书名:PCB电流与信号完整性设计
定价:49.00元
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作者:(美)布鲁克斯,丁扣宝,韩雁
出版社:机械工业出版社
出版日期:2015-06-01
ISBN:9787111499978
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.4kg
本书着重物理概念,避免复杂的数学推导,阐述了基本电路的电流源、电流造成的信号完整性问题,以及如何解决串扰和电磁干扰问题。主要内容包括:温度、PCB传输线、反射、耦合电流、功率分配、趋肤效应、介电损耗和通孔等,并给出了每个常见问题的实用设计方案。本书适合作为电子与通信工程及其相关专业的教材。对于从事集成电路设计、系统设计的工程技术人员来说也是一本很好的参考书。
不得不提的是我正在研读的这本关于电磁兼容性(EMC)与射频(RF)前端集成的书籍。这本书的侧重点似乎完全放在了实战经验的积累上,它没有过多纠缠于麦克斯韦方程组的推导,而是直接进入了“如何避免超标”的实操层面。书中对屏蔽设计、接地拓扑的优化,特别是针对复杂多层板中不同信号层之间的串扰控制,提供了大量“禁忌”和“最佳实践”。作者似乎亲身参与了无数次EMC整改项目,那种“过来人”的经验总结,比教科书上的标准规范更接地气、更管用。例如,它对电源回路的建模与优化,特别是如何通过增加去耦电容的布局精度来压制高频噪声尖峰的描述,简直是教科书级别的范例。对于需要在有限空间内实现高频、高密度信号传输的设计师而言,这本书提供的“战术指导”价值无可估量。
评分我近期接触的这本关于高级嵌入式软件架构设计的资料,给我带来了极大的启发,它完全不同于侧重硬件层面的读物,而是深入探讨了操作系统内核与底层驱动的协同优化。书中花费了大量篇幅讲解实时操作系统(RTOS)的任务调度算法,并对比了FreeRTOS、VxWorks等主流RTOS在延迟敏感应用中的性能差异,这种对比分析非常具有说服力。作者在阐述中断处理流程和上下文切换开销时,使用了大量的汇编级伪代码和时序图,使得原本抽象的概念变得可视化。更值得称赞的是,它还讨论了如何使用硬件加速器(如DMA、特定协处理器)来卸载CPU的负担,从而提升整体系统的响应速度和实时性。这本书对于那些不仅要设计硬件电路,还要为其编写高效固件的“全栈”电子工程师来说,无疑是一本提升功力的必备读物。
评分我最近翻阅的这本关于电子系统可靠性的书籍,其视角非常独特,聚焦于长期运行中的环境因素对元器件寿命的影响。作者在描述应力分析时,没有采用过于晦涩的数学公式堆砌,而是巧妙地引入了统计学方法,特别是蒙特卡洛模拟在评估MTBF(平均故障间隔时间)中的应用,讲解得清晰透彻。书中对严苛环境,比如高湿度、高振动和温度循环下的电路板失效模式进行了分类讨论,每一种模式都配有详细的失效案例分析,这让我对如何设计出更具鲁棒性的产品有了全新的认识。特别让我赞赏的是,它提到了“加速寿命测试”的设计规范和数据解读方法,这在很多同类书籍中往往被一带而过。对于从事航空航天、汽车电子等对可靠性要求极高的行业的设计师来说,这本书提供的知识体系,无疑是一座坚实的桥梁,连接了理论预测与实际表现之间的鸿沟。
评分这本电子工程领域的著作,着实让我眼前一亮,特别是它对特定技术领域的深入剖析,令人印象深刻。书中对高级封装技术和超高速电路板设计中的热管理策略进行了详尽的阐述,从材料科学层面探讨了如何优化散热路径,以及不同冷却方案在实际应用中的效能对比。作者似乎对微处理器和FPGA的功耗特性有着深刻的理解,通过大量工程实例展示了如何通过优化布局和布线,将热点温度控制在安全阈值之内,这对于设计高密度、高性能的嵌入式系统无疑是极具价值的参考。此外,书中关于非线性器件建模的部分也极为细致,它不仅仅停留在理论层面,而是结合业界常用的仿真工具,演示了如何准确预测器件在高频工作下的寄生效应,为读者提供了一套实用的建模与验证流程。整体来看,本书的深度和广度都达到了专业级别,非常适合有一定基础,希望在特定领域深耕的工程师。
评分最近研读的这本关于半导体器件物理与制造工艺的深度解析,简直是一次对微观世界的奇妙旅行。它详尽地介绍了先进逻辑工艺节点(如7nm及以下)中关键步骤的物理原理和工程挑战,比如极紫外光刻(EUV)中掩模误差对线宽的影响,以及FinFET结构中栅极控制能力的提升机制。作者对载流子输运、薄膜沉积和刻蚀过程的描述,细致入微,让我理解了为什么芯片的性能会随着制程的演进而发生根本性的变化。书中还涉及了先进封装技术中TSV(硅通孔)的集成难点和可靠性问题,特别是对三维集成电路中热膨胀失配的处理方案,提供了独到的见解。这本书的专业性和前沿性非常高,它不是一本入门手册,而更像是一本让资深半导体工程师能够跟上技术前沿步伐的深度报告集。
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