基本信息
书名:电子元器件的检测与选用
定价:38元
作者:李钟灵,刘南平
出版社:科学出版社
出版日期:2009-01-01
ISBN:9787030229441
字数:436000
页码:346
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.499kg
编辑推荐
内容全面,通俗易懂,图文并茂,实践性强。
内容提要
本书以常用的电子元器件为核心,介绍它们的基础知识、工作原理、性能特点、识别、检测与选用的方法。全书共13章,内容包括:电阻器的检测与选用;电容器的检测与选用;电感器的检测与选用;变压器的检测与选用;二极管的检测与选用;三极管的检测与选用;场效应管的检测与选用;晶闸管的检测与选用;石英晶体与滤波器的检测与选用;继电器、开关的检测与选用;电声器件的检测与选用;集成电路的检测与选用;传感器的检测与选用。
全书内容全面、讲述透彻,实用性强,配有大量的元器件实物图,大大提高了本书的参考阅读价值。本书可供广大电子初学者、电子爱好者、电子工程技术人员、维修人员学习、参考阅读。
目录
作者介绍
文摘
序言
这本书的排版和图文质量也值得称赞,这对于一本技术参考书来说非常重要。清晰的图例和规范的标注,让我在查阅特定内容时,能够迅速定位到所需信息,极大地节省了时间。我特别喜欢它在讨论“老化效应”时所采用的对比分析法。它不仅展示了新元件的理想参数,还配有经过长期使用或故意加速老化测试后的元件的参数漂移情况,用直观的曲线图展示了时间对元器件性能的侵蚀。这种对“时间维度”的考量,是教科书中常常忽略的一环。此外,书中对一些定制化或小众元器件的选用也给予了足够的篇幅,比如光耦(Optocoupler)的选择标准,不仅考虑了隔离电压,还细致地分析了电流传输比(CTR)随温度和时间的衰减,这对于需要进行光电隔离设计的工程师来说,提供了非常具体的指导。总而言之,这本著作的价值在于它的全面性、实用性和前瞻性,它不仅仅是一本“教你怎么做”的书,更是一本“让你思考为什么”的书,是值得反复翻阅的案头必备良品。
评分说实话,我对技术书籍一直抱有一种敬而远之的态度,总觉得那些动辄上千页、公式密布的著作是给学术大牛准备的。但《电子元器件的检测与选用》完全颠覆了我的看法。它的优秀之处在于,它成功地在“理论深度”和“工程实用性”之间架起了一座坚固的桥梁。书中对于不同类型元器件的“选用”部分,简直是精妙绝伦。它没有简单地说“这个用10kΩ的电阻”,而是深入探讨了为什么在这个特定应用场景下,你需要考虑该电阻的功率耗散、温度系数,甚至是封装形式对散热的影响。例如,在讲解MLCC(多层陶瓷电容器)时,作者不仅区分了C0G、X7R、Y5V等不同介质的特性,还非常细致地分析了它们在滤波、耦合电路中选择的权衡利弊。这种对细节的关注,使得读者在设计和选型时,能够真正理解“为什么”要这么选,而不是盲目照搬参数表。对我来说,这本书最大的价值在于,它培养了一种系统性的工程思维,让我明白元器件的选择从来都不是孤立的,而是受制于整个系统的环境和性能要求,这种层次感和逻辑性,是其他仅侧重于“如何测”的书籍所不具备的。
评分我对这本著作的评价是:这是一本具有极高工具价值和参考性的手册型读物,但它的价值远超一般工具书的范畴。我最欣赏的是其中关于“可靠性”和“失效分析”的章节。在现代电子产品设计中,元器件的寿命和稳定性是决定产品成败的关键因素。书中对电解电容的寿命预测模型进行了清晰的阐述,包括工作温度、纹波电流与寿命之间的非线性关系,这对于设计需要长期稳定运行的工控设备至关重要。此外,书中关于元器件的“兼容性”和“替代性”的讨论也非常到位。在供应链紧张的当下,寻找合适的替代品是常态,但如何保证替代后性能不下降甚至有所提升,是个大学问。作者提供了详细的参数对比表格和替换原则,比如在更换运放时,如何关注其失调电压、共模抑制比和摆率(Slew Rate)等关键指标。这些内容,是只有长期在生产一线摸爬滚打的专家才能总结出来的宝贵经验,用平实的语言凝练在了书页之中,对于工程技术人员来说,简直是提升工作效率的利器。
评分这本《电子元器件的检测与选用》真是为我们这些初入电子工程领域的新人量身定做的宝典啊!我前段时间刚接手一个复杂的电路维护项目,面对那一堆密密麻麻、型号各异的元件,真是感到无从下手。尤其是那些贴片电阻和电容,肉眼根本无法区分它们的具体参数。这本书的结构设计得极其巧妙,它并没有一开始就堆砌复杂的理论公式,而是从最基础的元器件实物图谱入手,配有大量的彩色高清图片,让你一眼就能对常见的电阻、电容、电感、晶体管乃至一些集成电路有一个直观的认识。我尤其喜欢它在“故障排查与快速识别”那一章的讲解方式。作者没有采用枯燥的故障代码罗列,而是通过实际案例分析,告诉你当某个元器件失效时,电路板上通常会出现哪些肉眼可见的异常现象,比如电容鼓包、电阻焦黑,然后循序渐进地教你如何使用万用表、示波器等基础工具进行快速的“摸诊”。这对于我这种实操经验不足的新手来说,简直是雪中送炭,让我信心大增,能更快地定位问题核心,而不是在海量的可能性中迷失方向。这本书的语言风格非常亲切,就像一位经验丰富的老工程师手把手在教你一样,不故作高深,全是干货和实用的操作技巧。
评分初读此书,我原本以为它会聚焦于复杂的半导体器件,比如MOSFET的导通电阻和阈值电压的精确测量方法。然而,这本书的覆盖面广度和深度令我惊喜。它对那些看似简单的无源元件,如电位器、保险丝、乃至连接器的电气特性描述得丝丝入扣。比如,书中详细解析了不同类型的继电器触点材料对切换寿命和接触电阻的影响,这对于设计大功率开关电路的工程师来说,是规避长期可靠性风险的必备知识。再者,它的“检测方法”部分并非千篇一律地介绍万用表的使用,而是针对不同元器件的特性,推荐了最合适的测试手段。例如,对于高频电感元件,它引入了LCR测试仪的阻抗分析概念,并解释了Q值(品质因数)的实际意义,而不是仅仅停留在测量电感量L。这种分门别类的、针对性极强的测试策略,极大地拓宽了我对元器件参数测量的认知边界,使我不再局限于最基础的直流电阻测量,而是能够更深入地理解元器件在实际工作状态下的电气行为。
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