了对应的章节,几秒钟内就定位到了那个我曾在大学课本里见过,但早已模糊的公式,并且作者还给出了不同温度依赖性的详细修正项,这种即时可用的精确性,是任何电子版资料难以替代的。
评分我是一个偏向应用层面的工程师,平时更多接触的是成品规格书和应用笔记,很少有机会系统地回顾底层物理。这本书的出现,对我来说像是一剂强心针,让我重新审视了自己日常工作中那些“理所当然”的现象背后的真正驱动力。举个例子,书里对高掺杂区载流子散射机制的讨论,我以前只是简单套用经验公式,现在通过阅读,我明白了不同掺杂浓度下,声子散射和杂质散射的相对权重是如何动态变化的。这种深层次的理解,让我能更精准地预估极限性能边界。而且,作者的叙事方式非常老练,他总能在一个看似平淡的物理现象描述之后,紧接着抛出一个极具挑战性的工程问题,然后引导读者一步步利用书中学到的知识去解决它。这本书的结构安排,与其说是一本“手册”,不如说是一套完整的、层层递进的、以解决实际问题为导向的训练体系。对于我们这些天天跟半导体打交道,却又在理论深度上感到焦虑的人来说,简直是救命稻草。
评分坦白说,这本书的阅读体验并不轻松,它更像是一场马拉松,而不是短跑。我个人感觉,这本书的深度已经触及到了该领域前沿研究的门槛。尤其是在涉及新型异质结结构和低维材料的输运特性那一块,内容的前瞻性非常强。我注意到,书中引用了大量近十年的顶级期刊文献,这保证了内容的有效性和时效性。我特别欣赏作者在阐述复杂概念时所展现出的那种冷静的、几乎是冷峻的学术态度。没有花哨的图表渲染,没有刻意的鼓吹,一切都建立在扎实的实验数据和无可辩驳的理论框架之上。我尝试用书中描述的理论模型去解释最近实验中观察到的一个异常电导行为,结果发现,该模型给出的预测值与我的实际测量值吻贴合,那种成就感是任何商业软件模拟都无法比拟的。这本书不是让你快速获得答案的,而是武装你的思维,让你有能力自己去推导出答案。
评分这本书,说实话,我抱着挺大的期望去读的,毕竟涉及到半导体这个领域,内容总归是挺硬核的。刚翻开没多久,我就被那种深入骨髓的理论给镇住了。它不是那种走马观花的科普读物,而是直插核心的工程实践与基础物理的交汇点。我记得尤其清楚的是关于器件结区特性的那几章,作者对载流子输运机制的阐述,简直是教科书级别的严谨。我过去一直对某些特定材料的阈值电压漂移现象感到困惑,这本书里给出的模型分析和实验验证数据,让我茅塞顿开。那种感觉就像是,你一直站在迷雾中摸索,突然有人递给你一张精确到微米级别的地图。它不只是告诉你“是什么”,更重要的是,它用详尽的数学推导告诉你“为什么会这样”。对于需要进行前沿器件设计或者深入理解失效机制的研究人员来说,这本书的价值是难以估量的。它需要的阅读耐心非常高,因为它不会为了迎合初学者而牺牲任何一个细节,每一个公式、每一个参数的选取背后,都有着坚实的物理依据支撑,这才是真正的专业级工具书的魅力所在。
评分我必须承认,对于非专业人士来说,这本书的门槛高到令人望而却步。它仿佛是为那些已经拥有扎实固体物理和量子力学基础的研究生和资深工程师量身定做的。我身边一些对半导体感兴趣的朋友翻了几页就放弃了,因为书中的每一个概念都要求读者具备高度的抽象思维能力。它不像市面上很多畅销书那样,用生动的比喻来解释深奥的原理,它直接把你扔进电场、磁场和能带结构的复杂交互之中,让你亲自去感受物理的张力。这本书的价值在于它的“不妥协性”,它毫不留情地展示了半导体世界的真实复杂面貌。我从中汲取到的最大收获,是那种面对复杂系统时,如何保持清晰的逻辑链条和层层剥茧的分析能力。它教会我的不仅仅是半导体知识,更是一种严谨的、以第一性原理为基础的科学思维方式。
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